一种LED芯片光斑照度测试装置制造方法及图纸

技术编号:38563080 阅读:16 留言:0更新日期:2023-08-22 21:02
本实用新型专利技术涉及LED芯片技术领域,具体涉及一种LED芯片光斑照度测试装置;所述工作平台上表面设有横向轨和纵向轨;所述灯珠支架滑动连接横向轨;所述电动车移动设置于纵向轨,所述照度计设置在电动车上;所述灯珠支架朝向照度计的一侧的侧壁上设有多个放置槽。本实用新型专利技术的有益效果在于:使用本实用新型专利技术提供的LED芯片光斑照度测试装置,使多个LED芯片能同时进行照度测试;调节LED芯片到照度计的距离方便,提高LED芯片照度测试的效率。提高LED芯片照度测试的效率。提高LED芯片照度测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种LED芯片光斑照度测试装置


[0001]本技术涉及LED芯片
,具体涉及一种LED芯片光斑照度测试装置。

技术介绍

[0002]LED(Light Emitting Diode)即发光二极管,是一种电能转化为光能的固态半导体器件。作为新型的发光器件,LED具有高光效、节能、使用寿命长、响应时间短、环保等优点,因此被称为最有潜力的新一代光源,在照明领域应用领域极为常见。对于应用领域高的LED芯片,如车灯LED芯片,则LED芯片封装成灯珠后需要测试3

5米处的光斑照度值。但在现有技术中,缺少适用于LED芯片的光斑照度值测量的装置。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是:提供一种LED芯片光斑照度测试装置。
[0004]为了解决上述技术问题,本技术采用的一种技术方案为:一种LED芯片光斑照度测试装置,包括工作平台、灯珠支架、电动车和照度计;
[0005]所述工作平台上表面设有横向轨和纵向轨;所述灯珠支架滑动连接横向轨;所述电动车移动设置于纵向轨,所述照度计设置在电动车上;
[0006]所述灯珠支架朝向照度计的一侧的侧壁上设有多个放置槽,多个所述放置槽沿横向轨的长度方向均匀设置;所述灯珠支架上设有电源引脚。
[0007]进一步地,所述电动车上设有横向导轨和竖直导轨;所述横向导轨的长度方向与横向轨的长度方向平行;所述竖直导轨滑动连接于横向导轨,所述竖直导轨的长度方向竖直,所述照度计滑动连接于竖直导轨。
[0008]进一步地,还包括滑块和螺栓,所述灯珠支架通过滑块滑动连接于横向轨,所述螺栓贯穿灯珠支架螺纹连接滑块。
[0009]进一步地,还包括滑块和丝杆;所述灯珠支架通过滑块滑动连接于横向轨;所述丝杆沿横向轨的长度方向贯穿滑块,所述丝杆自转连接于横向轨。
[0010]进一步地,所述丝杆的一端延伸出横向轨并连接有把手。
[0011]进一步地,所述纵向轨一侧的工作平台上设有长度标尺。
[0012]本技术的有益效果在于:本技术提供的LED芯片光斑照度测试装置中,LED芯片分别在灯珠支架的一个放置槽中;所述灯珠支架的电源引脚方便灯珠支架同时对多个LED芯片通电,所述灯珠支架滑动连接于横向轨,工作人员移动灯珠支架后使所有LED芯片都正对过照度计,以此完成一次照度测试。
[0013]所述照度计设置在电动车上,每次照度测试后,所述电动车在纵向轨上移动而调节照度计到灯珠支架的距离,使每个LED芯片都能在离照度计不同距离进行照度的测试。
[0014]故使用本技术提供的LED芯片光斑照度测试装置,使多个LED芯片能同时进行照度测试;调节LED芯片到照度计的距离方便,提高LED芯片照度测试的效率。
附图说明
[0015]图1为本技术具体实施方式的一种LED芯片光斑照度测试装置的整体结构示意图;
[0016]图2为本技术具体实施方式的一种LED芯片光斑照度测试装置的整体结构示意图;
[0017]标号说明:
[0018]1、工作平台;11、横向轨;12、纵向轨;
[0019]2、灯珠支架;21、电源引脚;
[0020]3、电动车;31、横向导轨;32、竖直导轨;
[0021]4、照度计;5、滑块;6、丝杆。
具体实施方式
[0022]为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0023]请参照图1

