一种数显微槽测量尺制造技术

本实用新型专利技术的目的是要提供一种可以对微槽进行测量的数显微槽测量尺，包括标尺、测量部件及数显部件。所述测量部件位于标尺左部，分为位于标尺上方的测量块Ａ和测量刀Ｂ以及位于标尺下方的测量刀Ｃ和测量刀Ｄ，位于标尺上方的测量块Ａ和测量刀Ｂ的中部设置有突起的止位块，所述止位块的端口与测量块和测量刀的端口平齐；所述测量块Ａ端口呈矩形块状，所述测量刀Ｂ、Ｃ、Ｄ的端口呈刀刃状，刀口角度为１５度到２０度。测量块Ａ和测量刀Ｂ测量深度，测量刀Ｃ和测量刀Ｄ测量余厚。本实用新型专利技术实现了对微型槽的测量，即同时实现了对微槽的深度测量和余厚测量，方便实用。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量工具，尤其是一种数显微槽测量尺。
技术介绍
目前，普通测量尺如电子数显卡尺具有读数直观、使用方便、功能多样的特点。它主要由尺体、传感器、控制运算部分和数字显示部分组成。按照传感器的不同形式划分，电子数显卡尺分为光栅式和容栅式两大类。光栅式、电子数显卡尺是采用光栅作为传感器，将尺框位移量以莫尔条纹的变化转换成电信号的变化输入控制部分进行运算，再由数字显示部分将测量结果显示出来，使人一目了然。这种类型的电子数显卡尺精度较高，但耗电量和体积较大。容栅式电子数显卡尺是采用容栅作为传感器，利用固定极板与动极板之间电容量的变化所发出的电信号，将它输入控制运算部分进行运算，再由数字显示部分将测量结果显示出来。这种电子数显卡尺的结构比较简单，耗电量较小，但是其测量精度略低于光栅式电子数显卡尺。数字显示部分主要采用发光二极管和液晶显示两种形式，他们各有利弊尽管发光二极管形式的耗电较多，体积也比较大，显示功能较差，但是显示比较清晰。而液晶显示形式的耗电较少，显示功能较好，却不如发光二极管形式的清晰， 一般常用的是液晶显示的电子数显卡尺。但现有的数显测量尺只能测量较宽的距离，对于微距尤其是微槽(如薄板工件上等于或小于0. 1毫米的槽)，现有测量尺无法进行测量。
技术实现思路
本技术的目的是要提供一种可以对微槽进行测量的数显微槽测量尺。 本技术是这样实现的一种数显微槽测量尺，包括标尺、测量部件及数显部件，其特征在于所述测量部件位于标尺左部，分为位于标尺上方的测量块A和测量刀B以及位于标尺下方的测量刀C和测量刀D，所述测量块和测量刀呈L型，位于标尺上方的测量块A和测量刀B的中部设置有突起的止位块，所述止位块的端口与测量块和测量刀的端口平齐；位于标尺左端的测量块A和测量刀C为固定设置，位于标尺靠近数显部件的测量刀B和测量刀D可沿标尺滑动；所述测量块A端口呈矩形块状，所述测量刀B、 C、 D的端口呈刀刃状，刀口角度为15度到20度。 对微槽的测量一般有深度测量和余厚测量两种深度测量是测量工件微槽的深度，余厚测量用于在工件两面开槽的情况下，测量两个槽之间的厚度即余厚。当对工件进行深度测量时，将工件置于测量块A和测量刀B之间，测量块A紧贴工件的另一面，把测量刀B滑入槽中，由于刀刃很薄，可以轻易地进入槽中到达槽底，此时在数显部件上显示的数值为槽的深度。当对工件进行余厚测量时，将测量刀C和测量刀D分别置入工件两面的微槽中，并均到达槽底，此时数显部件上显示的数值为工件两面开槽后的余厚。 为了防止测量部件(包括一个测量块和三个测量刀)之间互相碰撞或交叉而损坏刀口或导致测量出现误差，在测量块A和测量刀B的中部设置有止位块，止位块的端口与测量块和测量刀的端口平齐，这样，当两边止位块相接触时，测量刀B和测量刀D停止向左滑动，就不会损坏刀口或导致测量出现误差。 