陶瓷基片检验设备制造技术

本申请适用于陶瓷封装外壳技术领域，提供陶瓷基片检验设备，该设备包括：料仓、直振运料器、圆形振动盘、光纤吹气模组、直振导正装置、转盘、检验模组和收料盒；料仓用于存放陶瓷基片；收料盒用于存放检验完的陶瓷基片；直振运料器用于将料仓中的陶瓷基片运送到圆形振动盘上；圆形振动盘使全部的陶瓷基片横向排列；光纤吹气模组用于对陶瓷基片进行检测，将检测到反向的陶瓷基片调整为正向；直振导正装置用于对陶瓷基片进行排列和姿态调整，并将陶瓷基片送入转盘中；转盘用于将陶瓷基片送至检验模组；检验模组对陶瓷基片的缺陷进行检验，得到检验结果，并将检验完成后的陶瓷基片送入收料盒。本申请可以提高陶瓷基片的检验效率。本申请可以提高陶瓷基片的检验效率。本申请可以提高陶瓷基片的检验效率。

【技术实现步骤摘要】
陶瓷基片检验设备


[0001]本申请属于陶瓷封装外壳
，尤其涉及陶瓷基片检验设备。

技术介绍

[0002]陶瓷封装外壳具有气密性好、热膨胀系数小、机械强度高、耐湿性好和热导率高等优点，广泛应用于航天、航空、舰载、弹载、预警探测等电子装备领域，在高可靠元器件国产化方面发挥了不可或缺的支撑作用。陶瓷基片常为陶瓷封装外壳DIP等系列配套使用，基片产品尺寸小，数量大，每单产品达一万只以上，为保证产品质量，每只基片需进行全检，基片一般为裂片加工，崩瓷、边缘多料等问题比例较大，由于产品整体尺寸小、数量多，人工单纯依靠显微镜不能准确判断尺寸，常造成基片漏检，检验效率低。

技术实现思路

[0003]为克服相关技术中存在的人工检验陶瓷基片效率低易漏检的技术问题，本申请实施例提供了一种陶瓷基片检验设备。
[0004]本申请是通过如下技术方案实现的：
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种陶瓷基片检验设备，包括：料仓、直振运料器、圆形振动盘、光纤吹气模组、直振导正装置、转盘、检验模组和收料盒。
[0006]料仓用于存放陶瓷基片。
[0007]收料盒用于存放检验完的陶瓷基片。
[0008]直振运料器用于通过自身振动将料仓中的陶瓷基片以恒定的速度运送到圆形振动盘上。
[0009]圆形振动盘用于对无序排列的陶瓷基片进行排序使全部的陶瓷基片横向排列。
[0010]光纤吹气模组用于对横向排列的陶瓷基片进行检测，将检测到反向的陶瓷基片调整为正向。
[0011]直振导正装置用于对调整后的陶瓷基片进行排列和姿态调整，使相邻的陶瓷基片之间存在间隔，并将陶瓷基片送入转盘中。
[0012]转盘用于将陶瓷基片送至检验模组。
[0013]检验模组使用检验光对陶瓷基片的缺陷进行检验，得到检验结果，并将检验完成后的陶瓷基片送入收料盒。
[0014]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，陶瓷基片检验设备还包括：传感器。传感器用于检测圆形振动盘中是否存在陶瓷基片。当检测到圆形振动盘中不存在陶瓷基片时，控制直振运料器振动，将料仓中的陶瓷基片运送到圆形振动盘上。
[0015]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，直振导正装置包括：直线振动导轨和导正机构。直线振动导轨用于对调整后的陶瓷基片进行排列，使相邻的陶瓷基片之间存在间隔。导正机构用于对陶瓷基片的姿态进行整理。
[0016]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，转盘的材料为高透光学玻璃。
[0017]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，检验模组包括：正面检验模组和背面检验模组。正面检验模组和背面检验模组分别对陶瓷基片的正面和背面进行拍照和缺陷检测，得到检验结果。
[0018]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，收料盒包括：合格料盒、不合格料盒和未检测料盒。
[0019]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，陶瓷基片检验设备还包括：高速电磁阀、多个吹气喷头和高压气管。高压气管与高速电磁阀的一端连接，电磁阀的另一端与多个吹气喷头连接。高速电磁阀根据检验结果控制不同的吹气喷头开启，将陶瓷基片吹入合格料盒、不合格料盒或者未检测料盒中。
[0020]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，陶瓷基片检验设备还包括：挡板。挡板设置于转盘边缘，用于防止陶瓷基片掉落。
[0021]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，检验模组检验使用的检验光为白光或者红蓝光。
[0022]结合第一方面，在一些可能的实现方式中，陶瓷基片检验设备还包括：光纤定位装置。光纤定位装置设置于转盘边缘，通过光纤定位装置确定陶瓷基片的位置，当陶瓷基片到达预设位置时，启动检验模组对陶瓷基片进行检验。
[0023]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
[0024]本申请通过料仓、直振运料器、圆形振动盘、光纤吹气模组、直振导正装置、转盘、检验模组和收料盒实现了陶瓷基片的自动化检验，替代了人工检验陶瓷基片，设备的自动化检验能够避免人工不能准确判断尺寸，常造成基片漏检的问题，使整个检验自动化流程化，提高了检验效率，避免了人工资源的浪费。
[0025]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本说明书。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]图1是本申请一实施例提供的一种陶瓷基片检验设备的结构示意图；
[0028]图2是本申请一实施例提供的陶瓷基片正面示意图；
[0029]图3是本申请一实施例提供的陶瓷基片背面示意图。
具体实施方式
[0030]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
[0031]应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描
述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0032]还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0033]如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
[0034]另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0035]在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
[0036]陶瓷封装外壳具有气密性好、热膨胀系数小、机械强度高、耐湿性好本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷基片检验设备，其特征在于，包括：料仓、直振运料器、圆形振动盘、光纤吹气模组、直振导正装置、转盘、检验模组和收料盒；所述料仓用于存放待检验陶瓷基片；所述收料盒用于存放检验完的陶瓷基片；所述直振运料器用于通过自身振动将所述料仓中的陶瓷基片以恒定的速度运送到所述圆形振动盘上；所述圆形振动盘用于对无序排列的陶瓷基片进行排序使全部的陶瓷基片横向排列；所述光纤吹气模组用于对横向排列的陶瓷基片进行检测，将检测到反向的陶瓷基片调整为正向；所述直振导正装置用于对调整后的陶瓷基片进行排列和姿态调整，使相邻的陶瓷基片之间存在间隔，并将所述陶瓷基片送入所述转盘中；所述转盘用于将所述陶瓷基片送至所述检验模组；所述检验模组使用检验光对所述陶瓷基片的缺陷进行检验，得到检验结果，并将检验完成后的陶瓷基片送入所述收料盒。2.如权利要求1所述的陶瓷基片检验设备，其特征在于，所述陶瓷基片检验设备还包括：传感器；所述传感器用于检测所述圆形振动盘中是否存在所述陶瓷基片；当检测到所述圆形振动盘中不存在所述陶瓷基片时，控制所述直振运料器振动，将所述料仓中的陶瓷基片运送到所述圆形振动盘上。3.如权利要求1所述的陶瓷基片检验设备，其特征在于，所述直振导正装置包括：直线振动导轨和导正机构；所述直线振动导轨用于对调整后的陶瓷基片进行排列，使相邻的陶瓷基片之间存在间隔；所述导正机构用于对所述陶瓷基片的姿态进行整理。4.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：裴越，赵文义，彭博，李阳，张崤君，刘林杰，李彩然，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十三研究所，
类型：发明
国别省市：