一种五轴光学检测系统技术方案

技术编号:38555613 阅读:20 留言:0更新日期:2023-08-22 20:59
本实用新型专利技术公开了一种五轴光学检测系统,包括检测平台与固定安装于检测平台上的光学检测器,所述检测平台包含有支架,所述检测平台的顶部安装有三维立体活动机构,所述三维立体活动机构上活动安装有连接支柱,所述连接支柱的顶部转动连接有检测平板,所述连接支柱的底部固定安装有第一伺服减速电机,所述第一伺服减速电机的输出轴通过联轴器固定连接有连接杆。该实用新型专利技术,结构新颖,且结构简单,制造方便,能够降低五轴光学检测系统的使用成本与难度,将调节机构统合在用于安装检测件的平台上,能够避免或降低对光学检测器的矫正次数,提高五轴光学检测系统的检测效率。提高五轴光学检测系统的检测效率。提高五轴光学检测系统的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种五轴光学检测系统


[0001]本技术涉及光学检测
,更具体地说,涉及一种五轴光学检测系统。

技术介绍

[0002]光学检测,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备,AOI是新兴起的一种新型测试技术,但发展迅速,很多厂家都推出了AOI测试设备。当自动检测时,机器通过摄像头自动扫描PCB,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出PCB上缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来,供维修人员修整。
[0003]五轴光学检测系统是在光学检测的原理上给予光学检测仪器更多的检测视角与范围,从而提高检测的全面性与精准性。
[0004]但是现有的五轴调节方式大多是让光学检测仪器与待检测件均具备调节功能,从而满足五轴调节的功能,这就需要在检测时,对光学仪器进行矫正调节,影响光学检测效率。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的问题,本技术的目的在于提供一种五轴光学检测系统。
[0006]为解决上述问题,本技术采用如下的技术方案。/>[0007]一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种五轴光学检测系统,包括检测平台(1)与固定安装于检测平台(1)上的光学检测器(2),其特征在于:所述检测平台(1)包含有支架(11),所述检测平台(1)的顶部安装有三维立体活动机构(12),所述三维立体活动机构(12)上活动安装有连接支柱(13),所述连接支柱(13)的顶部转动连接有检测平板(14),所述连接支柱(13)的底部固定安装有第一伺服减速电机(15),所述第一伺服减速电机(15)的输出轴通过联轴器固定连接有连接杆(16),所述连接杆(16)穿插于连接支柱(13)的内部,且连接支柱(13)的顶端与检测平板(14)固定连接,所述三维立体活动机构(12)上安装有两个第一电动导轨(17),两个所述第一电动导轨(17)之间安装有调节架(18),所述连接支柱(13)的底部贯穿并延伸至调节架(18)的底部,所述调节架(18)上固定安装有电动推杆(19),所述电动推杆(19)的输出端与连接支柱(13)活动连接。2.根据权利要求1所述的一种五轴光学检测系统,其特征在于:所述三维立体活动机构(12)包含有两个平行固定安装于支架(11)顶部的第二电动导轨(121),两个所述第二电动导轨(121)上均安装有两个液压杆(122),所述支架(11)的顶部设置有支撑框架(123),所...

【专利技术属性】
技术研发人员:周卫立李建奎
申请(专利权)人:苏州芯艾蓝光电材料有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1