检验装置以及集成在其中的X光装置与称量装置制造方法及图纸

技术编号:38391558 阅读:10 留言:0更新日期:2023-08-05 17:44
本发明专利技术涉及检验装置,其在最好无帘幕的防辐射壳体(3)内包含用于借助电磁辐射检验的装置、尤其是X光装置(5)和称量装置(11);其高度在z方向上、长度在x方向上及宽度在y方向上延伸;具有共用于装置(5)与称量装置(11)的连续输送带(19),用以在输送方向(x方向)上将产品(33)从检验装置(1)的入口区(39)输送至用于借助电磁辐射检验的区域、从那里输送至称量区域并从那里输送至检验装置(1)的出口区(41),连续输送带(19)的上分支在其从称量区域至出口区(41)的路径中借助倾斜区域(17)克服与z方向相反的高度差,倾斜区域(17)的至少一个局部区域或多个局部区域或整个倾斜区域被共用的连续输送带(19)环绕,称量装置(11)在检验装置(1)中沿输送方向(x方向)看紧接布置在倾斜区域(17)之前。域(17)之前。域(17)之前。

【技术实现步骤摘要】
检验装置以及集成在其中的X光装置与称量装置


[0001]本专利技术涉及一种检验装置,其在最好无帘幕的防辐射壳体中装有借助电磁射线的检验装置、尤其是X光装置和称量装置。

技术介绍

[0002]这样的检验装置例如被用在食品业还有药业中,其中,未包装的产品也被检查其质量和重量是否无缺陷。
[0003]这样的产品检验通常在生产线中进行,其中,尤其是对于X光检验而必须规定特殊防护措施。
[0004]特别是在轻便产品情况下以及出于环保技术考虑,设置重型的由铅等材料构成的防辐射帘幕是成问题的。故除了不希望地使用某些材料,也有如下危险,即,在带上输送的产品的位置被改变并且其检查产生错误结果。
[0005]此外,不希望的位置变化也会在产品继续处理例如贴标志时造成问题。

技术实现思路

[0006]因此,本专利技术的任务是提供一种检验装置,其避免上述问题并且不仅允许借助电磁射线的检验且尤其是X光检验、也允许称量产品(它们已被包装、未包装或包装在尚打开的容器中),其中,检验结果极其精确并且避免了错误结果。另外,力求获得在输送方向上的短小构造。
[0007]根据本专利技术,该任务通过一种具有权利要求1的特征的检验装置完成。
[0008]因为检验装置不仅包括借助电磁射线的检验装置且尤其是X光装置、也包括称量装置,故有利地实现在x方向(输送方向)上的短小构造。
[0009]通过事先将借助电磁射线(在输送方向上)的检验装置、尤其是X光装置就位在称量装置之前来形成用于带和或许产品的行程的平稳路段,故在称量装置区域中带平稳运动并且带颤动危险降低,实现整个装置的更短小构造(或更短的结构长度)。
[0010]为了在还有充分的防辐射保护下实现高度精度的称重结果,该检验装置在出口侧具有倾斜区域和沿x方向看紧接布置在倾斜区域之前的称量装置。该倾斜区域最好设计成板、尤其是弯折金属板。显然也可以想到通过至少一个转向辊形成倾斜区域。
[0011]因为该带根据本专利技术就部分来看经由倾斜区域(在考虑带弹性下)被向下牵拉并贴沿其被引导,故带在紧接在倾斜区域之前的区域且因而在称量装置区域具有均匀的带运行而没有在z方向(高度方向)上的运动(抬起)。
[0012]由于相比于设于上游的带区有更大的带张紧程度(即便略大),可以避免不希望的带颤动或凸脊形成(在转向部位或带方向改变之前)。至少在称量装置区域内的部分牵拉可以通过带导向机构的几何形状、相应地将驱动辊尤其是牵引辊布置成更靠近称量装置区域和/或在产品流中(在称量装置之前)位于上游的相应辊和/或位于上游的带导向机构而以制动作用(迟滞)被加强。最好在带运动方向上将从称量装置到驱动辊21的带段(出口侧)设
计成比从驱动辊到称量装置的带段(带几何形状)短。
[0013]由于带的走向如前所述被设计成该带不仅在称量装置的区域中、也最好在借助电磁射线(在输送方向上)的检验装置、尤其是X光装置的区域中被牵拉,故有利地也避免在X光装置中在带运动方向上的凸脊形成、伸长等。否则,这样的作用可能在借助电磁射线的检验中、尤其是X光检验中非期望地影响所采集图像的同步性和质量,尤其是单位时间的行数和单位长度的行数。
[0014]带最好以规定的速度变化曲线、尤其以恒定速度被驱动,以实现借助电磁射线(在输送方向上)的检验装置、尤其是具有低成本的行式摄像头的X光装置的运行,行式摄像头需要规定的单位时间行数。
[0015]倾斜区域最好如此布置在检验装置中,即,其重量在对在先照射X光的产品进行称重的情况下未予考虑。相应地,在称量装置紧邻倾斜区域布置的情况下在称量装置的负载承载部分与倾斜区域之间不存在(力封闭)连接,故倾斜区域的自重在称重时始终不予考虑。
[0016]另外,可以通过引导带经过倾斜区域来避免在倾斜区域前方的产品称重受到带导向机构的可能有的竖向力分量的影响。
[0017]根据本专利技术,为了避免带过渡点和随之而来的更高的清洁成本,借助电磁射线(在输送方向上)的检验装置、尤其是X光装置以及称量装置和倾斜区域的至少一个局部区域被同一连续输送带环绕。
[0018]通过该倾斜区域,即便没有附加的防辐射帘幕,也避免X光(或其它有害辐射例如像太赫辐射)从防辐射壳体漏出。由此省掉此外所需的防辐射帘幕和进而免除其问题如其脏污和其磨损。相应地也可以放弃防辐射帘幕、尤其是铅帘幕的清洁和磨损监测。
[0019]“辐射因反射而从防辐射壳体漏出”也通过相比于X光检验装置的带平面位于更低位置的出口区或出口孔而被充分阻截。
[0020]在此情况下要注意的是,X光装置(带有X光源)因其(在输送方向上)就位在称量装置之前而没有紧邻出口区。
[0021]不过,在借助电磁射线例如借助光学摄像头(也用可见光、红外线、紫外线等)的其它检验中,通常也需要防辐射壳体以便例如防止外界光或外来辐射进入。在此情况下,代替如上所述的辐射外泄地,可以通过相似方式防止辐射进入至相应的探测器。
[0022]尤其是对于摄像头的明

