结构光条纹采样数据深度图像的双四导六插值方法技术

结构光条纹采样数据深度图像的“双四导六”插值方法，传统的结构光条纹采样深度图像插值方法会严重地改变原始数据的拓扑结构，进而影响到后续三维信息复原结果的逼真程度。本发明专利技术的方法包括：Ａ、选取一个矩形模板计算待插值像素上、下位置的辅助点；Ｂ、选取一个十字形模板计算待插值像素的最终插值结果，此十字形模板中上、下位置的像素为第一步计算得到的上、下位置辅助点，左、右位置的像素为待插值像素水平方向上左、右位置的像素；Ｃ、根据两次插值的位置结构信息，推导出一种“双四导六”数学计算模型，简化最终插值的计算。本发明专利技术用于对结构光条纹的采样数据进行加密。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种结构光条纹采样数据深度图像的插值方法。
技术介绍
在非接触三维测量技术中，光学三维测量技术是获取物体三维信息最有效的手段 之一。目前视觉三维测量技术的重点发展方向包括结构光法、立体图像法、莫尔法、全息法、 激光雷达法等。近年来，结构光法三维信息测量技术取得了长足的进步，显示了其在分辨率及测 量速度上的优势，已经成为三维测量领域中非常重要的研究方向之一。用结构光法测量并重建空间曲面时，其重建精度主要受到条纹采样宽度的影响。 理论上讲，结构光法中的使用的条纹，采样宽度映射到图像平面时，可以达到1个像素甚至 是亚像素粗细。但实际上，如果条纹宽度取到1个像素或更低，用图像处理技术提取此条纹 数据时误差极大，难以用于后续的曲面重建工作。所以，在实际应用中，条纹的采样宽度至 少要取到4个像素左右。这就造成了采样数据横、纵分辨率不一致，一个方向上点云比较密 集，而另一个方向上点云比较稀疏，进而造成重建出的曲面中含有大量的狭长三角形，与原 曲面相比存在严重的失真。因此，对结构光条纹的采样数据进行加密势在必行，这就需要用 到插值技术。目前，常用的插值方法有最邻近插值法、双线性插值法和三次卷积插值法等等。其 中，最邻近插值法原理简单、执行速度快，插值精度较低；三次卷积插值法实现复杂、执行速 度慢，插值精度高；双线性插值法的执行速度介于二者之间，插值精度也高，在实际中有广 泛的应用。传统的双线性插值方法采用一个正方形模板，提取此正方形4个角点的像素作为 插值基准数据，而生成的数据会出现在正方形中心位置。将此方法用于结构光条纹采样数 据深度图像的插值，插值结果会出现在原图像两行像素之间，这会严重地改变原始数据的 拓扑结构，进而影响到后续三维信息复原结果的逼真程度。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种结构光条纹采样数据深度图像的“双四导六”插值方法， 此方法可以克服双线性插值方法的缺陷，在不改变原始数据拓扑结构的前提下，以更高的 可信度完成插值。上述的目的通过以下的技术方案实现一种结构光条纹采样数据深度图像的“双四导六”插值方法，该方法包括如下步 骤A、选取一个矩形模板计算待插值像素上、下位置的辅助点，此矩形模板包含两行 三列像素，受结构光条纹采样数据特征的影响，此模板的中间列像素为空白，计算上下位置 辅助点时，以矩形的四个角点像素为插值基准点；B、选取一个十字形模板计算待插值像素的最终插值结果，此十字形模板中上、下 位置的像素为第一步计算得到的上、下位置辅助点，左、右位置的像素为待插值像素水平方 向上左、右位置的像素；C、根据两次插值的位置结构信息，推导出一种“双四导六”数学计算模型，简化最 终插值的计算。所述的结构光条纹采样数据深度图像的“双四导六”插值方法，步骤B中所述的在 深度图像的上下边缘位置插值时，上位置或下位置辅助点无法计算，插值方法将采用退化 后的形式进行计算。所述的结构光条纹采样数据深度图像的“双四导六”插值方法，步骤C中所述的 “双四导六”数学计算模型为上位置辅助点的计算用待插值点邻域中上位置共4个像素，下 位置辅助点的计算用待插值点邻域中下位置共4个像素，一共用到两次4像素插值，两次插 值中，待插值点邻域中间位置的2个像素被重复使用，这样可以根据各像素的位置结构信 息，把最终插值的计算简化为待插值点邻域上中下6个像素的加权结果。本专利技术的有益效果1.本专利技术方法，用上、下位置辅助点增强最终插值结果的可信度。2.本专利技术方法，用十字形模板进行最终插值的计算，生成的插值结果仍然在原像 素行的空缺位置，不会改变原始数据的拓扑结构。3.本专利技术方法，用“双四导六”数学计算模型，大大增强了本方法在实际中的应用 效果。