一种用于电子产品的老化测试工装制造技术

本发明专利技术适用于产品测试技术领域，提供了一种用于电子产品的老化测试工装，包括外围托板、立柱和底座，外围托板通过多根立柱架设固定于底座的上方，还包括：翻转板，翻转板设于外围托板的上方，翻转板和底座之间安装有用于将翻转板顶起的顶升组件；翻转板和外围托板之间的外侧周向分布安装有多组翻转辅助组件，翻转辅助组件用于对翻转板进行转动支撑控制，从而配合顶升组件控制翻转板的翻转方向；产品放置振动组件，产品放置振动组件安装于翻转板上，产品放置振动组件用于电子产品的放置，以及控制电子产品振动。本发明专利技术便于进行灵活的协作控制，以及进行任意方向晃动的灵活控制，提升测试的便捷合理性和效果。试的便捷合理性和效果。试的便捷合理性和效果。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子产品的老化测试工装


[0001]本专利技术属于产品测试
，尤其涉及一种用于电子产品的老化测试工装。

技术介绍

[0002]电子产品是以电能为工作基础的相关产品，电子产品生产出后需要进行各种测试，其中需要对电子产品进行老化测试是很有必要的。
[0003]老化测试项目除了高低温测试，还有振动、晃动及上电测试，现有的对于振动和晃动的测试，不便于进行灵活的协作控制，以及结构布置不合理，无法进行任意方向晃动的灵活控制，存在使用局限性。
[0004]因此，针对以上现状，迫切需要开发一种用于电子产品的老化测试工装，以克服当前实际应用中的不足。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例的目的在于提供一种用于电子产品的老化测试工装，旨在解决现有的对于振动和晃动的测试，不便于进行灵活的协作控制，以及无法进行任意方向晃动的灵活控制的问题。
[0006]本专利技术实施例是这样实现的，一种用于电子产品的老化测试工装，包括外围托板、立柱和底座，所述外围托板通过多根立柱架设固定于底座的上方，还包括：翻转板，所述翻转板设于外围托板的上方，翻转板和底座之间安装有用于将翻转板顶起的顶升组件；所述翻转板和外围托板之间的外侧周向分布安装有多组翻转辅助组件，翻转辅助组件用于对翻转板进行转动支撑控制，从而配合所述顶升组件控制翻转板的翻转方向；产品放置振动组件，所述产品放置振动组件安装于翻转板上，产品放置振动组件用于电子产品的放置，以及控制电子产品振动。
[0007]进一步的技术方案，所述翻转板为正多边形结构，所述外围托板为与翻转板相匹配的环形结构。
[0008]进一步的技术方案，所述顶升组件包括翻转伸缩缸和万向组件，所述翻转板的下侧设有翻转伸缩缸，翻转伸缩缸的两端分别设有一个万向组件，一个万向组件与翻转板的下侧中间连接，另一个万向组件与底座的上侧中间连接。
[0009]进一步的技术方案，所述翻转辅助组件包括U形杆、带凹槽支座、第一缸支座和限位伸缩缸，所述翻转板的外侧周向分布设有多个U形杆，U形杆的两端与翻转板固定连接，所述外围托板上对应设有用于对U形杆的中部进行转动支撑的带凹槽支座，所述外围托板上还通过第一缸支座固定有限位伸缩缸，限位伸缩缸用于通过其伸缩内杆对U形杆的中部进行限位阻挡，从而通过限位伸缩缸和带凹槽支座配合使得翻转板能够围绕U形杆的中部转动。
[0010]进一步的技术方案，所述产品放置振动组件包括箱盖、提手、测试箱、弹簧和振动器，所述测试箱设于翻转板的上方，测试箱的顶部设有箱盖，箱盖上设有提手，所述测试箱
的底部外侧设有多根弹簧，弹簧的下端固定于翻转板上，所述测试箱的底部中间还设有振动器。
[0011]进一步的技术方案，所述箱盖的下侧设有箱盖弹性层，测试箱的内壁设有箱体弹性层，所述箱盖弹性层的下侧以及箱体弹性层的内侧均设有若干弹性柱。
[0012]进一步的技术方案，所述箱盖的外侧还开设有与测试箱配合连接的插接凹槽，所述插接凹槽内固定有第一磁环，测试箱的开口端部固定有能够与第一磁环磁吸连接的第二磁环。
[0013]进一步的技术方案，所述箱体弹性层靠近箱盖弹性层的一端还设有弧形突出部，箱体弹性层靠近箱盖弹性层的一端还设有用于箱盖弹性层搭接的搭接槽；所述弹性柱对应垂直于箱盖弹性层和箱体弹性层的表面设置，弹性柱为锥形结构，弹性柱的边角倒圆角。
[0014]进一步的技术方案，所述立柱上还固定有安装竖板，安装竖板远离立柱的一侧设有用于电子产品放置的测试台，所述安装竖板上还安装有用于对电子产品进行上电老化测试的上电测试组件，所述上电测试组件包括往复伸缩缸、第二缸支座、端座、导电套环、带电层、通电轴、插座和导线，所述安装竖板上固定有两个端座，两个端座之间固定有一根通电轴，通电轴上均匀分布设有多个带电层，所述通电轴上还滑动套设有一个导电套环，导电套环上固定有往复伸缩缸，往复伸缩缸还通过第二缸支座固定于安装竖板上，往复伸缩缸用于驱动导电套环沿着通电轴移动，所述插座固定于测试台上，插座上连接两根导线，一根导线与导电套环连接，另一根导线和通电轴均与市电连接；当电子产品与插座电性连接后，所述往复伸缩缸带动导电套环位于带电层所在的区域时，通电轴通过带电层和导电套环与导线电性连接，此时电子产品上电工作。
[0015]本专利技术实施例提供的一种用于电子产品的老化测试工装，通过产品放置振动组件用于电子产品的放置，以及控制电子产品振动，可以完成电子产品的振动测试，检验其电子线路及元件连接的可靠性。
[0016]通过顶升组件搭配翻转辅助组件的限定，在顶升组件将翻转板顶起时，根据翻转辅助组件对翻转板进行转动支撑控制，从而配合顶升组件控制翻转板的翻转方向，即达到任意控制翻转板翻转方向的目的，与产品放置振动组件配合，使得电子产品的整体关于振动、晃动方面的老化测试合理、便捷、全面以及可靠。
附图说明
[0017]图1为本专利技术实施例提供的用于电子产品的老化测试工装的立体结构示意图；
[0018]图2为本专利技术实施例提供的用于电子产品的老化测试工装的俯视结构示意图；
[0019]图3为本专利技术实施例提供的用于电子产品的老化测试工装的主视结构示意图；
[0020]图4为图1中A部分的放大结构示意图；
[0021]图5为图1中B部分的放大结构示意图；
[0022]图6为图3中测试箱部分的剖视结构示意图；
[0023]图7为图6中C部分的放大结构示意图。
[0024]图中：1
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箱盖，2
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提手，3
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测试箱，4
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翻转板，5
