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本发明公开一种整机级电子产品加速贮存寿命验证方案设计方法，该方法进一步通过如下步骤实现：将器件级电子产品加速退化试验数据转化为伪寿命数据，使用整体极大似然估计方法对产品寿命分布模型和加速模型参数进行估计；根据参数估计结果，计算器件级产品加速...
该专利属于北京电子工程总体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京电子工程总体研究所授权不得商用。

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