一种用于测试电性能的探针夹具制造技术

本发明专利技术涉及探针检测技术领域，具体的说是一种用于测试电性能的探针夹具，包括工作台，所述工作台顶部对称固定安装有两个自吸装置，自吸装置相互靠近的一侧安装有可调夹具。夹持时，吸盘下移与工作台接触，增大壳体与工作台的摩擦力，使得壳体不易与工作台产生相对滑动，即探针不易与待检测零件之间产生相对滑动，使得检测更加稳定，也能降低待检测零件被破坏的可能，联动杆复位过程中，带动活塞板复位，进而使得活塞槽内部压强降低，吸盘与工作台之间残留的空气被通过软管、出气口吸入活塞槽内，即降低吸盘与工作台之间的压强，在外部大气压的压力作用下，吸盘与工作台贴合更加牢固，进一步增大壳体与工作台的摩擦力，即增大检测稳定性。检测稳定性。检测稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试电性能的探针夹具


[0001]本专利技术涉及探针检测
，具体的说是一种用于测试电性能的探针夹具。

技术介绍

[0002]探针是进行PCBA测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件，属于PCBA测试治具的一个物件。在PCBA测试环节，一般都会制作专门的测试治具，测试治具会安装有探针用来与PCBA测试点进行接触，最终测试出PCBA的性能参数。PCBA探针表面采用镀金有利于导电增强，一般厂家通常都选择SK4材料，内部有平均寿命较高的高性能弹簧，在经过多次测试之后需要对探针进行清洁，确保探针正确发挥作用。
[0003]车间中，可能会铺设大型、自动化探针检测装置，但是在小型的维修工作室，则会使用小型的测试工具，单人操作，为解放双手，工作人员会使用探针夹具对待检测、维修的零件进行夹持，简单方便，但是仍存在一定的不足之处。
[0004]工作人员使用探针夹具对待检测零件进行夹持后，探针夹具与工作台之间未进行固定，当有外力使得工作台震动或者晃动时，如人为误碰，可能会使得探针与待检测零件的表面产生相对滑动，零件的表面可能会留下划痕，即对零件产生损坏，如工作人员使用螺丝或胶带将探针夹具固定在工作台上，由于待检测零件的大小不一，这就使得探针夹具的位置需要移动，进而工作人员需要对固定用的螺丝或胶带进行拆除，然后移动探针夹具至合适位置后，再次使用螺丝或胶带对探针夹具进行固定，降低了工作人员的维修效率。

