MicroLED芯片及其制备方法技术

技术编号:38430685 阅读:13 留言:0更新日期:2023-08-07 11:27
本公开涉及LED芯片技术领域,尤其涉及一种Micro LED芯片及其制备方法。包括以下步骤:提供衬底,在衬底上生长氮化镓层,在氮化镓层上刻蚀周期性制备多个LED阵列;提供填充层,填充层与LED阵列的表面齐平;提供驱动芯片,填充层与驱动芯片键合;去除衬底和多余的氮化镓层,形成包括驱动芯片和LED阵列的晶圆结构;在晶圆结构上形成光导层;在光导层上刻蚀形成多个反射部,以整合LED阵列的显示位置。通过上述步骤,本公开是在光导层上刻蚀形成多个反射部,通过反射部的反射作用改变LED阵列的发光方向,从而达到整个芯片上不同LED阵列的显示位置均能够按照像素排列的需求排布的目的。位置均能够按照像素排列的需求排布的目的。位置均能够按照像素排列的需求排布的目的。

【技术实现步骤摘要】
Micro LED芯片及其制备方法


[0001]本公开涉及LED芯片
,尤其涉及一种Micro LED芯片及其制备方法。

技术介绍

[0002]Micro LED显示技术是指以自发光的微米量级的LED为发光像素单元,将其组装到驱动面板上形成高密度LED阵列的显示技术。由于Micro LED芯片具有尺寸小、集成度高、自发光和稳定性高等特点,与LCD、OLED相比,在亮度、分辨率、对比度、能耗、使用寿命、响应速度和热稳定性等方面具有更大的优势。
[0003]但是现有Micro LED芯片的制备过程中,由于衬底和GaN的晶格常数不匹配,外延生长过程中,在GaN外延层中会产生位错等缺陷来释放由于晶格失配而产生的应力,而且缺陷会随着生长过程的进行一直向上延伸。通常有效的减少外延GaN的位错密度的方式是使用图形蓝宝石衬底(PSS)作为外延生长的衬底,然而使用图形蓝宝石衬底(PSS)生长的GaN,虽然总体的位错密度有明显降低,但是还是会有位错的分布。基于图形蓝宝石衬底(PSS)上外延生长GaN的位错分布规律,在凸起的角锥上方的位错密度较高,在凹陷区域和斜面上方的位错密度较低。现有技术在图形蓝宝石衬底上制备LED阵列时进行对位,将LED设置在图形蓝宝石衬底(PSS)的凹陷位置,但是这样LED阵列就无法完全按照像素排列的需求排布。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题,本公开提供了一种Micro LED芯片及其制备方法。
[0005]本公开提供了一种Micro LED芯片的制备方法,包括以下步骤:S1:提供衬底,在所述衬底上生长氮化镓层,在所述氮化镓层上刻蚀周期性制备多个LED阵列;S2:提供填充层,所述填充层与所述LED阵列的表面齐平;S3:提供驱动芯片,所述填充层与所述驱动芯片键合;S4:去除衬底和多余的氮化镓层,形成包括驱动芯片和LED阵列的晶圆结构;S5:在所述晶圆结构上形成光导层;S6:在所述光导层上刻蚀形成多个反射部,以整合所述LED阵列的显示位置。
[0006]可选地,所述衬底为蓝宝石衬底。
[0007]可选地,所述LED阵列均设置在所述衬底的凹陷位置,每个所述衬底的凹陷位置设置多个LED阵列。
[0008]可选地,在所述步骤S4中的去除方法为湿法或干法化学刻蚀。
[0009]可选地,在所述光导层上刻蚀形成多个反射部包括:利用刻蚀工艺在所述光导层背离所述LED阵列一侧的表面形成多个反射部;利用刻蚀工艺在所述反射部的侧壁形成反射层。
[0010]可选地,所述反射部为形成在所述光导层上的通孔或圆柱。
[0011]可选地,所述反射部靠近所述驱动芯片的一端延伸至所述LED阵列的表面。
[0012]可选地,所述反射部远离所述驱动芯片的一端位于所述LED阵列的显示位置。
[0013]可选地,所述反射层为氧化硅材质。
[0014]本公开还提供了一种Micro LED芯片,使用如上所述的Micro LED芯片的制备方法制备。
[0015]本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点:本公开提供了一种Micro LED芯片及其制备方法,包括以下步骤:提供衬底,在衬底上生长氮化镓层,在氮化镓层上刻蚀周期性制备多个LED阵列;提供填充层,填充层与LED阵列的表面齐平;提供驱动芯片,填充层与驱动芯片键合;去除衬底和多余的氮化镓层,形成包括驱动芯片和LED阵列的晶圆结构;在晶圆结构上形成光导层;在光导层上刻蚀形成多个反射部,以整合LED阵列的显示位置。通过上述步骤,本公开是在光导层上刻蚀形成多个反射部,通过反射部的反射作用改变LED阵列的发光方向,从而达到整个芯片上不同LED阵列的显示位置均能够按照像素排列的需求排布的目的。
