一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平制造技术

本实用新型专利技术公开一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平，包括：底座和连接座，所述底座表面连接有连接座，所述连接座外部设置有风罩，所述风罩底端连接有卡块，且卡块与连接座之间为卡合连接结构；插杆，所述卡块内部水平插合连接有插杆，所述插杆一侧垂直连接有转向杆，所述转向杆外壁处连接有定位块，且连接座内部开设有与定位块外部尺寸相匹配的转动槽。该分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平，通过向下按压转向杆，使转向杆和插杆在外力作用下沿定位块转动，插杆转动至脱离卡块内部，进而解除卡块与连接座之间的连接关系，将风罩拆卸下来，起到了易于拆卸清理风罩的作用。的作用。的作用。

【技术实现步骤摘要】
一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平


[0001]本技术涉及电子分析天平
，具体为一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平。

技术介绍

[0002]电子分析天平具有全自动故障检测，外置砝码，自动校准，全部线性四点校准，超载保护等多种应用程序，电子分析天平主要用于分析化验，现有的分析天平在使用时还存在一定的缺陷，就比如；
[0003]如公开号为CN202121253110.0的一种便于清理的分析天平，当掉落至接料盒内的物料需要清理时，将主盒和副盒向相互远离的方向滑动，直至主盒和副盒与安装座脱离，然后将主盒和副盒内的物料倒出即可，操作简单，便于分析天平的清理；
[0004]这种现有技术方案在使用时还存在以下问题：
[0005]1.该分析天平外部的风罩可对化验的物料进行密封保护的作用，风罩在长时间使用后，其内壁处容易粘附挥发性物料，不便于拆卸清理；
[0006]2.电子分析天平上的按键起到开关的作用，在不使用按键时，按键容易被按下，影响实际操作过程中得出的数据的一致性和完整性等问题；
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平，包括：底座（1）和连接座（2），其特征在于，所述底座（1）表面连接有连接座（2），所述连接座（2）外部设置有风罩（3），所述风罩（3）底端连接有卡块（4），且卡块（4）与连接座（2）之间为卡合连接结构；插杆（5），所述卡块（4）内部水平插合连接有插杆（5），所述插杆（5）一侧垂直连接有转向杆（6），所述转向杆（6）外壁处连接有定位块（7），且连接座（2）内部开设有与定位块（7）外部尺寸相匹配的转动槽。2.根据权利要求1所述的一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平，其特征在于：所述连接座（2）的转动槽一侧开设有与插杆（5）和转向杆（6）外部尺寸相匹配的转向槽，且插杆（5）和转向杆（6）通过定位块（7）与连接座（2）构成定向转动结构。3.根据权利要求1所述的一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平，其特征在于：所述风罩（3）内部嵌合连接有固定块（8），所述固定块（8）内部开设有滑槽，且固定块（8）的滑槽内部滑动连接有滑杆（9）。4.根据权利要求3所述的一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平，其特征在于：所述滑杆（9）一侧连接有连动板（10），所述连动板（10）底端连接有...

【专利技术属性】
技术研发人员：张志坚，尚华泰，武庆臣，巩飞，吕英胜，安金奇，崔聪聪，
申请(专利权)人：万达集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：