本发明专利技术涉及硅钢检测技术领域，具体涉及一种硅钢性能测量的加载装置、软磁测量系统及测量方法。一种硅钢性能测量的加载装置，包括：固定座组件，包括间隔设置的第一固定座和第二固定座，第一固定座上适于固定待测试样品的一端；施力组件，包括滑动座和施力部件，滑动座设于第一固定座和第二固定座之间，滑动座上适于固定待测试样品的另一端，施力部件穿设于第二固定座内，施力部件与滑动座连接以带动滑动座朝向远离或靠近第一固定座的方向运动；磁导计，设于第一固定座和滑动座之间，磁导计内适于放置待测试样品，磁导计在测试状态下产生磁场。本发明专利技术解决硅钢的磁性能和磁畴量检测技术在非受力状态下检测，测试状态无法模拟真实环境问题。境问题。境问题。
【技术实现步骤摘要】
一种硅钢性能测量的加载装置、软磁测量系统及测量方法
[0001]本专利技术涉及硅钢检测
，具体涉及一种硅钢性能测量的加载装置、软磁测量系统及测量方法。
技术介绍
[0002]硅钢通常是指硅含量约为3％的铁硅合金，是一种常见的铁磁材料，具有优异的磁性能，主要用于制备变压器、电抗器、电机等铁心。硅钢磁畴结构特征对其损耗、磁致伸缩、噪声均有重要的影响，在带材实际应用过程中通常会带有外加张应力，如拉伸、卷绕等引起的张应力，这种张应力对材料宏观磁性能会有明显的影响，此时其内部微观磁畴结构也应发生相应变化。
[0003]现有的硅钢的磁性能和磁畴量检测技术均是在非受力状态下进行检测，难以对磁环境下的硅钢受力过程中的磁性能及磁畴结构的变化进行研究，导致测试状态无法模拟真实使用环境，存在测试的结果不够准确。
技术实现思路
[0004]因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的硅钢的磁性能和磁畴量检测技术均是在非受力状态下进行检测，测试状态无法模拟真实使用环境的缺陷，从而提供一种硅钢性能测量的加载装置、软磁测量系统及测量方法。
[0005]为了解决上述问题，本专利技术提供了一种硅钢性能测量的加载装置，包括：
[0006]固定座组件，所述固定座组件包括间隔设置的第一固定座和第二固定座，所述第一固定座上适于固定待测试样品的一端；
[0007]施力组件，所述施力组件包括滑动座和施力部件，所述滑动座设于第一固定座和第二固定座之间，所述滑动座上适于固定待测试样品的另一端，所述施力部件穿设于第二固定座内，所述施力部件与滑动座连接以带动滑动座朝向远离或靠近第一固定座的方向运动；
[0008]磁导计，设于第一固定座和滑动座之间，所述磁导计内适于放置待测试样品，所述磁导计在测试状态下产生磁场。
[0009]可选地，所述施力组件还包括弹性件和拉力计，自所述滑动座朝向第二固定座间依次设置有弹性件、拉力计和施力部件，所述拉力计的两端分别与弹性件、施力部件连接。
[0010]可选地，所述第二固定座设有内孔，所述施力部件穿过内孔以与第二固定座滑动连接。
[0011]可选地，所述第一固定座和第二固定座间设有滑杆，所述滑动座内设有通孔，所述滑杆穿过通孔以与滑动座滑动连接。
[0012]可选地，所述施力组件还包括螺母，所述螺母设于第二固定座背离滑动座的一端，所述螺母与施力部件螺纹连接。
[0013]可选地，还包括底座，所述第一固定座和第二固定座分别固定于底座上。
[0014]可选地，所述底座、施力组件和固定座组件均为非导磁材料。
[0015]可选地，所述第一固定座和滑动座上分别设有至少一个固定端，所述固定端适于固定待测试样品。
[0016].一种软磁测量系统，其特征在于，包括上述的硅钢性能测量的加载装置，还包括控制器、分析仪和显示器，所述控制端分别与磁导计、分析仪和显示器通讯连接，所述分析仪以将待测试样品的分析结果在显示器进行显示。
[0017]一种硅钢性能测量的测量方法，包括以下步骤：
[0018]S1，在测试状态下，施力部件以带动滑动座朝向第二固定座移动，以使待测试样品受到张应力；
[0019]S2，读取张应力大小，在待测试样品表面滴磁悬液显示磁畴结构，再进行拍照。
[0020]本专利技术技术方案，具有如下优点：
[0021]1.本专利技术提供的硅钢性能测量的加载装置，固定座组件，包括间隔设置的第一固定座和第二固定座，第一固定座上适于固定待测试样品的一端；施力组件，包括滑动座和施力部件，滑动座设于第一固定座和第二固定座之间，滑动座上适于固定待测试样品的另一端，施力部件穿设于第二固定座内，施力部件与滑动座连接以带动滑动座朝向远离或靠近第一固定座的方向运动；磁导计，设于第一固定座和滑动座之间，磁导计内适于放置待测试样品，在测试状态下产生磁场。在测试状态下，磁导计提供所需的测量磁场环境，使待测试样品在受力条件下进行磁性能测量使待测试样品在磁环境下进行拉应力的受力测试，施力部件以带动滑动座朝向第二固定座移动，即，施力部件带动滑动座朝向远离第一固定座的方向移动，以使待测试样品受到张应力，读取张应力大小，在待测试样品表面滴磁悬液显示磁畴结构，再进行拍照，得到磁性能下的待测试样品的磁性能及磁畴结构的变化，更加符合待测试样品的真实使用环境，得到的测量结果更加精准，为硅钢施加张应力提供科学的数据参考。
