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本发明提供了一种光耦正向电流传输比衰减趋势测试与建模方法，包括：步骤1：将被测光耦放置在温度老化箱中，设置温度；步骤2：记录一次光耦的输出电流，并计算正向电流传输比CTR；步骤3：建立正向电流传输比CTR与老化持续时间t之间的函数关系；步骤...
该专利属于核电运行研究（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过核电运行研究（上海）有限公司授权不得商用。

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