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外围托板，6
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立柱，7
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放置箱，8
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底座，9
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翻转伸缩缸，10
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万向组件，11
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安装竖板，12
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测试台，13
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翻转辅助组件，14
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上电测试组件，15
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弹簧，16
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振动器，17
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U形杆，18
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带凹槽支座，19
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第一缸支座，20
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限位伸缩缸，21
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往复伸缩缸，22
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第二缸支座，23
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端座，24
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导电套环，25
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带电层，26
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通电轴，27
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插座，28
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导线，29
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箱盖弹性层，30
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弹性柱，31
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箱体弹性层，32
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插接凹槽，33
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第一磁环，34
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第二磁环，35
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搭接槽，36
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弧形突出部。
具体实施方式
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子产品的老化测试工装，包括外围托板、立柱和底座；所述外围托板通过多根立柱架设固定于底座的上方，其特征在于，还包括：翻转板，所述翻转板设于外围托板的上方，翻转板和底座之间安装有用于将翻转板顶起的顶升组件；所述翻转板和外围托板之间的外侧周向分布安装有多组翻转辅助组件，翻转辅助组件用于对翻转板进行转动支撑控制，从而配合所述顶升组件控制翻转板的翻转方向；产品放置振动组件，所述产品放置振动组件安装于翻转板上，产品放置振动组件用于电子产品的放置，以及控制电子产品振动。2.根据权利要求1所述的用于电子产品的老化测试工装，其特征在于，所述翻转板为正多边形结构，所述外围托板为与翻转板相匹配的环形结构。3.根据权利要求1或2所述的用于电子产品的老化测试工装，其特征在于，所述顶升组件包括翻转伸缩缸和万向组件；所述翻转板的下侧设有翻转伸缩缸，翻转伸缩缸的两端分别设有一个万向组件，一个万向组件与翻转板的下侧中间连接，另一个万向组件与底座的上侧中间连接。4.根据权利要求3所述的用于电子产品的老化测试工装，其特征在于，所述翻转辅助组件包括U形杆、带凹槽支座、第一缸支座和限位伸缩缸；所述翻转板的外侧周向分布设有多个U形杆，U形杆的两端与翻转板固定连接；所述外围托板上对应设有用于对U形杆的中部进行转动支撑的带凹槽支座；所述外围托板上还通过第一缸支座固定有限位伸缩缸；所述限位伸缩缸用于通过其伸缩内杆对U形杆的中部进行限位阻挡，从而通过限位伸缩缸和带凹槽支座配合使得翻转板能够围绕U形杆的中部转动。5.根据权利要求4所述的用于电子产品的老化测试工装，其特征在于，所述产品放置振动组件包括箱盖、提手、测试箱、弹簧和振动器；所述测试箱设于翻转板的上方，测试箱的顶部设有箱盖，箱盖上设有提手；所述测试箱的底部外侧设有多根弹簧，弹簧...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑小芳，伍平红，
申请(专利权)人：深圳市科德尔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：