附图说明
[0016]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。
[0017]为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本公开实施例所述LED阵列俯视图;图2为本公开实施例所述LED阵列剖视图;图3为本公开实施例所述LED阵列键合驱动芯片示意图;图4为本公开实施例所述晶圆结构示意图;图5为本公开实施例所述晶圆结构和光导层结合示意图;图6为本公开实施例所述LED阵列整合后示意图。
[0019]其中,1、衬底;2、氮化镓层;3、LED阵列;4、填充层;5、驱动芯片;6、光导层;7、反射部。
具体实施方式
[0020]为了能够更清楚地理解本公开的上述目的、特征和优点,下面将对本公开的方案进行进一步描述。需要说明的是,在不冲突的情况下,本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0021]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本公开,但本公开还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施;显然,说明书中的实施例只是本公开的一部分实施例,而不是全部的实施例。
[0022]本公开提供了一种Micro LED芯片的制备方法,包括以下步骤:S1:提供衬底1,在衬底1上生长氮化镓层2,在氮化镓层2上刻蚀周期性制备多个LED阵列3。
[0023]具体地,在本实施例中,提供衬底1,在衬底1上生长氮化镓层2,在氮化镓层2上刻
蚀周期性制备多个LED阵列3包括:首先提供一个生长衬底1,在衬底1的一侧表面形成氮化镓层2,而且在氮化镓层2远离所述衬底1的一侧刻蚀制备多个LED阵列3,所述LED阵列3用于发光。
[0024]S2:提供填充层4,填充层4与LED阵列3的表面齐平。
[0025]具体地,在本实施例中,如图1和图2所示,填充层4填充在LED阵列3之间,填充层4通过半导体工艺制备形成,包括金属和金属间的介质,金属起导电作用,介质起到隔离和填平作用,填充层4与LED阵列3同时制备。
[0026]S3:提供驱动芯片5,填充层4和LED阵列3均与驱动芯片5键合。
[0027]本实施例中的填充层4、LED阵列3分别与驱动芯片5进行键合,键合过程通过Bonding技术完成。
[0028]S4:去除衬底1和多余的氮化镓层2,形成包括驱动芯片5和LED阵列3的晶圆结构。
[0029]而且,如图3和图4所示,本实施例中通过多种技术去除衬底1和远离驱动芯片5的多余的氮化镓层2,形成包括驱动芯片5和LED阵列3的晶圆结构,此时,键合在驱动芯片5上的只有LED阵列3和填充层4。
[0030]S5:在晶圆结构上形成光导层6。
[0031]由于LED阵列3会在形成时会产生位错,从而使得LED阵列3的排布与设定的像素排列并不相同,所以在晶圆结构上形成光导层6,所述光导层6用于改变LED阵列3的发光路线,使得改变后的LED阵列显示位置与设定的像素排列相同。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Micro LED芯片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:提供衬底(1),在所述衬底(1)上生长氮化镓层(2),在所述氮化镓层(2)上刻蚀周期性制备多个LED阵列(3);S2:提供填充层(4),所述填充层(4)与所述LED阵列(3)的表面齐平;S3:提供驱动芯片(5),所述填充层(4)和所述LED阵列(3)分别与所述驱动芯片(5)键合;S4:去除衬底(1)和多余的氮化镓层(2),形成包括驱动芯片(5)和LED阵列(3)的晶圆结构;S5:在所述晶圆结构上形成光导层(6);S6:在所述光导层(6)上刻蚀形成多个反射部(7),以整合所述LED阵列(3)的显示位置。2.根据权利要求1所述的Micro LED芯片的制备方法,其特征在于,所述衬底(1)为蓝宝石衬底。3.根据权利要求1所述的Micro LED芯片的制备方法,其特征在于,所述LED阵列(3)均设置在所述衬底(1)的凹陷位置,每个所述衬底(1)的凹陷位置设置多个LED阵列(3)。4.根据权利要求1所述的Micro LED芯片的制备方法,其特征在于,在所述步骤S4...

【专利技术属性】
技术研发人员:马兴远林立岳大川蔡世星李小磊伍德民
申请(专利权)人:深圳市奥视微科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1