试样系统技术方案

本发明专利技术涉及一种具有多个元件的用于测试测量系统的系统，借此可以形成由多个接连和/或并排布置的容纳件或间隔件组成的行列，其中，所述容纳件具有用于容纳单独的测试砝码的多个凹处。多个凹处。多个凹处。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试样系统
[0001]本专利技术涉及一种用于测试测量系统的试样系统以及一种用于这种测试的方法。
[0002]工业测量系统和检视系统尤其是秤必须例如在构型许可、校准试验、校定或其它测试中被检查其是否能按规定工作、尤其是测量正确性和测量稳定性。这优选借助具有规定的要由测量系统确定的物理性能的合适的试样完成。在秤的情况下，这例如可以是一定重量或沿本体的一定长度或宽度的一定重量分布。
[0003]动态工作的测量系统设计用于使产品运动(比如借助输送装置如输送带)，并且在运动期间检测产品的一定物理性能。因此，为了能测试这种系统，必须使具有已知性能的合适试样运动经过测量系统。
[0004]视测量系统的测量范围或待测的物理单元(尤其是重量或重量分布)的数量级的不同，此时需要事先提供一种正好具有待测性能(尤其是一定的试验负荷)的试样。动态秤的按规定的测试例如需要下述试样，它(优选以一定的长度和/或宽度)具有一定的重量或沿长度或宽度的重量分布。
[0005]另外，大型试样必须配备有尽量平坦的耐磨损底面，这牵涉到高的成本。最后，试样必须是尽量恒定的，以便能提供可再现的测试结果。
[0006]本专利技术的任务因此是提出一种用于制作试样的系统和一种用于借助这种试样测试测量系统的方法。该任务通过一种根据权利要求1的试样系统或一种根据权利要求14的方法来完成。
[0007]本专利技术源于以下认识，即，可以借助试样系统制作适于测试测量系统的试样，该试样系统由若干单独的元件组成。根据本专利技术的这种试样系统在此包括至少两个能够直接相互连接的元件。所述元件能在纵向X上前后相继和/或在垂直于纵向X的优选水平的横向Y上并排布置和相互连接，以便形成包括所述至少两个元件的一个行列，该行列是要被用于测量系统的测试的试样。由至少两个元件构成的行列于是可以形成可预定的总试验负荷、可预定的X长度、可预定的Y宽度或其它物理参数，其应由测量系统精确测知。该行列为此被引导经过测量系统的表面，该表面例如可以是位置固定的秤台或秤带。
[0008]根据本专利技术所单独预设的试样系统元件可以通过模块方式灵活组装或相互连接。代替针对每个期望的试验负荷提供自己的试样，本专利技术的系统以简化方式提供可由各不同元件共同组成的总试验负荷。库存和运输成本由此被显著降低。
[0009]单独元件的用于安放在测量系统表面上的耐磨损平坦底面的设计也以比连贯的刚性试样(其长度实际上可能超过1米)更廉价简单的方式实现。
[0010]试样系统的至少其中一个元件是容纳件，其设计用于容纳单独的测试砝码。通过将这些测试砝码装入设置在容纳件内的凹处中，可以达成可预定的理想重量和可预定的重量分布(首先在单独的容纳件内)。
[0011]根据本专利技术的容纳件以长度L
A
沿纵向X延伸，以宽度B
A
沿横向Y延伸并以高度H
A
沿正交于纵向X和横向Y延伸的高度方向Z延伸。它还具有用于安放在测量系统的表面上的底面F。
[0012]本专利技术的试样系统的至少两个元件中的另一个可以是前述类型的另一个容纳件。
但其尺寸设定可以部分或完全不同于另一个容纳件，从而例如该宽度相同但长度不同。但或者第二元件也可以是一个间隔件，其并非设置用于容纳测试砝码，而是主要应该形成由所述元件构成的行列的长度或宽度的一部分，而本身没有显著的重量占比。一个间隔件以长度L
D
沿纵向X延伸，以宽度B
D
沿横向Y延伸并以高度H
D
沿高度方向Z延伸。
[0013]试样系统的容纳件和间隔件(统称“构件”)为了形成行列而可以在纵向和/或横向上相互连接，其中，一个容纳件可以连接至与之紧邻的另一个容纳件或间隔件。同样，一个间隔件可以连接至另一个间隔件或一个容纳件。如果该试样系统也规定横向连接，则纵向连接根据本专利技术独立于横向连接，从而一个元件在纵向和横向上可以连接至不同的或相同的其它元件。根据本专利技术，试样系统的容纳件和/或间隔件可以按照任何顺序、数量、长度和宽度模块式地组装成一个行列，该行列通过适当地给行列的容纳件装载测试砝码而具有可预定的总试验负荷和/或沿其长度和宽度的重量分布。自然，也可以针对该行列的每个单独元件出现一定的试验负荷和重量分布。
[0014]该试样系统的元件具有合适的连接机构，以便将在纵向或横向上应彼此相邻布置的元件相互连接。所述连接应该是可分离的以便能形成相互连接的元件的不同排布。优选地，所述连接可以按无工具的方式或人工地分离。
[0015]试样系统的每个容纳件包括主体，其具有设计用于安放在测量系统上的、优选平坦的底面和一个或多个凹处。该底面可以设计成是连贯的或具有例如因所述凹处而出现的凹部。所述凹处设计用于暂时容纳单独的测试砝码并且可以具有不同的形状。优选地，所述凹处设计成圆筒形，用以容纳具有类似尺寸的柱形测试砝码。优选地，所述凹处的尺寸尽量精确配合地适应于或许已有的标准化测试砝码尺寸，以便在行列运动经过测量系统时可靠地且基本无间隙地保持该测试砝码。
