当前位置: 首页 > 专利查询>山东大学专利>正文

单张图像去反光方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:38544241 阅读:7 留言:0更新日期:2023-08-22 20:54
本申请提供一种单张图像去反光方法、装置、设备及存储介质,涉及图像处理技术领域,单张图像去反光方法包括:获取用户预设的初始的透射图像及各参数;基于所述透射图像的暗通道图的固有特征对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型;基于所述去反光模型和各所述参数进行迭代计算以得到最终的去反光图像。通过采用本申请提出的基于暗通道的单张图像去反光方法,能够仅采用单张图像就达到有效去除反光的效果,且不需要额外的设备,应用范围更广泛,操作更简便。操作更简便。操作更简便。

【技术实现步骤摘要】
单张图像去反光方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及图像处理
,尤其涉及一种单张图像去反光方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在图像的拍摄中,因为光源及被摄物的材质问题,经常会出现图像中存在反光的情况,这对于后续的图像处理会造成一定的影响。
[0003]现有的图像去反光技术通常分为单张图像去反光技术和多张图像去反光技术。对于单张图像去反光任务来说,包括反光的图像中的反光图像和噪声干扰均是未知的,只有包括反光的图像是已知的,因此,单张图像去反光问题是一个不适定问题。现有的单张图像去反光技术利用包含反光的图像、透射和图形和反光图像的先验信息和添加对各图像的约束以解决此不适定问题。但是,这些先验信息并不能够全方面描述图像的固有特征,因此,不能够有效解决去反光问题。而多张图像去反光技术需要拍摄不同角度的两张或多张图像,利用图像间的运动信息或者设备信息去除反光,此类技术通常需要特殊的拍摄设备或者额外的图像,限制了其在实际生活和生产中的应用。
[0004]因此,现有的去反光技术难以同时实现操作简便和去反光效果良好的目的。

