一种用于制作集成LED和HEMT的外延结构的制作方法技术

技术编号:42365101 阅读:22 留言:0更新日期:2024-08-16 14:47
本申请公开一种用于制作集成LED和HEMT的外延结构的制作方法,所述方法包括如下步骤:生长LED外延结构;刻蚀截止层;生长HEMT外延结构;制备HEMT电极;制备LED区域台面,制备所述LED器件的P面电极与N面电极,电连接HEMT与LED。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及led/hemt制造的,具体地涉及一种用于制作gaas衬底集成led和hemt的外延结构的制作方法。


技术介绍

1、led即发光二极管,是一种半导体固体发光器件,它是利用ingan/gan mqw量子阱作为发光源,在正向偏置电压下发生量子阱中的载流子复合,释放出能量并发射光子,直接发出红、黄、蓝、绿、青、橙、紫色的光。目前白光led则主要是在蓝光led上覆盖一层淡黄色萤光粉涂层制成的。由于半导体发光二极管led具有发光效率高、长寿命、绿色环保、开关速度快等优点,作为新一代的绿色照明光源,被广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源和城市景观照明等领域。

2、hemt是异质结两侧半导体材料禁带宽度不同,费米能级不同,导致电子从宽禁带向窄禁带转移,直到费米能级相同为止。从而在宽禁带一侧富余空穴,窄禁带一侧富余电子,富余的空穴和电子在异质结界面产生的内建电场引起能带弯曲,产生三角形势阱,势阱内聚集二维电子气。两种材料禁带宽度差别越大,内建电场越强,产生的三角形势阱越深,二维电子气浓度就越高。对于耗尽型hemt,栅极不加电压时就有足够的二维电子气本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于制作集成LED和HEMT的外延结构的制作方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

2.一种用于制作集成LED和HEMT的外延结构的制作方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述HEMT外延层结构从下至上包括:砷化镓或砷化铝镓衬底层、缓冲层、未掺杂的宽禁带隔离层、高掺杂的宽禁带层以及高掺杂盖层。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述LED器件结构从下至上包括:砷化镓衬底层、缓冲层、n型DBR、n+型下限制层、有源层、p+型上限制层、p型窗口层。

5.根据权利要求3所述...

【技术特征摘要】

1.一种用于制作集成led和hemt的外延结构的制作方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

2.一种用于制作集成led和hemt的外延结构的制作方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述hemt外延层结构从下至上包括:砷化镓或砷化铝镓衬底层、缓冲层、未掺杂的宽禁带隔离层、高掺杂的宽禁带层以及高掺杂盖层。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述led器件结构从下至上包括:砷化镓衬底层、缓冲层、n型dbr、n+型下限制层、有源层、p+型上限制层、p型窗口层。

5.根据权利要求3所述方法,其特征在于,所述砷化镓衬底层为半绝缘,所述缓冲层厚度为1μm;所述未掺杂的宽禁带隔离层厚度为16nm;所述高掺杂的宽禁带层厚度为55nm,所述高掺杂盖层厚度为5nm。<...

【专利技术属性】
技术研发人员:雷述宇
申请(专利权)人:宁波飞芯电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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