4.本专利技术方法，充分考虑了在图像边缘处进行插值时的退化情况，使整个方法具 有更高的鲁棒性。附图说明附图1是待插值点和周围邻域8个像素点的图像形式，☆符号为待插值点。附图2是用矩形模板计算上、下位置辅助点的示意图， 符号表示辅助点。附图3是用十字形模板计算最终插值的示意图。附图4是在图像上边缘插值的示意图。具体实施例方式实施例1 结构光条纹采样数据深度图像的“双四导六”插值方法，该方法包括如下步骤A、选取一个矩形模板计算待插值像素上、下位置的辅助点，此矩形模板包含两行 三列像素，受结构光条纹采样数据特征的影响，此模板的中间列像素为空白，计算上下位置 辅助点时，以矩形的四个角点像素为插值基准点；B、选取一个十字形模板计算待插值像素的最终插值结果，此十字形模板中上、下 位置的像素为第一步计算得到的上、下位置辅助点，左、右位置的像素为待插值像素水平方 向上左、右位置的像素；C、根据两次插值的位置结构信息，推导出一种“双四导六”数学计算模型，简化最 终插值的计算。4步骤B中所述的在深度图像的上下边缘位置插值时，上位置或下位置辅助点无法 计算，插值方法将采用退化后的形式进行计算。步骤C中所述的“双四导六”数学计算模型为上位置辅助点的计算用待插值点邻 域中上位置共4个像素，下位置辅助点的计算用待插值点邻域中下位置共4个像素，一共用 到两次4像素插值，两次插值中，待插值点邻域中间位置的2个像素被重复使用，这样可以 根据各像素的位置结构信息，把最终插值的计算简化为待插值点邻域上中下6个像素的加 权结果。设定结构光条纹采样宽度为5个像素，采样时取条纹边缘和中心线作为采样数 据，这样映射成最终的深度图像时，X方向会隔列损失1个像素宽度的数据，这也是可能损 失最小的情况了。以这样的图像作为初始输入，按照本方法进行插值。插值前，取一个待插值点及其周围邻域的8个像素点，如图1所示。其中，☆符号即 为要插值的位置，此位置所在列为采样数据缺失列，因此其上下位置均无实际像素值ApB1 为待插值点邻域上方的像素，A2、B2为待插值点邻域中间的像素，A3、B3为待插值点邻域下方 的像素。第一步，选取矩形模板计算待插值像素上、下位置的辅助点，此矩形模板包含两行 三列像素，如图2所示。图中，Cp C2为上、下位置的辅助点，用 符号表示。从图中可以看 出，经此步操作，辅助点生成在像素行间。此步骤的计算公式如下C1 = abAi+ad-WBi+d^bA^d-a) (l"b)B2(1)C2 = cdA2+c (1-d) B2+ (l_c) dA3+ (l_c) (l_d) B3(2)式中，a、1-a、b、l_b、c、l_c、d、1-d为矩形模板中各插值基准点在对辅助点的影响 权重，且a、b、c、d满足如下的关系a+b = 1, c+d = 1(3)第二步，选取一个十字形模板计算待插值像素的最终插值结果，此十字形模板如 图3所示，图中上下位置的像素为第一步计算辅助点，左右位置的像素为待插值像素水平 方向上左右位置的像素。此步骤的计算公式如下D= α C1+β C2+ γ A2+ θ B2(4)式中，D为最终插值结果，α、β、Y、θ为十字形模板中各插值基准点对最终插值 的影响权重，且α、β、Υ、θ满足如下的关系α +β + γ + θ = 1(5)第三步，以上两步是此方法的设计思路，具体实现时，还需作进一步的数学推导。 将式⑴、⑵代入式(4)并整理可得D= α EibA1+α a (I-I3)B1+ A2+Β2(6)+β (l-c)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种结构光条纹采样数据深度图像的“双四导六”插值方法，其特征是：该方法包括如下步骤：　　Ａ、选取一个矩形模板计算待插值像素上、下位置的辅助点，此矩形模板包含两行三列像素，受结构光条纹采样数据特征的影响，此模板的中间列像素为空白，计算上下位置辅助点时，以矩形的四个角点像素为插值基准点；　　Ｂ、选取一个十字形模板计算待插值像素的最终插值结果，此十字形模板中上、下位置的像素为第一步计算得到的上、下位置辅助点，左、右位置的像素为待插值像素水平方向上左、右位置的像素；　　Ｃ、根据两次插值的位置结构信息，推导出一种“双四导六”数学计算模型，简化最终插值的计算。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：范剑英，于舒春，王洋，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：发明
国别省市：93