振动样品杆及振动样品磁强计制造技术

技术编号:38277945 阅读:16 留言:0更新日期:2023-07-27 10:28
本发明专利技术提供一种振动样品杆及振动样品磁强计,振动样品杆包括杆本体、安装件、压电陶瓷振动件及样品件。杆本体用于穿过杜瓦;安装件套设于杆本体的外侧壁,安装件位于杜瓦的一侧,并用于与杜瓦配合形成密封空间;压电陶瓷振动件设置于杆本体上,压电陶瓷振动件位于杜瓦远离安装件的一侧;样品件与压电陶瓷振动件传动连接,样品件设有用于容纳试验样品的样品腔。本申请通过采用压电陶瓷振动件作为振动源,而压电陶瓷振动件不受低温和强磁场的影响,保证振动样品杆在极低温和强磁场下仍能保持较高的灵敏度,提高了振动样品杆及振动样品磁强计的适用性及可靠性。磁强计的适用性及可靠性。磁强计的适用性及可靠性。

【技术实现步骤摘要】
振动样品杆及振动样品磁强计


[0001]本专利技术涉及磁性测量
,特别是涉及一种振动样品杆及振动样品磁强计。

技术介绍

[0002]振动样品磁强计是测量物质磁学性能的一种重要手段,通过电磁感应现象来测量物质的磁化率、矫顽场、饱和磁化强度、剩余磁化强度、磁相变等基本的磁学性质。物质的磁学性质测量是人类生活与生产所不可或缺的基石之一,且物质的磁学性质测量的结果自古至今都有着广泛和重要的应用,例如导航用的指南针、使用高剩磁材料的永磁电动机、使用低矫顽场材料的磁存储器和利用外磁场和磁性药物之间的作用力精准将药物投送到肿瘤病灶的磁靶向技术。振动样品磁强计中最重要的部分即为振动头,振动头振动的振幅、频率和稳定性,是决定振动样品磁强计的动态范围和灵敏度的重要因素。目前振动样品磁强计基本都是铁芯式振动头,在低磁场下具有高动态范围和灵敏度。但是,目前的振动样品磁强计的灵敏度会在强磁场下大幅降低,例如,将目前振动样品磁强计中的振动头置于1 T以内的磁场中,振动样品磁强计的灵敏度从低场下的10
‑5emu大幅降低到高场下的10
‑3emu。