2,一种LED芯片光斑照度测试装置,包括工作平台1、灯珠支架2、电动车3和照度计4;
[0024]所述工作平台1上表面设有横向轨11和纵向轨12;所述灯珠支架2滑动连接横向轨11;所述电动车3移动设置于纵向轨12,所述照度计4设置在电动车3上;
[0025]所述灯珠支架2朝向照度计4的一侧的侧壁上设有多个放置槽,多个所述放置槽沿横向轨11的长度方向均匀设置;所述灯珠支架2上设有电源引脚21。
[0026]由上描述可知,本技术的有益效果在于:本技术提供的LED芯片光斑照度测试装置中,LED芯片分别在灯珠支架2的一个放置槽中;所述灯珠支架2的电源引脚21方便灯珠支架2同时对多个LED芯片通电,所述灯珠支架2滑动连接于横向轨11,工作人员移动灯珠支架2后使所有LED芯片都正对过照度计4,以此完成一次照度测试。
[0027]所述照度计4设置在电动车3上,每次照度测试后,所述电动车3在纵向轨12上移动而调节照度计4到灯珠支架2的距离,使每个LED芯片都能在离照度计4不同距离进行照度的测试。
[0028]故使用本技术提供的LED芯片光斑照度测试装置,使多个LED芯片能同时进行照度测试;调节LED芯片到照度计4的距离方便,提高LED芯片照度测试的效率。
[0029]进一步地,所述电动车3上设有横向导轨31和竖直导轨32;所述横向导轨31的长度方向与横向轨11的长度方向平行;所述竖直导轨32滑动连接于横向导轨31,所述竖直导轨32的长度方向竖直,所述照度计4滑动连接于竖直导轨32。
[0030]由上描述可知,所述照度计4也可以相当于电动车3移动,所述照度计4在竖直面内移动,因为为了提高LED芯片的照度测试的准确性、全面性,需要对LED芯片形成的光斑上的5个点进行测试,可以认为LED芯片的光斑为立设的圆形,照度计4需要移动到该圆的圆心进行一次测试,以及移动到圆心上方、下方、左方、右方分别进行一次测试。
[0031]进一步地,还包括滑块5和螺栓,所述灯珠支架2通过滑块5滑动连接于横向轨11,所述螺栓贯穿灯珠支架2螺纹连接滑块5。
[0032]由上描述可知,为了保护灯珠支架2,设置滑块5代替灯珠支架2滑动连接横向轨
11,上述设置提供一种灯珠支架2可拆卸连接滑块5的结构,方便更换灯珠支架2。
[0033]进一步地,还包括滑块5和丝杆6;所述灯珠支架2通过滑块5滑动连接于横向轨11;所述丝杆6沿横向轨11的长度方向贯穿滑块5,所述丝杆6自转连接于横向轨11。
[0034]由上描述可知,为了保护灯珠支架2,设置滑块5代替灯珠支架2滑动连接横向轨11,工作人员旋转丝杆6使滑块5在横向轨11上滑动。
[0035]进一步地,所述丝杆6的一端延伸出横向轨11并连接有把手。
[0036]由上描述可知,所述把手方便工作人员旋转丝杆6。
[0037]进一步地,所述纵向轨12一侧的工作平台1上设有长度标尺。
[0038]由上描述可知,工作人员可以通过长度标尺和电动车3,来监督电动车3是否移动到规定位置。
[0039]本技术提供的LED芯片光斑照度测试装置的应用背景为:当LED芯片需要进行照度测试时。
[0040]实施例一
[0041]请参照图1

2,一种LED芯片光斑照度测试装置,包括工作平台1、灯珠支架2、电动车本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED芯片光斑照度测试装置,其特征在于,包括工作平台、灯珠支架、电动车和照度计;所述工作平台上表面设有横向轨和纵向轨;所述灯珠支架滑动连接横向轨;所述电动车移动设置于纵向轨,所述照度计设置在电动车上;所述灯珠支架朝向照度计的一侧的侧壁上设有多个放置槽,多个所述放置槽沿横向轨的长度方向均匀设置;所述灯珠支架上设有电源引脚。2.根据权利要求1所述的LED芯片光斑照度测试装置,其特征在于,所述电动车上设有横向导轨和竖直导轨;所述横向导轨的长度方向与横向轨的长度方向平行;所述竖直导轨滑动连接于横向导轨,所述竖直导轨的长度方向竖直,所述照度计滑动连接于竖直导...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄章挺郑高林黄自培张峰
申请(专利权)人:福建兆元光电有限公司
类型:新型
国别省市:

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