技术实现思路

[0005]针对上述问题，本申请提供了一种用于测试电性能的探针夹具，解决小型探针夹具会在外力干扰下与夹持零件产生相对滑动而使得零件表层损伤的问题：
[0006]一种用于测试电性能的探针夹具，包括工作台，所述工作台顶部对称固定安装有两个自吸装置，自吸装置相互靠近的一侧安装有可调夹具；
[0007]所述自吸装置包括壳体，壳体底部滑动安装在工作台顶部，壳体内部开设有活塞槽，活塞槽内部滑动安装有联动杆和活塞板，活塞板和活塞槽内侧之间固定安装有第一弹簧，壳体底部滑动安装有升降板，升降板底部固定安装有多个吸盘，升降板顶部固定安装有联动柱，联动杆底部开设有引导槽，引导槽与联动柱相配合，引导槽靠近联动柱的一侧为弧形斜面，壳体内部开设有与活塞槽相连通的出气口，出气口与吸盘顶部之间通过软管相连通。
[0008]进一步的，所述活塞板固定安装在联动杆端部，联动杆另一端滑动贯穿壳体。
[0009]进一步的，所述升降板底部贯穿开设有多个通孔，出气口与吸盘顶部之间的软管滑动安装在通孔内。
[0010]进一步的，所述升降板顶部靠外侧位置固定安装有多个插柱，插柱顶部滑动插接在壳体内部，升降板与壳体之间固定安装有多个第二弹簧，第二弹簧活动套设在插柱外围。
[0011]进一步的，所述可调夹具包括推板，推板固定安装在联动杆顶部，推板靠近壳体的
一侧对称固定安装有两个限位柱，限位柱远离推板的一端滑动插接在壳体内部，限位柱外围活动套设有第三弹簧，第三弹簧的两端分别固定安装在推板与壳体相互靠近的一侧。
[0012]进一步的，所述推板滑动插接在壳体内部，且位于壳体内部的一端为弧形尖端。
[0013]进一步的，所述推板弧形尖端一侧对称滑动安装有两个联动条，联动条靠近推板的一端为弧形，联动条远离推板的一端固定安装有夹板，壳体内部开设有与夹板相滑动配合的活动槽，且活动槽与夹板之间固定安装有第四弹簧。
[0014]进一步的，两个所述夹板相互远离的一侧滑动安装有PCB板，PCB板远离壳体的一端底部固定安装有探针。
[0015]进一步的，所述PCB板中部贯穿开设有滑槽，两个所述夹板相互远离的一侧开设有螺纹槽，螺纹槽内部螺纹连接有螺丝，螺丝位于滑槽内部。
[0016]进一步的，所述工作台顶部中心位置固定安装有支撑台。
[0017]本专利技术的有益效果如下：
[0018](1)本专利技术所述的一种用于测试电性能的探针夹具，采用了吸盘，移动时，活塞槽内部空气被挤压，通过出气口和软管吹向吸盘内部，使得吸盘内部压强与外部大气压持平，进而降低吸盘与工作台之间的吸附力，同时在第二弹簧的拉力作用下，联动柱、升降板、吸盘上移与工作台脱离接触，消除吸盘与工作台之间的摩擦力，进而进一步降低可调夹具的移动阻力，方便移动；
[0019]夹持时，联动杆的圆柱段再次挤压联动柱，使得联动柱下移，进而推动升降板、吸盘下移，第二弹簧被拉伸，吸盘下移与工作台接触，增大壳体与工作台的摩擦力，使得壳体不易与工作台产生相对滑动，即探针不易与待检测零件之间产生相对滑动，使得检测更加稳定，也能降低待检测零件被破坏的可能，联动杆复位过程中，带动活塞板复位，进而使得活塞槽内部压强降低，吸盘与工作台之间残留的空气被通过软管、出气口吸入活塞槽内，即降低吸盘与工作台之间的压强，在外部大气压的压力作用下，吸盘与工作台贴合更加牢固，进一步增大壳体与工作台的摩擦力，即增大检测稳定性。
[0020](2)本专利技术所述的一种用于测试电性能的探针夹具，使用了滑槽，若零件的检测位置较为靠近中心，工作人员可旋转松动螺丝，拉动滑槽，使得滑槽与夹板的整体长度伸长至合适长度，再反向旋转拧紧螺丝即可。
附图说明
[0021]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。
[0022]图1为本专利技术提供的一种用于测试电性能的探针夹具的整体结构示意图；
[0023]图2为本专利技术提供的一种用于测试电性能的探针夹具的可调夹具结构示意图；
[0024]图3为本专利技术提供的一种用于测试电性能的探针夹具的壳体内部结构示意图；
[0025]图4为本专利技术提供的一种用于测试电性能的探针夹具的壳体底部结构示意图；
[0026]图5为本专利技术提供的一种用于测试电性能的探针夹具的壳体内部零件连接示意图；
[0027]图6为本专利技术提供的一种用于测试电性能的探针夹具的联动杆结构示意图；
[0028]图7为本专利技术提供的一种用于测试电性能的探针夹具的吸盘结构示意图。
[0029]图中：1、工作台；2、自吸装置；21、壳体；22、联动杆；23、活塞槽；24、活塞板；25、第
一弹簧；26、出气口；27、联动柱；28、升降板；29、插柱；210、第二弹簧；211、引导槽；212、通孔；213、吸盘；3、支撑台；4、可调夹具；41、夹板；42、PCB板；43、探针；44、滑槽；45、螺丝；46、联动条；47、推板；48、限位柱；49、第三弹簧；410、第四弹簧。
具体实施方式
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图和实施例或现有技术的描述对本专利技术作简单地介绍，显而易见地，下面关于附图结构的描述仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在此需要说明的是，对于这些实施例方式的说明用于帮助理解本专利技术，但并不构成对本专利技术的限定。
[0031]第一实施例：
[0032]如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试电性能的探针夹具，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)顶部对称固定安装有两个自吸装置(2)，自吸装置(2)相互靠近的一侧安装有可调夹具(4)；所述自吸装置(2)包括壳体(21)，壳体(21)底部滑动安装在工作台(1)顶部，壳体(21)内部开设有活塞槽(23)，活塞槽(23)内部滑动安装有联动杆(22)和活塞板(24)，活塞板(24)和活塞槽(23)内侧之间固定安装有第一弹簧(25)，壳体(21)底部滑动安装有升降板(28)，升降板(28)底部固定安装有多个吸盘(213)，升降板(28)顶部固定安装有联动柱(27)，联动杆(22)底部开设有引导槽(211)，引导槽(211)与联动柱(27)相配合，引导槽(211)靠近联动柱(27)的一侧为弧形斜面，壳体(21)内部开设有与活塞槽(23)相连通的出气口(26)，出气口(26)与吸盘(213)顶部之间通过软管相连通。2.如权利要求1所述的一种用于测试电性能的探针夹具，其特征在于：所述活塞板(24)固定安装在联动杆(22)端部，联动杆(22)另一端滑动贯穿壳体(21)。3.如权利要求2所述的一种用于测试电性能的探针夹具，其特征在于：所述升降板(28)底部贯穿开设有多个通孔(212)，出气口(26)与吸盘(213)顶部之间的软管滑动安装在通孔(212)内。4.如权利要求3所述的一种用于测试电性能的探针夹具，其特征在于：所述升降板(28)顶部靠外侧位置固定安装有多个插柱(29)，插柱(29)顶部滑动插接在壳体(21)内部，升降板(28)与壳体(21)之间固定安装有多个第二弹簧(210)，第二弹簧(210)活动套设在插柱(29)外围。5.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖启钥，柏波，张国庆，
申请(专利权)人：深圳市华荣发电子测试有限公司，
类型：发明
国别省市：