【技术实现步骤摘要】
一种实现激光扫频过程中频率和功率同步稳定装置
[0001]本专利技术属于精密光谱测量技术中的光源调控领域,涉及光学原子钟、气体浓度测量、多普勒展宽测温等领域,具体涉及一种应用于原子吸收谱的精密测量的碱金属原子吸收谱扫频装置。
技术介绍
[0002]原子与激光相互作用包含丰富的物理信息,在一定范围内调谐激光可以获得原子吸收谱,对吸收谱进行解析后可实现多方面应用,包括原子钟,气体浓度测量,多普勒测温等。在所述应用中,激光频率的调谐即扫频是实现精密光谱测量的必要环节,例如在多普勒展宽测温过程中,其扫频过程中需要保持每个探测频率点下的激光频率和功率稳定,并且要保证在扫频过程中相邻两个频率点的间隔即扫频间隔是相等的,扫频过程中的频率和功率不稳定性,以及扫频间隔的未知性会对多普勒展宽温度测量精度产生重要影响。
[0003]目前激光的扫频通过以下几种方式来实现。第一,直接电流调谐,通过对激光器直接注入电流实现激光器有源区载流子浓度的控制进而实现输出光频的偏移。该方法简单且响应时间快,无调模可调谐范围达几十GHz。但初始及结束扫描点频率和扫频间隔是未知的,该方法是很多扫频方法的基础。第二,温度调谐,温度变化同样会使激光器有源区载流子浓度产生光频移动,温度调谐范围更大可达几百GHz,但响应时间慢,同样无法实现频率及扫频间隔的精确控制。第三、利用电光调制器进行控制,构建基于马赫曾德干涉仪的光路结构并通过改变射频源的输入频率实现光学频率转移。该方法对器件的精度和稳定性要求较高。第四,基于外部参考源进行扫频,通常将光学频率梳和FP腔 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种实现激光扫频过程中频率和功率同步稳定装置,其特征在于:包括参考光源稳频模块(1)、激光拍频扫频模块(2)、探测光功率稳定模块(3);参考光源稳频模块(1),包括参考光源激光器(100)、光隔离器(101)、半波片(102)、偏振分光棱镜(103)、分光片(104)、气室(105)、分光片(106)、反射镜(107)、反射镜(108)、光电探测器(109)、混频器(110)、相位调节器(111)、低通滤波器(112)、PI控制器(113)、加法器(114)、信号发生器(115)三角波扫频器(116);将参考光锁定到气室中原子的吸收峰上,从而实现参考光的频率稳定;由三角波扫频器(116)产生的三角波与信号发生器(115)产生的调制信号叠加到参考光源激光器上(100),其输出光通过光隔离器(101)、半波片(102)、偏振分光棱镜(103)、反射透射光的分光片(104)后,光路分为两路;其中一路光照射到光电探测器上(109),输出信号与信号发生器(115)产生的调制信号经过相位调节器(111)通过混频器(110)进行混频,再经低通滤波器(112)对激光进行解调,解调后的电学信号输入到PI控制器(113)产生反馈信号、通过反馈控制将参考光锁定到碱金属原子吸收峰上,实现参考光源的频率稳定;激光拍频扫频模块(2),包括探测光源激光器(200)、光隔离器(201)、半波片(202)、偏振分光棱镜(203)、稳频参考光(204)、反射镜(205)、合束棱镜(206)、格兰泰勒棱镜(207)、透镜(208)、高速探测器(209)、滤波放大电路(210)、分频器(211)、信号整形(212)、数字测频单元(213)、上位机(214)、高精密电压源(215);探测光源激光器(200)输出的探测光通过光隔离器(201)、半波片(202)、偏振分光棱镜(203)后分成两束,其中一束与参考光源(204)通过合束棱镜(206)进行合束,合束光经过格兰泰勒棱镜(207)、透镜(208)后照射到探测器(209)上实现探测光与参考光的拍频;从光电探测器(209)出来的拍频信号经过信号处理,包括滤波整形电路(210)、分频器(211)、信号整形(212),变为方波信号被数字测频单元(213)测量,并将测量得到拍频信号传递给上位机(214);上位机(214)Labview程序中包含数字PID模块,将预设值以及实际测量得到的拍频值输入到数字PID模块中得出反馈电压,通过上位机(214)Labview程序控制高精密电压源(215)输出电压控制探测光频的移动与稳定;基于参考光路的气室吸收峰作为参考实现扫频过程,但由于参考源吸收峰位于探测光待测试谱线中,扫频过程中的拍频信号并不能体现探测光与参考光的相对位置;对于DBR半导体激光器,注入电流增大,输出光频减小,注入电流减小,输出光频增大;通过外部加法器电路即外部调制电压电路,使外部调制电压与DBR激光器注入电流相映射,也即增大电压调制端口电压注入电流增大,光频红移;相反,减小电压调制端口电压,光频蓝移;根据此原理可以确定参考光与探测光的相对位置,通过分段实现扫频过程,即低于参考频率段扫频、等于参考频率点、高于参考频率段扫频。探测光功率稳定模块(3),包括透镜(301)、透镜(302)、声光调制器(303)、偏振分光棱镜(304)、光电探测器(305)、PI控制...
【专利技术属性】
技术研发人员:李小宽,李维,李昱东,刘雅丽,冯梁森,
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,
类型:发明
国别省市:
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