一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质。该方法包括：调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；通过多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；根据测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；第一信号用于表征控制器发送至存储设备的信号；根据目标取值范围，确定目标采样点。本发明专利技术实施例能够获得最佳采样点，且不通过外接测试，缓解了外接测试带来的信号波动问题，有利于提升信号采集的准确度，可以广泛应用于计算机技术领域。用于计算机技术领域。用于计算机技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及存储器
，尤其是一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]在信号采样中，采样点的选择至关重要，其影响着能否采对信号和采样的稳定性。示例性地，在eMMC内部，控制器和内部存储（NAND）要相互通信，其中控制器要确定采样点的配置（即选择哪一个位置进行采样）来准确接收NAND的信号。相关技术通过在NAND的信号中，将测试信号外引到基板上预留的测试位，再将测试仪器如示波器，逻辑分析仪等接上测试位进行采样测量。但因为外接测试本身就会对传输信号质量造成影响，且内部各模块之间相互通信信号很多，无法全部引出。造成测试结果偏差较大，无法准确得到采样点。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于至少一定程度上解决现有技术中存在的技术问题之一。
[0004]为此，本专利技术的目的在于提供一种准确的采样点的确定方法、系统、装置及存储介质。
[0005]为了达到上述技术目的，本专利技术实施例所采取的技术方案包括：一方面，本专利技术实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种采样点的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；通过所述多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；所述测试数据用于表征在采样频率下接收到的存储设备发回的数据；所述测试采样结果集用于表征基于所述测试采样点和所述采样频率的采样结果集合；根据所述测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；所述第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；所述第一信号用于表征所述控制器发送至所述存储设备的信号；根据所述目标取值范围，确定目标采样点。2.根据权利要求1所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述目标取值范围还可以通过下列步骤确定：在第一频率下，通过所述多个测试采样点对第一数据进行采样，得到第一采样结果集；所述第一数据用于表征在第一频率下接收到的所述存储设备发回的数据；根据所述第一采样结果集，得到第一时长的第一取值范围；在第二频率下，通过所述多个测试采样点对第二数据进行采样，得到第二采样结果集；所述第二数据用于表征在第二频率下接收到的存储设备发回的数据；根据所述第二采样结果集，得到所述第一时长的第二取值范围；根据所述第一取值范围和所述第二取值范围，得到所述第一时长的目标取值范围。3.根据权利要求2所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述方法还包括：在当前采样频率下，若在第一个采样点的采样结果为采样正确，确定所述第一时长小于第一数值；所述第一个采样点用于表征在当前频率下所述控制器的第一档位对应的采样点，所述第一档位用于表征在所述第一信号的第一个变化沿进行采样；所述第一数值用于表征当前采样频率对应的半个采样周期的时长；或者，若当前采样频率下，若在第一个采样点的采样结果为采样不正确，且在第二个采样点的采样结果为采样正确，确定所述第一时长大于所述第一数值，且所述第一时长小于第二数值；所述第二数值用于表征当前采样频率对应的采样周期的时长。4.根据权利要求2所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述第一取值范围和所述第二取值范围取交集，得到所述第一时长的目标取值范围；调整采样频率，对所述目标取值范围进行更新操作。5.根据权利要求1所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述根据所述目标取值范围，确定目标采样点这一步骤，包括：获取目标采样频率；根据目标采样频率，确定目标数据采样窗口；根据所述目标取...

【专利技术属性】
技术研发人员：马睿元，温佳强，赖鼐，龚晖，
申请(专利权)人：珠海妙存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：