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一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平制造技术
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下载一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平的技术资料
文档序号:38510627
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本实用新型公开一种分析化验用易于拆卸清理风罩的电子分析天平,包括:底座和连接座,所述底座表面连接有连接座,所述连接座外部设置有风罩,所述风罩底端连接有卡块,且卡块与连接座之间为卡合连接结构;插杆,所述卡块内部水平插合连接有插杆,所述插杆一侧...
该专利属于万达集团股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过万达集团股份有限公司授权不得商用。
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