[0016]凹处优选从与底面相对的顶侧O起在高度方向H上延伸入主体，其中，该顶侧优选平行于在主体底侧上的底面来形成。这些凹处可以设计成不同深浅，以允许布置不同高度的测试砝码。为此，该凹处在可预定的深度具有合适的止挡机构，以保持装入凹处中的测试砝码。在此，止挡机构可以是封闭的底部，因此该凹处以盲孔的形式构成。或者，一个凹处也可以完全穿过该主体且同时具有凸筋或腹板，以确定所装入的测试砝码的高度位置。不同于盲孔地，该主体的贯通开口可更容易清洁，还避免污物在凹处底面中汇集。
[0017]凹处可以具有(优选以能够人工无工具操作的方式)与所装入的测试砝码配合的锁止机构，以避免测试砝码意外掉出凹处。凹处可以具有不同的几何横截面形状，其中，除了优选呈圆筒形的凹处，还考虑矩形的或正方形的凹处以便能良好地容纳相应设计的砝码。
[0018]试样系统的元件优选由金属材料或塑料制造。也考虑最好重量轻的复合材料。所述元件例如可以被铣削、以压铸方式或借助3D打印法来制造。
[0019]根据本专利技术的间隔件具有间隔件本体，其底面用于安放在测量系统的表面上。间隔件与此相关地与容纳件相似。为了减轻重量，它优选以蜂窝或杆系的类型构成。在此，该间隔件本体可以配设有至少一个凹口，其在高度方向Z上部分或完全穿过该本体。该容纳件根据本专利技术担负在容纳件内的规定位置容纳相同的或不同的砝码件的功能，而该间隔件用于在单独元件之间、尤其在两个容纳件之间产生并基本上保持可预定的间距。
[0020]为了能将试样系统的各个元件相互连接，设有多个连接机构。术语“连接机构”在
此应该包含在各个元件上的、连接两个元件所需要的所有部分或接合区。优选地，该连接机构包括一个弹性部分，在该弹性部分上在两侧连接有连接件，连接件本身可以分别连接至一个元件的接合区。作为连接件例如考虑螺纹的一部分，其可穿过在一个元件的一侧上的开口，以便在开口的另一侧以螺母拧紧到各自元件上。或者可以想到具有(例如蘑菇状)侧凸的腹板本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种试样系统，包括至少两个能相互连接的元件，这些元件能在纵向(X)上接连和/或在垂直于该纵向(X)的优选水平的横向(Y)上并排布置，以便形成包括所述至少两个元件的行列(T)并且以便引导该行列经过测量系统的一表面(W)，其中，所述行列具有可预定的总试验负荷和/或可预定的X长度和/或可预定的Y宽度，a)其中，所述至少两个元件中的至少一个第一元件设计成容纳件(A)，该容纳件以沿纵向(X)的长度(L
A
)、沿横向(Y)的宽度(B
A
)和沿正交于该纵向(X)和该横向(Y)二者延伸的高度方向(Z)的高度(H
A
)延伸并具有用于安放在该表面(W)上的底面(F)，b)并且其中，所述至少两个元件中的至少另一个元件(A,D)被设计成b1)另一容纳件(A)，其设定尺寸与该第一容纳件(A)的设定尺寸一致或在至少一个尺寸上与之不同，或者b2)间隔件(D)，其以沿纵向(X)的长度(L
D
)、沿横向(Y)的宽度(B
D
)和沿高度方向(Z)的高度(H
D
)延伸；c)其中，每个设计为容纳件(A)或间隔件(D)的元件(A,D)具有连接机构(K)，以便能将两个在X方向或Y方向上前后紧接的或并排的元件(A,D)可分离地相互连接，d)并且其中，每个容纳件(A)具有带有一个或多个凹处(U)的主体(R)，其中，至少一个凹处(U)设计用于暂时容纳测试砝码(G)。2.根据权利要求1所述的试样系统，还包括至少一个间隔件(D)，以便能按照可预定的总长度和/或总宽度由多个接连和/或并排布置的且相互连接的元件(A,D)构成一个行列(Z)，其中，该试样系统的间隔件(D)并非设置用于容纳测试砝码。3.根据权利要求1或2所述的试样系统，其特征是，该容纳件(A)的连接机构(K)设计成与该间隔件(D)的连接机构(K)相同，以便选择性地将一个行列(T)的两个间隔件(D)或两个容纳件(A)或一个容纳件(A)和一个间隔件(D)直接相互连接。4.根据前述权利要求之一所述的试样系统，其特征是，该容纳件(A)的主体(R)具有背对该底面(F)的顶侧(O)，其中，所述凹处(U)以垂直于该顶侧(O)和/或沿该高度方向(Z)的方式向着该主体(R)之内延伸。5.根据前述权利要求之一所述的试样系统，其特征是，与该长度(L
A
,L
D
)和/或该宽度(B
A
,B
D
)相比，所述容纳件(A)的和/或所述间隔件(D)的高度(H
A
,H
D
)相对小，因此所述元件(A,D)形成优选扁平的物体，其中，优选适用的是：a)(L
A
,L
D
)>(H
A
,H
D
)和/或(B
A
,B
D
)>(H
A
,H
D
)，优选(L
A
,L
D
)>5
·
(H
A
,H
D
)和/或(B
A
,B
D
)>3
·
(H
A
,H
D
)，和/或b)H
A
＝H
D
，和/或c)B
A
＝B
D
。6.根据前述权利要求之一所述的试样系统，其特征是，该至少一个间...

【专利技术属性】
技术研发人员：扬，
申请(专利权)人：伟博泰有限公司，
类型：发明
国别省市：