一种新型钟振固定座结构制造技术

技术编号:38331805 阅读:36 留言:0更新日期:2023-07-29 09:14
本发明专利技术属于石英晶体振荡器技术领域,尤其涉及一种新型钟振固定座结构,包括固定座和金属块,所述固定座设有一矩形凹槽,所述矩形凹槽的两侧分别设有两个导向凹槽,多个所述金属块分别容置于所述导向凹槽内,所述金属块的侧部设有一金属弹性件,所述金属弹性件向外延伸至所述矩形凹槽内,所述金属块的顶部向所述导向凹槽外部延伸且高于所述固定座;实现了钟振在新型钟振固定座上同时进行钟振信号测试和边缘接触点测试,无需使钟振在钟振测信号测试完成后移栽至另一测试装置中进行边缘接触点测试,显著缩短了钟振测试的周期时长,简化了钟振测试所需的装置,减少物料损耗,提高了测试装置的可靠性的同时提高了钟振的生产效率。试装置的可靠性的同时提高了钟振的生产效率。试装置的可靠性的同时提高了钟振的生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种新型钟振固定座结构


[0001]本专利技术涉及石英晶体振荡器
,尤其涉及一种新型钟振固定座结构。

技术介绍

[0002]在石英晶体振荡器的
中,按照大类可以分为无源和有源两种。有源晶体谐振器称为时钟振荡器,简称钟振。钟振是一种将具有压电效应的石英晶体谐振器和振荡电路集成在一起,加电即有频率信号输出的频率源器件,被广泛应用于各种消费电子系统上。其中,钟振的组成包括石英晶体谐振器(晶片)和集成电路(IC芯片),晶片提供了最原始的频率和波形信号输出,IC芯片再对晶片的信号进行调整,比如波形的转变和频率的倍频、微调等。由于IC芯片对信号进行调整,在钟振生产后,除了需要对钟振的最终输出信号进行测试,还需要添加一项边缘接触点测试项目,对外壳两边的边缘接触点进行测试,该边缘接触点测试项目用于对晶片的原始信号进行测试,以确认晶片能够正常使用。
[0003]目前,在钟振测试装置测试过程中,会将钟振背面朝上放至测试盘的固定座上,并利用探针下压接触测试点进行信号测试,在完成钟振的信号测试后,即进行边缘接触点测试。该过程需要将钟振移栽至边缘接触本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型钟振固定座结构,其特征在于,包括固定座和金属块,所述固定座设有一矩形凹槽,所述矩形凹槽的两侧分别设有两个导向凹槽,多个所述金属块分别容置于所述导向凹槽内,所述金属块的侧部设有一金属弹性件,所述金属弹性件向外延伸至所述矩形凹槽内,所述金属块的顶部向所述导向凹槽外部延伸。2.根据权利要求1所述的一种新型钟振固定座结构,其特征在于,所述金属弹性件为一金属弹簧片,所述金属弹簧片呈弧形设置,所述金属弹簧片的一端固定于所述金属块的侧部。3.根据权利要求2所述的一种新型钟振固定座结构,其特征在于,还包括一金属探针,所述金属块的侧部设有一圆形凹槽,所述金属弹簧片的中部设有一弧形凹槽,所述金属探针的一端容置于所述圆形凹槽,所述金属探针的另一端可伸缩,未受外力情况下,所述金属探针可伸缩的一端凸出所述圆形凹槽并延伸至所述弧形凹槽处。4.根据权利要求1所述的一种新型钟振固定座结构,其特征在于,所述导向凹槽为工字型凹槽,所述金属块呈工字型设置,所述金属块容置于所述工字型凹槽...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓宏民许家群候锦雄
申请(专利权)人:广东惠伦晶体科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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