一种新型钟振固定座结构制造技术

本发明专利技术属于石英晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种新型钟振固定座结构，包括固定座和金属块，所述固定座设有一矩形凹槽，所述矩形凹槽的两侧分别设有两个导向凹槽，多个所述金属块分别容置于所述导向凹槽内，所述金属块的侧部设有一金属弹性件，所述金属弹性件向外延伸至所述矩形凹槽内，所述金属块的顶部向所述导向凹槽外部延伸且高于所述固定座；实现了钟振在新型钟振固定座上同时进行钟振信号测试和边缘接触点测试，无需使钟振在钟振测信号测试完成后移栽至另一测试装置中进行边缘接触点测试，显著缩短了钟振测试的周期时长，简化了钟振测试所需的装置，减少物料损耗，提高了测试装置的可靠性的同时提高了钟振的生产效率。试装置的可靠性的同时提高了钟振的生产效率。试装置的可靠性的同时提高了钟振的生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种新型钟振固定座结构


[0001]本专利技术涉及石英晶体振荡器
，尤其涉及一种新型钟振固定座结构。

技术介绍

[0002]在石英晶体振荡器的
中，按照大类可以分为无源和有源两种。有源晶体谐振器称为时钟振荡器，简称钟振。钟振是一种将具有压电效应的石英晶体谐振器和振荡电路集成在一起，加电即有频率信号输出的频率源器件，被广泛应用于各种消费电子系统上。其中，钟振的组成包括石英晶体谐振器(晶片)和集成电路(IC芯片)，晶片提供了最原始的频率和波形信号输出，IC芯片再对晶片的信号进行调整，比如波形的转变和频率的倍频、微调等。由于IC芯片对信号进行调整，在钟振生产后，除了需要对钟振的最终输出信号进行测试，还需要添加一项边缘接触点测试项目，对外壳两边的边缘接触点进行测试，该边缘接触点测试项目用于对晶片的原始信号进行测试，以确认晶片能够正常使用。
[0003]目前，在钟振测试装置测试过程中，会将钟振背面朝上放至测试盘的固定座上，并利用探针下压接触测试点进行信号测试，在完成钟振的信号测试后，即进行边缘接触点测试。该过程需要将钟振移栽至边缘接触点测试的固定座中，该固定座通常在两边开槽，探针从两边开槽处横向插入接触点进行晶片测试。在该过程中，两道分开的钟振测试项目将会使得钟振测试周期长、测试装置复杂、物料损耗量大，进而导致测试成本高昂，且移栽钟振的过程中会存在不稳定的因素，使测试装置的可靠性降低。因而，实有必要设计一种新型钟振固定座结构，以克服现有技术中的不足。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种新型钟振固定座结构，旨在解决现有技术中因钟振的钟振信号测试和边缘接触点测试为分开的两道项目，使得钟振测试周期长、测试装置复杂、物料损耗量大，导致测试成本高昂，测试装置可靠性不高的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术实施例提供一种新型钟振固定座结构，包括固定座和金属块，所述固定座设有一矩形凹槽，所述矩形凹槽的两侧分别设有两个导向凹槽，多个所述金属块分别容置于所述导向凹槽内，所述金属块的侧部设有一金属弹性件，所述金属弹性件向外延伸至所述矩形凹槽内，所述金属块的顶部向所述导向凹槽外部延伸。
[0006]可选地，所述金属弹性件为一金属弹簧片，所述金属弹簧片呈弧形设置，所述金属弹簧片的一端固定于所述金属块的侧部。
[0007]可选地，还包括一金属探针，所述金属块的侧部设有一圆形凹槽，所述金属弹簧片的中部设有一弧形凹槽，所述金属探针的一端容置于所述圆形凹槽，所述金属探针的另一端可伸缩，未受外力情况下，所述金属探针可伸缩的一端凸出所述圆形凹槽并延伸至所述弧形凹槽处。
[0008]可选地，所述导向凹槽为工字型凹槽，所述金属块呈工字型设置，所述金属块容置于所述工字型凹槽。
[0009]可选地，所述金属块设有一弧形过渡部，所述弧形过渡部设置于朝向所述矩形凹槽一侧的顶部。
[0010]可选地，所述矩形凹槽的总部设有一圆孔，所述圆孔用于连通外部测试盘的气管。
[0011]可选地，所述固定座的一侧设有若干个固定孔，所述固定孔用于将所述固定座与外部测试盘螺接。
[0012]可选地，所述导向凹槽的高度为1.5mm，所述金属块的高度为2.0mm。
[0013]可选地，所述固定座由POM材料制成。
[0014]本专利技术实施例提供的新型钟振固定座结构中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一：
