一种光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法技术

本发明专利技术提供了一种光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法，包括：步骤1：将被测光耦放置在温度老化箱中，设置温度；步骤2：记录一次光耦的输出电流，并计算正向电流传输比CTR；步骤3：建立正向电流传输比CTR与老化持续时间t之间的函数关系；步骤4：拟合老化时间t与光耦输出电流放大系数CTR的函数关系；步骤5：基于拟合得到的热应力加速因子K，代入阿伦纽斯方程，得到热应力加速因子K与温度的函数关系；步骤6：计算得到该型号的被测光耦在设置温度下工作时间与电偶输出电流之间的定量关系；步骤7：MATLAB软件绘制正向电流传输比衰减曲线。本发明专利技术在确定光耦器件的工作环境温度的前提下，通过试验、建模得到光耦器件的CTR衰减模型曲线，预测其CTR衰减趋势，为器件的预防性维修提供依据。修提供依据。修提供依据。

【技术实现步骤摘要】
一种光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法


[0001]本专利技术涉及光耦老化寿命预测
，尤其涉及一种光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法。

技术介绍

[0002]光耦亦称光电耦合器，它是以光为媒介来传输电信号的器件，作为电隔离器件广泛用于各类数字电路。光耦的输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接收光线之后就产生电流，从光耦的输出端流出，从而实现了“电—光—电”控制。
[0003]从光耦的基本原理可以看出，光耦的输出/输入电流之比(简称正向电流传输比
‑
CTR)是表征光耦性能的重要指标。研究表明，光耦在长时间工作后，其CTR将会显著下降。在实际的电路应用中，在光耦输入电流一定的情况下，其输出电流降低到一定阈值后，将无法驱动下游电路，此时的光耦虽未完全损坏，但已丧失其基本功能。
[0004]现有的基于失效物理的光耦寿命研究集中于研究在光耦器件的完全失效前提下(即CTR＝0时)，光耦的损坏概率与热应力、输入电流的关系。该光耦寿命研究方法存在如下缺陷：仅考虑光耦完全失效情况下的光耦预期寿命与可靠性，未给本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：将被测光耦放置在温度老化箱中，设置温度；步骤2：记录一次光耦的输入和输出电流，并计算正向电流传输比CTR；步骤3：建立正向电流传输比CTR与老化持续时间t之间的函数关系；步骤4：使用MATLAB软件拟合老化时间t与光耦输出电流放大系数CTR的函数关系；步骤5：基于拟合得到的热应力加速因子K，代入阿伦纽斯方程，得到热应力加速因子K与温度的函数关系；步骤6：计算得到该型号的被测光耦在设置温度下工作时间与电偶输出电流之间的定量关系；步骤7：使用MATLAB软件绘制正向电流传输比衰减曲线。2.根据权利要求1所述的光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法，其特征在于，步骤1中设置温度范围为100
‑
150℃。3.根据权利要求2所述的光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法，其特征在于，步骤1中设置温度为110℃。4.根据权利要求1所述的光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法，其特征在于，步骤2中，使用恒流源向被测光耦持续注入I
F
＝5mA电流，保持光耦在工作状态，通电开始时记为0小时，在开始时、168、412、612、1...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪绩宁，徐冬苓，王玉贵，昌正科，
申请(专利权)人：核电运行研究上海有限公司，
类型：发明
国别省市：