技术实现思路

[0005]本申请的主要目的在于提供一种单张图像去反光方法、装置、设备及存储介质,旨在解决现有的图像去反光技术效果不好或是技术限制多的技术问题。
[0006]为实现上述目的,本申请提供一种单张图像去反光方法,所述单张图像去反光方法包括:
[0007]获取用户预设的初始的透射图像及各参数;
[0008]基于所述透射图像的暗通道图的固有特征对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型;
[0009]基于所述去反光模型和各所述参数进行迭代计算以得到最终的去反光图像。
[0010]可选地,在一些可行的实施例中,各所述参数包括:迭代次数和最大次数,所述获取用户预设的初始的透射图像及各参数的步骤,包括:
[0011]获取初始的透射图像,其中,所述初始的透射图像为用户输入的包含反光的图像;
[0012]获取用户预设的所述迭代次数和所述最大次数的初始值。
[0013]可选地,在一些可行的实施例中,在所述获取用户预设的初始的透射图像及各参数的步骤之后,所述方法还包括:
[0014]基于所述透射图像的图像块中各图像通道的最小值,计算获得所述透射图像的暗通道图像。
[0015]可选地,在一些可行的实施例中,在所述获取用户预设的初始的透射图像及各参数的步骤之后,所述方法还包括:
[0016]针对所述透射图像的暗通道图用反射图像进行引导滤波,以得到滤波结果;
[0017]基于所述滤波结果计算获得所述透射图像的映射图像。
[0018]可选地,在一些可行的实施例中,所述基于所述透射图像的暗通道图的固有特征对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型的步骤,包括:
[0019]基于所述透射图像的暗通道图像的固有特征和所述映射图像,对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型。
[0020]可选地,在一些可行的实施例中,所述基于所述去反光模型和各所述参数进行迭代计算以得到最终的去反光图像的步骤,包括:
[0021]若所述迭代次数不大于所述最大次数,则基于所述图像模型计算得到新的透射图像,并更新所述迭代次数;
[0022]直到所述迭代次数大于所述最大次数时,停止迭代计算并确认当前计算得到的所述新的透射图像为最终的去反光图像。
[0023]可选地,在一些可行的实施例中,在所述获取用户预设的初始的透射图像及各参数的步骤之后,所述方法还包括:
[0024]若所述迭代次数大于所述最大次数,则确认当前的透射图像为所述去反光图像。
[0025]此外,为实现上述目的,本申请还提供一种单张图像去反光装置,所述单张图像去反光装置为虚拟装置,所述单张图像去反光装置包括:
[0026]初始化模块,用于获取用户预设的初始的透射图像及各参数;
[0027]建模模块,用于基于所述透射图像的暗通道图的固有特征对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型;
[0028]计算模块,用于基于所述去反光模型和各所述参数进行迭代计算以得到最终的去反光图像。
[0029]此外,为实现上述目的,本申请还提供一种单张图像去反光设备,所述单张图像去反光设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的单张图像去反光程序,所述单张图像去反光程序被所述处理器执行时实现如上述的单张图像去反光方法的步骤。
[0030]本申请还提供一种存储介质,所述存储介质上存储有单张图像去反光程序,所述单张图像去反光程序被处理器执行时实现如上述的单张图像去反光方法的步骤。
[0031]本申请提供一种单张图像去反光方法、装置、设备及存储介质,单张图像去反光方法包括:获取用户预设的初始的透射图像及各参数;基于所述透射图像的暗通道图的固有特征对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型;基于所述去反光模型和各所述参数进行迭代计算以得到最终的去反光图像。
[0032]相比于现有的基于单张图像或多张图像去反光的技术手段,本申请单张图像去反光方法在用户输入包括反光的图像并设置参数后,获取用户预设的初始的透射图像及各参数,然后基于所述透射图像的暗通道图的固有特征对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型,再基于所述去反光模型和各所述参数进行迭代计算以得到最终的去反光图像。
[0033]如此,本申请基于上述基于反光图像暗通道进行迭代计算以得到去反光图像的方法,与现有采用单张图像去反光中假设反光为弱反光的方式相比,本申请单张图像去反光方法以包含反光的图像的暗通道图的固有特征作为先验信息建立去反光模型,再基于该去
反光模型迭代计算透射图像,使透射图像的暗通道图逐渐逼近不包含反光的图像的暗通道图,由此得出的透射图像不局限于弱反光的假设,可以去除图像中强反光,提高反光去除的效果;并且与现有采用多张图像去反光的方式相比,本申请单张图像去反光方法不需要采用额外的图像和特殊的拍摄设备,应用范围更广泛,操作更简便。
附图说明
[0034]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本申请的实施例,并与说明书一起用于解释本申请的原理。
[0035]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域默认技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1为本申请实施例方案涉及的设备硬件运行环境的单张图像去反光设备结构示意图;
[0037]图2为本申请单张图像去反光方法第一实施例的流程示意图;
[0038]图3为本申请单张图像去反光方法第二实施例的流程示意图;
[0039]图4为本申请单张图像去反光装置的功能模块示意图。
[0040]本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单张图像去反光方法,其特征在于,所述单张图像去反光方法包括:获取用户预设的初始的透射图像及各参数;基于所述透射图像的暗通道图的固有特征对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型;基于所述去反光模型和各所述参数进行迭代计算以得到最终的去反光图像。2.根据权利要求1所述的单张图像去反光方法,其特征在于,各所述参数包括:迭代次数和最大次数,所述获取用户预设的初始的透射图像及各参数的步骤,包括:获取初始的透射图像,其中,所述初始的透射图像为用户输入的包含反光的图像;获取用户预设的所述迭代次数和所述最大次数的初始值。3.根据权利要求2所述的单张图像去反光方法,其特征在于,在所述获取用户预设的初始的透射图像及各参数的步骤之后,所述方法还包括:基于所述透射图像的图像块中各图像通道的最小值,计算获得所述透射图像的暗通道图像。4.根据权利要求3所述的单张图像去反光方法,其特征在于,在所述获取用户预设的初始的透射图像及各参数的步骤之后,所述方法还包括:针对所述透射图像进行引导滤波,以得到滤波结果;基于所述滤波结果计算获得所述透射图像的映射图像。5.根据权利要求4所述的单张图像去反光方法,其特征在于,所述基于所述透射图像的暗通道图的固有特征对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型的步骤,包括:基于所述透射图像的暗通道图像的固有特征和所述映射图像,对所述透射图像建立模型,以得到去反光模型。6.根据权利要求5所述的单张图像去反光方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:张欣欣刘其方宫永顺尹义龙
申请(专利权)人:山东大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1