【技术实现步骤摘要】
一种整机级电子产品加速贮存寿命验证方案设计方法
[0001]本专利技术涉及电子产品加速寿命验证方案设计领域。更具体地，涉及一种整机级电子产品加速贮存寿命验证方案设计方法。
技术介绍
[0002]通常情况下，装备中电子产品具有“长期贮存，一次使用”的特点。产品贮存寿命寿命是指在规定的条件贮存时能够满足规定质量要求的时间长度。在电子产品的全寿命周期中，贮存是其日常最常处于的状态，占据全寿命周期的最长时间。在复杂的贮存环境影响下可能造成电子产品的功能退化、性能退化和可靠性降低等问题。因此，有必要开展电子产品贮存寿命验证，保证电子产品贮存可靠性。然而自然条件下的贮存寿命验证试验往往由于试验时间过长，试验成本过高等问题无法直接开展。
[0003]基于此，本专利技术提出一种整机级电子产品加速贮存寿命试验验证方案设计方法。基于竞争失效模型，利用器件级产品加速试验数据，评估整机级电子产品加速因子分散性及其置信下限，进而设计加速贮存寿命验证方案。
技术实现思路
[0004]本专利技术的一个目的在于提供一种整机级电子产品...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种整机级电子产品加速贮存寿命验证方案设计方法，其特征在于，该方法包括：设置1：整机级电子产品中器件级产品的失效相互独立，寿命服从相同分布，且器件之间为串联系统；设置2：整机级电子产品中的各器件贮存寿命t服从指数分布和威布尔分布中的一种，各分布的累积失效函数分别为：指数分布：F(t)＝1
‑
exp(
‑
λt)威布尔分布：其中，λ为指数分布的失效率，η和m分别为威布尔分布的尺度参数和形状参数；该方法进一步通过如下步骤实现：将器件级电子产品加速退化试验数据转化为伪寿命数据，使用整体极大似然估计方法对产品寿命分布模型和加速模型参数进行估计；根据参数估计结果，计算器件级产品加速因子及其分散性；根据所述器件级产品加速因子和分散性，计算整机级电子产品加速因子及分散性；根据已知的整机级电子产品加速贮存验证试验样本个数和对应可靠度下需要验证的贮存寿命，设计加速贮存寿命验证方案。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将器件级电子产品加速退化试验数据转化为伪寿命数据，包括通过线性模型拟合器件性能退化曲线，所述拟合采用最小二乘算法，设试验时间x为自变量，退化量y为因变量，Y与X具有线性相关关系，Y＝φ0+φ1X，φ1和φ2分别为第一参数和第二参数；已知试验数据x＝(x1，x2，
…
，x
l
)，y＝(y1，y2，
…
，y
l
)，其中l为试验数据个数，则参数估计值：计值：式中根据器件失效阈值d，得到伪寿命3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用整体极大似然估计方法对器件级产品寿命分布和加速模型进行参数估计包括假设Ψ为加速寿命试验模型待估参数向量；加速寿命试验中应力水平组数为k，每组试验包含n
i
个样本，加速寿命试验数据为完全数据、定数截尾和定时截尾中的任一种，则对数似然函数ln L(Ψ)表示为：
完全数据：定数截尾数据：定时截尾数据：其中，t
i，j
为第i组应力组合下第j个样本的失效时间；f(t)为产品寿命的概率密度函数，F(t)为产品寿命的累积失效函数；对于定数截尾数据，r
i
为第i组试验产品失效数；为第r
i
个产品的失效时间；对于定时截尾数据，t0为定时截尾的截尾时间。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据参数估计结果，计算器件级产品加速因子包括将阿伦尼斯模型和逆幂律模型分别作对数变换，转换为线性模型；所述阿伦尼斯模型为其中：夕为寿命参数，A为与产品特性、几何形状和试验方法有关的正常数，E为与材料相关的激活能，k为Boltzmann常数，S
T
为绝对温度；所述逆幂律模型为描述寿命与电应力的关系，其中寿命参数夕与电应力S
v
满足：其中：A和B为常数，S
v
是电压将阿伦尼斯模型和逆幂律模型分别作对数变换，则对应的加速方程转换为线性模型其中：a0和a1为常数，为应力S的已知函数，当S为绝对温度时，当S为电压时，5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述阿伦尼斯模型和逆幂律模型的第一加速因子表示为：假设器件加速模型参数服从正态分布则器件的第一加速因子的均值和方差分别表示为：方差分别表示为：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算整机级电子产品加速因子和分散性包括当整机级电子产品各组成器件的贮存寿命均服从指数分布时，通过竞争失...
【专利技术属性】
技术研发人员：张远朦，葛蒸蒸，李玉伟，马巍，黄硕，
申请(专利权)人：北京电子工程总体研究所，
类型：发明
国别省市：
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