[0015]本专利技术设置相互配合的固定座与金属块，用户可通过将钟振正面朝内、背面朝外放入至所述矩形凹槽内，从而使钟振背面的金属接触点朝上设置；同时通过将金属块侧部的金属弹性件与钟振外壳两边的边缘接触点的进行电气连接，从而使钟振边缘接触点电气连接至所述金属块，且所述金属块的顶部向所述导向凹槽外部延伸，从而形成金属块接触点；当钟振装载至所述矩形凹槽后，所述固定座的表面上包含钟振背面的四个金属接触点，以及金属块向所述导向凹槽外部延伸而形成的四个金属块接触点，外部测试装置可同时接触金属接触点和金属块接触点。由此，实现了钟振在新型钟振固定座上同时进行钟振信号测试和边缘接触点测试，无需使钟振在钟振测信号测试完成后移栽至另一测试装置中进行边缘接触点测试，显著缩短了钟振测试的周期时长，简化了钟振测试所需的装置，减少物料损耗，极大程度的缩减了钟振测试所需的成本，且本新型钟振固定座的设置能够简化测试的步骤，提高了测试装置的可靠性的同时提高了钟振的生产效率。
附图说明
[0016]图1为本专利技术实施例提供的新型钟振固定座结构的结构示意图；
[0017]图2为本专利技术实施例提供的安装有钟振的新型钟振固定座结构的俯视图；
[0018]图3为本专利技术实施例提供的固定座的结构示意图；
[0019]图4为本专利技术实施例提供的金属块的结构示意图；
[0020]图5为本专利技术实施例提供的金属块和金属探针的结构示意图；
[0021]图6为本专利技术实施例提供的金属块的正视图；
[0022]图7为本专利技术另一实施例提供的金属块的结构示意图；
[0023]图8为本专利技术实施例提供的钟振的结构示意图。
[0024]其中，图中各附图标记：
[0025]1、固定座；
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11、矩形凹槽；
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111、圆孔；
[0026]12、导向凹槽；
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121、工字型凹槽；
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13、固定孔；
[0027]2、金属块；
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21、金属弹性件；
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211、金属弹簧片；
[0028]212、弧形凹槽；
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22、圆形凹槽；
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23、弧形过渡部；
[0029]24、金属块接触点；
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3、金属探针；
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4、钟振；
[0030]41、金属接触点；
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42、边缘接触点。
具体实施方式
[0031]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术的实施例，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0032]在本专利技术实施例的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0033]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型钟振固定座结构，其特征在于，包括固定座和金属块，所述固定座设有一矩形凹槽，所述矩形凹槽的两侧分别设有两个导向凹槽，多个所述金属块分别容置于所述导向凹槽内，所述金属块的侧部设有一金属弹性件，所述金属弹性件向外延伸至所述矩形凹槽内，所述金属块的顶部向所述导向凹槽外部延伸。2.根据权利要求1所述的一种新型钟振固定座结构，其特征在于，所述金属弹性件为一金属弹簧片，所述金属弹簧片呈弧形设置，所述金属弹簧片的一端固定于所述金属块的侧部。3.根据权利要求2所述的一种新型钟振固定座结构，其特征在于，还包括一金属探针，所述金属块的侧部设有一圆形凹槽，所述金属弹簧片的中部设有一弧形凹槽，所述金属探针的一端容置于所述圆形凹槽，所述金属探针的另一端可伸缩，未受外力情况下，所述金属探针可伸缩的一端凸出所述圆形凹槽并延伸至所述弧形凹槽处。4.根据权利要求1所述的一种新型钟振固定座结构，其特征在于，所述导向凹槽为工字型凹槽，所述金属块呈工字型设置，所述金属块容置于所述工字型凹槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓宏民，许家群，候锦雄，
申请(专利权)人：广东惠伦晶体科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：