[0022]2.本专利技术提供的硅钢性能测量的加载装置，施力组件还包括弹性件和拉力计，自滑动座朝向第二固定座间依次设置有弹性件、拉力计和施力部件，拉力计的两端分别与弹性件、施力部件连接，以避免施力部件与待测试样品直接接触，拉力计以测试施力部件施加的力的大小。
[0023]3.本专利技术提供的硅钢性能测量的加载装置，第二固定座设有内孔，所述施力部件穿过内孔以与第二固定座滑动连接，以通过施力部件与第二固定座滑动连接以调节施力部件的力。
[0024]4.本专利技术提供的硅钢性能测量的加载装置，第一固定座和第二固定座间设有滑杆，滑动座内设有通孔，滑杆穿过通孔以与滑动座滑动连接，以滑杆与滑动座连接以使滑动座沿滑杆的轴线方向进行移动。
[0025]5.本专利技术提供的硅钢性能测量的加载装置，施力组件还包括螺母，螺母设于第二固定座背离滑动座的一端，螺母与施力部件螺纹连接，通过螺纹连接使施力部件带动待测试样品移动的调节更加精准。
[0026]6.本专利技术提供的硅钢性能测量的加载装置，还包括底座，第一固定座和第二固定座分别固定于底座上，底座起到固定第一固定座和第二固定座的作用。
[0027]7.本专利技术提供的硅钢性能测量的加载装置，底座、施力组件和固定座组件均为非
导磁材料，避免在测试中对待测试样品造成干扰。
[0028]8.本专利技术提供的硅钢性能测量的加载装置，第一固定座和滑动座上分别设有至少一个固定端，固定端适于固定待测试样品，以对待测试样品的两端进行固定。
[0029]9.本专利技术提供的软磁测量系统，由于采用了上述任一项所述的加载装置，因此具有上述任一项所述的优点，还包括控制器、分析仪和显示器，控制器分别与磁导计、分析仪和显示器通讯连接，控制器控制磁导计在测试状态下产生磁场，分析仪以将待测试样品的分析结果在显示器进行显示。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术的实施方式中提供的硅钢性能测量的加载装置的示意图；
[0032]附图标记说明：1、滑杆；2、拉力计；3、施力部件；4、螺母；5、固定端；6、待测试样品；7、底座；8、第一固定座；9、滑动座；10、弹性件；12、第二固定座。
具体实施方式
[0033]下面本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硅钢性能测量的加载装置，其特征在于，包括：固定座组件，所述固定座组件包括间隔设置的第一固定座(8)和第二固定座(12)，所述第一固定座(8)上适于固定待测试样品(6)的一端；施力组件，所述施力组件包括滑动座(9)和施力部件(3)，所述滑动座(9)设于第一固定座(8)和第二固定座(12)之间，所述滑动座(9)上适于固定待测试样品(6)的另一端，所述施力部件(3)穿设于第二固定座(12)内，所述施力部件(3)与滑动座(9)连接以带动滑动座(9)朝向远离或靠近第一固定座(8)的方向运动；磁导计，设于第一固定座(8)和滑动座(9)之间，所述磁导计内适于放置待测试样品(6)，所述磁导计在测试状态下产生磁场。2.根据权利要求1所述的硅钢性能测量的加载装置，其特征在于，所述施力组件还包括弹性件(10)和拉力计(2)，自所述滑动座(9)朝向第二固定座(12)间依次设置有弹性件(10)、拉力计(2)和施力部件(3)，所述拉力计(2)的两端分别与弹性件(10)、施力部件(3)连接。3.根据权利要求2所述的硅钢性能测量的加载装置，其特征在于，所述第二固定座(12)设有内孔，所述施力部件(3)穿过内孔以与第二固定座(12)滑动连接。4.根据权利要求1所述的硅钢性能测量的加载装置，其特征在于，所述第一固定座(8)和第二固定座(12)间设有滑杆(1)，所述滑动座(9)内设有通...
【专利技术属性】
技术研发人员：何承绪，马光，程灵，韩钰，祝志祥，杨芮，迟忠君，
申请(专利权)人：国网北京市电力公司，
类型：发明
国别省市：
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