技术实现思路

[0003]基于此,有必要针对目前的振动样品磁强计的灵敏度会在强磁场下大幅降低的问题,提供一种振动样品杆及振动样品磁强计。
[0004]其技术方案如下:一方面,提供了一种振动样品杆,包括:杆本体,所述杆本体用于穿过杜瓦;安装件,所述安装件套设于所述杆本体的外侧壁,所述安装件位于所述杜瓦的一侧,并用于与所述杜瓦配合形成密封空间;压电陶瓷振动件,所述压电陶瓷振动件设置于所述杆本体上,所述压电陶瓷振动件位于所述杜瓦远离所述安装件的一侧;及样品件,所述样品件与所述压电陶瓷振动件传动连接,所述样品件设有用于容纳试验样品的样品腔。
[0005]下面进一步对技术方案进行说明:在其中一个实施例中,所述安装件设有通孔,所述通孔的内壁设有内螺纹,所述杆本体的外侧壁设有外螺纹,所述外螺纹与所述内螺纹螺纹配合。
[0006]在其中一个实施例中,所述杆本体远离所述压电陶瓷振动件的一端设有操作件,所述操作件与所述杆本体传动连接,并用于承接使得所述杆本体相对所述安装件转动的扭力。
[0007]在其中一个实施例中,所述振动样品杆还包括密封组件,所述密封组件套设于所述杆本体的外侧壁并位于所述安装件远离所述杜瓦的一侧,所述密封组件用于将所述安装件与所述杆本体密封配合。
[0008]在其中一个实施例中,所述安装件靠近所述杜瓦的一侧设有密封槽,所述密封槽的外侧壁设有第一法兰,所述第一法兰用于与所述杜瓦密封连接,以使所述密封槽的内壁能够与所述杜瓦配合形成所述密封空间,所述安装件的外侧壁设有开口,所述振动样品杆还包括接头,所述接头设置于所述开口处并与所述开口的内侧壁密封配合,所述振动样品杆还包括电线,所述电线的一端与所述压电陶瓷振动件电连接,所述电线的另一端伸入所述密封空间内并与所述接头的一端电连接。
[0009]在其中一个实施例中,所述振动样品杆还包括盖体,所述盖体盖设于所述开口以封闭所述开口,所述盖体设有与所述密封槽连通的安装孔,所述接头与所述安装孔的内侧壁密封配合。
[0010]在其中一个实施例中,所述杆本体包括相互连接的实心段和空心段,所述压电陶瓷振动件与所述空心段远离所述实心段的一端的连接,所述空心段靠近所述压电陶瓷振动件的一端的外侧壁设有第一穿线孔,所述空心段靠近所述实心段的一端的外侧壁设有第二穿线孔。
[0011]在其中一个实施例中,所述振动样品杆还包括传振件,所述传振件的一端与所述压电陶瓷振动件传动连接,所述传振件的另一端与所述样品件传动连接。
[0012]在其中一个实施例中,所述振动样品杆还包括第一转接件及第二转接件,所述第一转接件用于将所述杆本体的一端与所述压电陶瓷振动件的一端传动连接,所述第一转接件用于将所述压电陶瓷振动件的另一端与所述传振件远离所述样品件的一端传动连接。
[0013]另一方面,提供了一种振动样品磁强计,包括所述的振动样品杆。
[0014]上述实施例中的振动样品杆及振动样品磁强计,使用时,首先,将试验样品放置在样品件的样品腔内,将安装件与杜瓦对应密封连接,使得样品件位于两组反绕串联的探测线圈之间。然后,压电陶瓷振动件工作,使得压电陶瓷振动件通过样品件带动试验样品在两组反绕串联的探测线圈之间振动,进而使得两组反绕串联的探测线圈感应出电压信号。最后,对两组反绕串联的探测线圈感应出的电压信号进行分析以得到试验样品的磁学性能。相对于目前的振动样品磁强计,本申请中的振动样品杆至少具有以下几个优点:1、通过采用压电陶瓷振动件作为振动源,而压电陶瓷振动件不受低温和强磁场的影响,保证振动样品杆及振动样品磁强计在极低温和强磁场下仍能保持较高的灵敏度,具体地,将本申请中的振动样品磁强计置于2 T的强磁场中,振动样品杆的灵敏度最高可达10
‑6emu。2、压电陶瓷振动件工作时能耗较低,比传统的铁芯式振动头的能耗低一到两个数量级,大幅度节省能耗。3、压电陶瓷振动件体积较小,能够集成到杆本体上,使得振动样品磁强计的体积缩小,简化结构。4、压电陶瓷振动件的工作频率较高(200 Hz以上),可以避免纹波等低频噪声的影响,提高了振动样品杆及振动样品磁强计检测的可靠性及准确性。
附图说明
[0015]构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他
的附图。
[0017]图1为一个实施例的振动样品杆的结构示意图。
[0018]图2为图1中振动样品杆的上部分的结构示意图。
[0019]图3为图2中振动样品杆的上部分的结构剖视图。
[0020]图4为图1中振动样品杆的下部分的结构示意图。
[0021]附图标记说明:10、振动样品杆;100、杆本体;110、实心段;120、空心段;121、第一穿线孔;122、第二穿线孔;200、安装件;210、通孔;220、密封槽;230、第一法兰;240、开口;300、压电陶瓷振动件;400、样品件;500、操作件;600、密封组件;700、接头;800、盖体;810、安装孔;900、传振件;1000、第一转接件;1100、第二转接件。
具体实施方式
[0022]为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进,因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。
[0023]如图1及图2所示,在本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种振动样品杆,其特征在于,包括:杆本体,所述杆本体用于穿过杜瓦;安装件,所述安装件套设于所述杆本体的外侧壁,所述安装件位于所述杜瓦的一侧,并用于与所述杜瓦配合形成密封空间;压电陶瓷振动件,所述压电陶瓷振动件设置于所述杆本体上,所述压电陶瓷振动件位于所述杜瓦远离所述安装件的一侧;及样品件,所述样品件与所述压电陶瓷振动件传动连接,所述样品件设有用于容纳试验样品的样品腔。2.根据权利要求1所述的振动样品杆,其特征在于,所述安装件设有通孔,所述通孔的内壁设有内螺纹,所述杆本体的外侧壁设有外螺纹,所述外螺纹与所述内螺纹螺纹配合。3.根据权利要求2所述的振动样品杆,其特征在于,所述杆本体远离所述压电陶瓷振动件的一端设有操作件,所述操作件与所述杆本体传动连接,并用于承接使得所述杆本体相对所述安装件转动的扭力。4.根据权利要求2所述的振动样品杆,其特征在于,所述振动样品杆还包括密封组件,所述密封组件套设于所述杆本体的外侧壁并位于所述安装件远离所述杜瓦的一侧,所述密封组件用于将所述安装件与所述杆本体密封配合。5.根据权利要求1至4任一项所述的振动样品杆,其特征在于,所述安装件靠近所述杜瓦的一侧设有密封槽,所述密封槽的外侧壁设有第一法兰,所述第一法兰用于与所述杜瓦密封连接,以使所述密封槽的内壁能够与所述杜瓦配合形成所述密封空间,所述安装件的外侧壁设有开口,所述振动...

【专利技术属性】
技术研发人员:李田李政禹郗传英凌浪生童伟皮雳陆轻铀
申请(专利权)人:中国科学院合肥物质科学研究院
类型:发明
国别省市:

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