基于上述构思的本技术实现了对微型槽的测量，即同时实现了对微槽的深度测量和余厚测量，方便实用。附图说明图1是本技术实施例的总体结构示意图； 图2是本技术实施例的侧面图； 图3是本技术实施例的立体图； 图4是本技术实施例的深度测量示意图； 图5是本技术实施例的余厚测量示意图。 图中1.标尺2.数显部件3.测量块A 4.测量刀B5.测量刀C 6.测量刀D7.止位块具体实施方式以下结合附图和典型实施例对本技术作进一步说明。 在图中，当对工件进行深度测量时，将工件置于测量块A(3)和测量刀B(4)之间，测量块A(3)紧贴工件的另一面，把测量刀B(4)沿标尺(1)滑入槽中，由于刀刃很薄，可以轻易地进入槽中到达槽底，此时在数显部件(2)上显示的数值为槽的深度。当对工件进行余厚测量时，将测量刀C(5)和测量刀D(6)分别置入工件两面的微槽中，并均到达槽底，此时数显部件(2)上显示的数值为工件两面开槽后的余厚。 在测量块A(3)和测量刀B(4)的中部设置有止位块(7)，止位块(7)的端口与测量块和测量刀的端口平齐，这样，当两边止位块(7)相接触时，测量刀B(4)和测量刀D(6)停止滑动。权利要求一种数显微槽测量尺，包括标尺、测量部件及数显部件，其特征在于所述测量部件位于标尺左部，分为位于标尺上方的测量块A和测量刀B以及位于标尺下方的测量刀C和测量刀D，所述测量块和测量刀呈L型，位于标尺上方的测量块A和测量刀B的中部设置有突起的止位块，所述止位块的端口与测量块和测量刀的端口平齐；位于标尺左端的测量块A和测量刀C为固定设置，位于标尺靠近数显部件的测量刀B和测量刀D可沿标尺滑动；所述测量块A端口呈矩形块状，所述测量刀B、C、D的端口呈刀刃状，刀口角度为15度到20度。专利摘要本技术的目的是要提供一种可以对微槽进行测量的数显微槽测量尺，包括标尺、测量部件及数显部件。所述测量部件位于标尺左部，分为位于标尺上方的测量块A和测量刀B以及位于标尺下方的测量刀C和测量刀D，位于标尺上方的测量块A和测量刀B的中部设置有突起的止位块，所述止位块的端口与测量块和测量刀的端口平齐；所述测量块A端口呈矩形块状，所述测量刀B、C、D的端口呈刀刃状，刀口角度为15度到20度。测量块A和测量刀B测量深度，测量刀C和测量刀D测量余厚。本技术实现了对微型槽的测量，即同时实现了对微槽的深度测量和余厚测量，方便实用。文档编号G01B21/18GK201463869SQ20092007811公开日2010年5月12日 申请日期2009年7月10日 优先权日2009年7月10日专利技术者蔡大明 申请人:上海华楚科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数显微槽测量尺，包括标尺、测量部件及数显部件，其特征在于所述测量部件位于标尺左部，分为位于标尺上方的测量块Ａ和测量刀Ｂ以及位于标尺下方的测量刀Ｃ和测量刀Ｄ，所述测量块和测量刀呈Ｌ型，位于标尺上方的测量块Ａ和测量刀Ｂ的中部设置有突起的止位块，所述止位块的端口与测量块和测量刀的端口平齐；位于标尺左端的测量块Ａ和测量刀Ｃ为固定设置，位于标尺靠近数显部件的测量刀Ｂ和测量刀Ｄ可沿标尺滑动；所述测量块Ａ端口呈矩形块状，所述测量刀Ｂ、Ｃ、Ｄ的端口呈刀刃状，刀口角度为１５度到２０度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡大明，
申请(专利权)人：上海华楚科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]