λ/4板的缺点检查方法技术

本发明专利技术的λ/4板的缺点检查方法包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点，其包含：将该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴设定为平行，将该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴设定为平行，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35

【技术实现步骤摘要】
λ
/4板的缺点检查方法


[0001]本专利技术涉及λ/4板的缺点检查方法。

技术介绍

[0002]在液晶显示装置(LCD)、有机电致发光显示装置(OLED)等图像显示装置中，以显示特性的提高、抗反射等作为目的而大多使用了相位差膜。在相位差膜的制造工序中，有时因局部的外观不良而产生缺点，要求可灵敏度良好地检查该缺点的方法。特别是相位差膜由液晶材料构成的λ/4板越是通过以往方法无法检测越容易产生轻微的缺点，要求也可检测这样的缺点的检查方法。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2013
‑
15766号公报

技术实现思路

[0006]专利技术所要解决的课题
[0007]本专利技术是为了解决上述课题而进行的，其目的在于提供可灵敏度良好地检查λ/4板的缺点的缺点检查方法。
[0008]用于解决课题的手段
[0009]本专利技术的λ/4板的缺点检查方法包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点，其包含：将该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴设定为平行，将该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴设定为平行，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35
°
～55
°
，并且将该第二起偏器的吸收轴与该第二λ/4板的慢轴所成的角设定为35r/>°
～55
°
，根据第一λ/4板的缺点部分的相位差，调整该第一λ/4板的正常部分的相位差Rp与该第二λ/4板的相位差Rf的合计值。
[0010]在一个实施方式中，上述第一λ/4板的正常部分的相位差Rp与上述第二λ/4板的相位差Rf的合计值为300nm～321nm。
[0011]在一个实施方式中，上述第一λ/4板的正常部分的相位差Rp与上述第二λ/4板的相位差Rf的合计值为269nm～290nm。
[0012]在一个实施方式中，上述第一λ/4板由液晶材料构成。
[0013]专利技术效果
[0014]根据本专利技术，能够提供可灵敏度良好地检查包含λ/4板的光学层叠体的缺点的缺点检查方法。
附图说明
[0015]图1是说明本专利技术的一个实施方式的检查方法的概略立体图。
[0016]图2是说明本专利技术的一个实施方式的检查方法的概略立体图。
[0017]图3是说明本专利技术的一个实施方式的检查方法的概略立体图。
[0018]图4是说明本专利技术的一个实施方式的检查方法的概略立体图。
[0019]图5是表示由液晶材料构成的λ/4板中产生的缺点(亮点)的例子的照片图。
[0020]符号的说明
[0021]11第一起偏器
[0022]12第二起偏器
[0023]21第一λ/4板
[0024]22第二λ/4板
[0025]30各向同性基材
具体实施方式
[0026]A.缺点检查方法
[0027]本专利技术的λ/4板的缺点检查方法包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点。在上述缺点检查方法中，第一起偏器与第二起偏器按照第一起偏器的吸收轴与第二起偏器的吸收轴变得平行的方式配置。此外，第一λ/4板与第二λ/4板按照第一λ/4板的慢轴与第二λ/4板的慢轴变得平行的方式配置。此外，第一起偏器与第一λ/4板按照第一起偏器的吸收轴与第一λ/4板的慢轴所成的角成为35
°
～55
°
的方式配置。此外，第二起偏器与第二λ/4板按照第二起偏器的吸收轴与第二λ/4板的慢轴所成的角成为35
°
～55
°
的方式配置。进而，上述缺点检查方法包含根据第一λ/4板的缺点部分的相位差来调整第一λ/4板的正常部分的相位差Rp与第二λ/4板的相位差Rf的合计值。需要说明的是，只要是可得到本专利技术的效果，如果第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器被依次配置，则也可以在其间夹杂其他的膜。例如也可以在第一起偏器与第一λ/4板之间夹杂其他的相位差膜(例如正C板)。此外，为了方便起见，图示了从上观察第二起偏器的外观的样子，但实际上也可以将上下颠倒来构成检查系统。
[0028]在本说明书中，“平行”也包含实质上平行的状态。所谓“实质上平行”包含2个方向所成的角度为0
°±7°
的情况，优选为0
°±5°
，进一步优选为0
°±3°
。“正交”也包含实质上正交的状态。“实质上正交”包含2个方向所成的角为90
°±7°
的情况，优选为90
°±5°
，进一步优选为90
°±3°
。此外，本说明书中言及角度时，包含相对于基准方向为顺时针及逆时针这两者。此外，所谓“观察第二起偏器侧的面的外观”是指观察透过第二起偏器的光的有无及量。此外，在本说明书中，所谓相位差是指面内相位差。
[0029]图1是说明本专利技术的一个实施方式的检查方法的概略立体图。在图1中，示出了将第一起偏器11、第一λ/4板21、第二λ/4板22和第二起偏器12依次配置的构成、和透过各层的光的偏振光方向。在本专利技术的检查方法中，对透过第一起偏器11而生成的偏振光a利用两块λ/4板(第一λ/4板21、第二λ/4板22)给予相位差。在图1中所示的状态下，按照对偏振光a给予相位差而使偏振光方向旋转大致90
°
，并且以像这样产生的偏振光b作为正常的光而到达至第二起偏器12的方式，配置第一起偏器11、第一λ/4板21、第二λ/4板22和第二起偏器12。本专利技术中，将在第一λ/4板21中未正常地被给予相位差地到达至第二起偏器12的光设定为
透过第一λ/4板的缺点的异常的光，通过使该异常的光透过第二起偏器，将第一λ/4板的缺点作为明缺点(与周边的正常部分相比亮度高的点)进行检测。
[0030]本专利技术中，通过根据第一λ/4板的缺点部分的相位差来调整第一λ/4板的正常部分的相位差Rp与第二λ/4板的相位差Rf的合计值，也能够检测与正常部分的相位差之差小而通过以往的技术难以检测的缺点。
[0031]在一个实施方式中，第一λ/4板的正常部分的相位差Rp与第二λ/4板的相位差Rf的合计值优选为300nm～321nm，更优选为307nm～314nm。如果为这样的范围，则可提供可灵敏度良好地检测第一λ/4板的缺点的检查方法。特别是对于相位差比正常部分高而以筋状成为不均产生的缺点(以下，也称为白筋)，以往难以检测，但根据本专利技术的方法，也能够检测该缺点。此外，也能够灵敏度良好地检测缺点范围非常窄的点缺点(以下，也称为亮点)。
[0032]在另一实施方式中，第一λ/4板的正常部分的相位差Rp与第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种λ/4板的缺点检查方法，其包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点，其包含：将该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴设定为平行，将该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴设定为平行，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35
°
～55
°
，并且将该第二起偏器的吸收轴与该第二λ/4板的慢轴所成的角设定为35
°
～55
°<...

【专利技术属性】
技术研发人员：家原惠太，铃木畅，深见空斗，
申请(专利权)人：日东电工株式会社，
类型：发明
国别省市：