暗对比特别有利的是借助防辐射壳体屏蔽掉不希望的外界光(防进入)。
[0023]根据本专利技术,连续带的上分支在其从称量区域至出口区的路径中借助倾斜区域克服与z方向相反的高度差。通过这种方式,出口区的高度可以适应于不同的状况。
[0024]在本专利技术的优选设计中,该称量装置被设计成模块以便能被装入检验装置中和从中取出。在此,作为倾斜区域的部段的至少一个局部区域以整体组成部分的形式位置固定地安置在模块式构造的称量装置上。在优选方式中,该部分被设计成板、尤其是弯折的金属板。显然也可以想到该倾斜区域的这一部分例如由一个、两个或更多的转向辊形成。
[0025]模块式整体结构允许以在工厂事先相对于称量装置完成校准地制造部段,从而可以省掉在装入模块时通常需要的校准。
[0026]故可确保该部段的在z方向上的最高点与称量装置或其称量平台的最高点齐平或
略高出,从而带导向机构的竖向力分量没有直接影响产品称重。
[0027]此外,因模块式结构而简化了装置的维护、清洁、维修等,因为除非带松弛或被取下,否则这些操作能够在无需拆开安装好的设备的情况下达成。
[0028]在本专利技术的其它设计中,该倾斜区域的部段如此布置在称量装置处,即,其重量在对在先X光透视产品进行称重时未予考虑。例如该倾斜区域可以布置在称量装置或称量单元本身的(位置固定的)本体区域上,使得称量装置的负载承载区域保持不受其影响。
[0029]用于带的驱动装置也可以安装在本体上,从而该驱动装置不必在称重时作为预加负载予以考虑。
[0030]在本专利技术的特别设计中,该倾斜区域的至少一个局部区域被设计成抛料器或拣选机的组成部分。这样的抛料器或拣选机在此情况下可被设计成自身的带式输送机或也可被设计成简单的滑道。
[0031]由此该检验装置例如可以抛除有误产品或拣选不同的检验结果,而不必在生产线中设置与之相关的抛料器或拣选装置。例如可以想到以在z方向上本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检验装置,其在最好无帘幕的防辐射壳体(3)内包含用于借助电磁辐射检验的装置、尤其是X光装置(5)和称量装置(11),a)其中,该检验装置(1)的高度在z方向上、其长度在x方向上以及其宽度在y方向上延伸,b)具有共用于所述借助电磁辐射检验的装置(5)与该称量装置(11)的连续输送带(19),用以在输送方向(x方向)上将产品(33)从该检验装置(1)的入口区(39)输送至用于借助电磁辐射检验的区域、从那里输送至称量区域并从那里输送至该检验装置(1)的出口区(41),c)其中,该连续输送带(19)的上分支在其从该称量区域至该出口区(41)的路径中借助倾斜区域(17)克服与z方向相反的高度差,d)其中,该倾斜区域(17)的至少一个局部区域或多个局部区域或整个倾斜区域被该共用的连续输送带(19)环绕,e)其中,该称量装置(11)在该检验装置(1)中沿输送方向(x方向)看紧接布置在该倾斜区域(17)之前。2.根据权利要求1所述的装置,其特征是,该倾斜区域(17)的一个局部区域或多个局部区域或整个倾斜区域位于该防辐射壳体(3)内。3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征是,该称量装置(11)被设计成模块以便能安装到该检验装置(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:西奥
申请(专利权)人:伟博泰有限公司
类型:发明
国别省市:

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