应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统技术方案

本发明专利技术提供一种应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统，包括：全碳化硅离轴三反光学系统、液氮管路和液氮制冷杜瓦；液氮管路排布在液氮制冷杜瓦的内部，用于为全碳化硅离轴三反光学系统提供低温环境；全碳化硅离轴三反光学系统用于将目标源发出的光束准直为平行光束，并在低温环境下稳定输出平行光束；液氮制冷杜瓦包裹在全碳化硅离轴三反光学系统的光机结构外；液氮制冷杜瓦为三层随形结构，最外层为屏蔽层且包覆有热控隔热多层结构，用于热隔离；最内层为液氮管路，中间层为不锈钢板，不锈钢板的内侧经过黑化处理，以实现快速辐射制冷。本发明专利技术结构简单，拆装方便，能进行快速制冷，具有无色差、光谱波段宽、无中心遮拦的特点。特点。特点。

【技术实现步骤摘要】
应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统


[0001]本专利技术涉及空间光学
，特别涉及一种应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统。

技术介绍

[0002]随着红外探测技术向深空环境的拓展，对红外系统在低温条件下的探测性能测试和评估的需求越来越迫切。为了保证被测系统的工作性能的天地一致性，需要建立一套能够模拟真空低温条件下的测试设备。在地面测试中，主要由目标源和准直光学系统模拟无穷远处的光源，协助完成地面测试工作。此外，低温下，光学系统对于温度的变化非常敏感。准直系统的反射镜及支撑结构受温度影响发生形变：一方面，使光学系统的光学间隔和光轴发生变化；另一方面，反射镜的面型和曲率半径等光学参数发生变化。以上两点都对模拟的平行光造成影响。

技术实现思路

[0003]鉴于上述问题，本专利技术的目的是提出一种应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统。能够在真空低温环境下对红外系统进行测试，结构简单，拆装方便，能有效地在低温真空环境下输出平行光束。
[0004]为实现上述目的，本专利技术采用以下具体技术方案：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统，其特征在于，包括：全碳化硅离轴三反光学系统、液氮管路和液氮制冷杜瓦；所述液氮管路排布在所述液氮制冷杜瓦的内部，用于为所述全碳化硅离轴三反光学系统提供低温环境；所述全碳化硅离轴三反光学系统用于将目标源发出的光束准直为平行光束，并在低温环境下稳定输出平行光束；所述液氮制冷杜瓦包裹在所述全碳化硅离轴三反光学系统的光机结构外；所述液氮制冷杜瓦为三层随形结构，最外层为屏蔽层且包覆有热控隔热多层结构，用于热隔离；最内层为所述液氮管路，中间层为不锈钢板，所述不锈钢板的内侧经过黑化处理，以实现快速辐射制冷。2.根据权利要求1所述的应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统，其特征在于，通过所述液氮制冷杜瓦0
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48h的冷却后，低温环境的温度为130K～100K。3.根据权利要求2所述的应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统，其特征在于，所述全碳化硅离轴三反光学系统包括：主镜、次镜、三镜、连接平台和反射镜支撑；所述连接平台为T型结构，包括T型端和连杆端；所述主镜和三镜分别通过所述反射镜支撑安装在连接平台T型端的两侧，所述次镜通过所述反射镜支撑安装在连接平台的连杆端上。4.根据权利要求3所述的应用于低温环境的全碳化硅离轴三反准直系统，其特征在于，所述全碳化硅离轴三反光学系统还包括球形点支撑，所述球...

【专利技术属性】
技术研发人员：申军立，李文雄，张星祥，刘春龙，金虎，韩康，陆振玉，朱明超，刘佳琪，艾夏，薛莲，周岩，龚晓刚，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：