测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供一种测试治具，包括测试座、多个探针模块和多个插接模块，测试座上开设有多个插接位，插接模块与探针模块线连接，探针模块包括探针、弹性体、绝缘体和第一磁吸件，绝缘体设置在第一磁吸件和弹性体之间，探针装设在弹性体上并可以相对第一磁吸件进行伸缩；测试座上设有第二磁吸件，测试座表面上放置待测试件，探针模块置于待测试件上，第一磁吸件与第二磁吸件磁吸将所述待测试件抵接定位，探针抵触所述待测试件，插接模块插入所述插接位内并连通至测试设备，测试设备的另一端与待测试件的另一端连通形成测试回路；本实用新型专利技术将测试治具结构合理优化，可以适用于不同结构、不同电路设计的待测试产品样件。不同电路设计的待测试产品样件。不同电路设计的待测试产品样件。

【技术实现步骤摘要】
测试治具


[0001]本技术涉及测试装置
，特别是涉及一种测试治具。

技术介绍

[0002]电路板或电池采集板在制作完成后，需要对其进行各式各样的测试，如导电性、绝缘性等等，由于不同的电路板的结构不同，电路设计都有差异，因此，电路板产品的型号规格不一，为测试不同电路板产品，均需要对应开发不同型号规格的测试治具，测试治具开发成本高，周期长，无法满足生产和检测需要。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的在于克服现有技术的以上缺点和不足，提供一种测试治具。
[0004]一种测试治具，包括测试座、多个探针模块和多个插接模块，所述测试座上开设有多个插接位，每一所述插接模块与每一所述探针模块线连接，所述探针模块包括探针、弹性体、绝缘体和第一磁吸件，所述绝缘体设置在所述第一磁吸件和所述弹性体之间，所述探针装设在所述弹性体上并可以相对所述第一磁吸件进行伸缩；所述测试座上设有第二磁吸件，所述测试座表面上放置待测试件，所述探针模块置于所述待测试件上，所述第一磁吸件与所述第二磁吸件磁吸将所述待测试件抵接定位，所述探针抵触所述待测试件，所述插接模块插入所述插接位内并连通至测试设备，所述测试设备的另一端与所述待测试件的另一端连通形成测试回路。
[0005]本技术通过将测试治具结构合理优化，可以适用于不同结构、不同电路设计的待测试产品样件；同时，探针模块的结构设计为可移动的，具有便携拆卸的效果，可以为不同结构的待测试件提供连接测试。
[0006]在其中一个实施例的实施方式中，所述第一磁吸件为铁片，所述第二磁吸件为强磁铁，所述绝缘体抵触所述待测试件，所述第一磁吸件与所述待测试件之间留有间隙。
[0007]在其中一个实施例的实施方式中，所述第一磁吸件为强磁铁，所述第二磁吸件为铁片，所述第一磁吸件抵触所述待测试件。
[0008]在其中一个实施例的实施方式中，所述弹性体为弹簧针套。
[0009]在其中一个实施例的实施方式中，所述插接模块为DC插接连接器。
[0010]在其中一个实施例的实施方式中，所述测试座的上表面设有绝缘层，所述待测试件的下方接触所述绝缘层，所述待测试件的上方接触所述第一磁吸件和/或所述绝缘体。
[0011]在其中一个实施例的实施方式中，所述测试座上设有第一总插接口，每一所述插接位均通过线连接所述第一总插接口；所述待测试件上设置有一个第二总插接口和多个测试端子，每一所述测试端子均线连接至所述第二总插接口；每一所述探针模块抵触每一所述测试端子，所述第一总插接口和第二总插接口分别线连接至所述测试设备。
[0012]本技术测试治具有益效果在于：将测试治具结构合理优化，可以适用于不同
结构、不同电路设计的待测试产品样件；同时，探针模块的结构设计为可移动的，具有便携拆卸的效果，可以为不同结构的待测试件提供连接测试。
附图说明
[0013]图1为本技术测试治具中测试座的结构示意图；
[0014]图2为本技术测试治具的使用连接示意图；
[0015]图3为本技术测试治具的使用状态示意图；
[0016]图4为本技术测试治具的另一角度使用状态示意图。
具体实施方式
[0017]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0018]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0019]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0020]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0021]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0022]本技术提供一种测试治具，包括测试座、多个探针模块和多个插接模块，所述测试座上开设有多个插接位，每一所述插接模块与每一所述探针模块线连接，所述探针模块包括探针、弹性体、绝缘体和第一磁吸件，所述绝缘体设置在所述第一磁吸件和所述弹性体之间，所述探针装设在所述弹性体上并可以相对所述第一磁吸件进行伸缩；所述测试座上设有第二磁吸件，所述测试座表面上放置待测试件，所述探针模块置于所述待测试件上，
所述第一磁吸件与所述第二磁吸件磁吸将所述待测试件抵接定位，所述探针抵触所述待测试件，所述插接模块插入所述插接位内并连通至测试设备，所述测试设备的另一端与所述待测试件的另一端连通形成测试回路。
[0023]本技术通过将测试治具结构合理优化，可以适用于不同结构、不同电路设计的待测试产品样件；同时，探针模块的结构设计为可移动的，具有便携拆卸的效果，可以为不同结构的待测试件提供连接测试。
[0024]实施例一
[0025]请参阅图1至图4，本技术提供一种测试治具100，用于对待测试件200进行电测试，本测试治具100包括测试座1、多个探针模块2和多个插接模块3，插接模块3为DC插接连接器或其他插拔连接器，本技术以DC插接连接器进行举例说明，测试座1采用大台面或根据可能使用到的待测试件200的大小来定制。测试座1上开设有多个插接位11，每一插接模块3与每一探针模块2线连接，探针模块2包括探针21、弹性体22、绝缘体23和第一磁吸件24，绝缘体23设置在第一磁吸件24和弹性体22之间，探针21装设在弹性体22本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括测试座、多个探针模块和多个插接模块，所述测试座上开设有多个插接位，每一所述插接模块与每一所述探针模块线连接，所述探针模块包括探针、弹性体、绝缘体和第一磁吸件，所述绝缘体设置在所述第一磁吸件和所述弹性体之间，所述探针装设在所述弹性体上并可以相对所述第一磁吸件进行伸缩；所述测试座上设有第二磁吸件，所述测试座表面上放置待测试件，所述探针模块置于所述待测试件上，所述第一磁吸件与所述第二磁吸件磁吸将所述待测试件抵接定位，所述探针抵触所述待测试件，所述插接模块插入所述插接位内并连通至测试设备，所述测试设备的另一端与所述待测试件的另一端连通形成测试回路。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述第一磁吸件为铁片，所述第二磁吸件为强磁铁，所述绝缘体抵触所述待测试件，所述第一磁吸件与所述待测试件之间留有间隙。3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：翁伦，
申请(专利权)人：东莞市黄江大顺电子有限公司，
类型：新型
国别省市：