一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置及其使用方法制造方法及图纸

技术编号:38317941 阅读:15 留言:0更新日期:2023-07-29 09:00
本发明专利技术公开了一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置及其使用方法,能准确检测出弹匣前挂和后挂限位面的极限尺寸是否合格。是将模拟弹匣内腔结构的第一定位部件放入弹匣后,将第一测量基准面借出,再配合本发明专利技术卡规测量弹匣前挂尺寸;将模拟弹匣内腔结构的第一定位装置放入弹匣后,再配合放入测量后挂限位面用第二定位部件,借出一个与设计基准尺寸固定,且与后挂限位面平行的第三测量基准面,最后用塞规来检测形成间隙是否合格。来检测形成间隙是否合格。来检测形成间隙是否合格。

【技术实现步骤摘要】
一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置及其使用方法


[0001]本专利技术涉及枪械
,特别是涉及一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置及其使用方法。

技术介绍

[0002]弹匣前挂尺寸(抱弹口上平面与弹匣前挂接触面的距离,抱弹口上平面为抱弹口圆弧面上的母线位置处的虚拟平面)和后挂限位尺寸(抱弹口上平面与后挂限位面的距离)是否合格,直接影响弹匣装入机匣后的形态以及高低位置,从而影响枪机推弹进膛的平稳性和可靠性,进而影响成枪机构动作可靠性。
[0003]弹匣前挂和后挂限位尺寸的检测方法,一般采用高度、宽度游标卡尺分别测量弹匣抱弹口上平面与设计基准(抱弹口上平面,子弹通过该处出弹)的距离,抱弹口上平面与弹匣前挂接触面、后挂限位面的距离,再通过计算得到。检测时以弹匣抱弹口上平面为基准点测量,设计基准为圆弧面母线定位不准确;且由于限位面与设计基准之间有夹角,受检测点位置不同,则测量尺寸不同;该测量方式,繁琐且测量不准确。
[0004]具体地:原检测弹匣前挂和后挂限位尺寸的方法为,将弹匣抱弹口放在平板上,使弹匣抱弹口上平面与平板贴合,然后用高度、宽度游标卡尺分别检测出抱弹口上平面到前挂接触面和后挂限位面的距离(A1、A2),然后用游标卡尺估测出抱弹口上平面与设计基准的距离A3,最后,通过计算,分别得出弹匣前挂和后挂限位尺寸(分别为A1

A3、A2

A3)。由于A3为圆弧面上的母线到面的距离,用游标卡尺检测不准确,且后限位面与上平面有一个小的夹角,因此测量点会影响A2检测结果,该检测方式繁琐,且不可靠。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置及其使用方法,能准确检测出弹匣前挂和后挂限位面的极限尺寸是否合格。
[0006]本专利技术的目的是这样实现的:
[0007]一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置,包括:
[0008]第一定位部件,所述第一定位部件的外形对应弹匣内腔的形状,所述第一定位部件配合在弹匣内腔中,第一定位部件的上端以抱弹口内的圆弧面限位,所述第一定位部件的上端中部沿纵向设有矩形槽,矩形槽的槽底面形成第一测量基准面,所述第一定位部件的上端沿横向设有矩形的定位卡槽;
[0009]卡规,所述卡规包括矩形定位杆,所述矩形定位杆用于滑动配合在第一定位部件的矩形槽内,通过第一测量基准面定位,矩形定位杆的上下表面为第一测量定位面,矩形定位杆的一侧端上下方对称设置直角勾状的测量头,两测量头的内表面为第二测量基准面,两测量头的第二测量基准面与相对的第一测量定位面之间的距离对应弹匣前挂尺寸的最大值、最小值,两测量头的第二测量基准面形成通端、止端;
[0010]第二定位部件,所述第二定位部件的下端中部沿纵向设有定位条,所述定位条用
于配合在第一定位部件的矩形槽内定位,所述定位条的底面为第二测量定位面,定位条的第二测量定位面上设有向下延伸的定位卡榫,所述定位卡榫用于插入第一定位部件的定位卡槽内形成滑动配合,所述第二定位部件的下端两侧分别设有辅助板,两辅助板位于弹匣外,两辅助板的下端分别设有第三测量基准面,两辅助板的第三测量基准面与弹匣两侧的后挂限位面之间的距离对应对应弹匣后挂限位尺寸;
[0011]塞规,所述塞规的两端厚度尺寸对应两辅助板的第三测量基准面与后挂限位面之间的距离,塞规的两端形成通端、止端。
[0012]优选地,所述第一定位部件、弹匣两侧的定位面呈圆弧形,使第一定位部件能够从下方插入弹匣内腔中,且第一定位部件的顶部能与抱弹口内的圆弧面准确定位。
[0013]优选地,所述第一定位部件的矩形槽宽度小于抱弹口的开口宽度,保证第一定位部件的顶部能与抱弹口内的圆弧面准确定位。
[0014]优选地,两辅助板的第三测量基准面具有沿水平的倾斜角度,使第三测量基准面平行于后挂限位面。
[0015]一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置的使用方法,
[0016]弹匣前挂尺寸检测方法:
[0017]首先,将第一定位部件放入弹匣,然后,将卡规的矩形定位杆滑动配合在第一定位部件的矩形槽内,沿纵向滑动卡规,如果卡规的通端能通过,止端能止住,则弹匣前挂尺寸合格,否则为不合格;
[0018]弹匣后挂尺寸检测方法:
[0019]首先,将第一定位部件放入弹匣,然后,将第二定位部件定位条上的定位卡榫插入第一定位部件的定位卡槽内形成滑动配合,第二定位部件的定位条配合在第一定位部件的矩形槽内,
[0020]用塞规塞入两辅助板的第三测量基准面与弹匣后挂限位面之间的间隙,塞规通端能通过,止端能止住,则弹匣后挂限位尺寸合格,否则为不合格。
[0021]由于采用了上述技术方案,本专利技术具有如下有益效果:
[0022]本专利技术涉及的方法和装置能准确检测出弹匣前挂和后挂限位面的极限尺寸是否合格。本专利技术的检测方法,是将模拟弹匣内腔结构的第一定位部件放入弹匣后,将测量基准面借出,再配合本专利技术卡规测量弹匣前挂尺寸;将模拟弹匣内腔结构的第一定位部件放入弹匣后,再配合放入测量后挂限位面用第二定位部件,借出一个与设计基准尺寸固定,且与后挂限位面平行的测量面,最后用塞规来检测形成间隙是否合格。该检测方法更快捷、更可靠。
附图说明
[0023]图1为模拟弹匣内腔结构的第一定位部件示意图;
[0024]图2为测量前挂尺寸用卡规示意图;
[0025]图3为测量后挂限位面用第二定位部件示意图;
[0026]图4为测量后挂限位尺寸用塞规示意图;
[0027]图5为弹匣的结构示意图。
具体实施方式
[0028]具体实施时,如图1、图2、图3、图4所示,一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置,包括模拟弹匣内腔结构的定位装置(第一定位部件)、卡规、测量后挂限位面用定位装置(第二定位部件)、塞规。
[0029]一种通用检测弹匣前挂和后挂限位尺寸的装置,其特征在于:
[0030](1)图1模拟弹匣内腔结构的定位装置,该结构由弹匣内腔结构确定,能顺利进入弹匣,且以抱弹口圆弧面限位,准确接触弹匣设计基准,保持弹匣设计基准与被借出定位测量面(第一测量基准面)的相对位置L1,尺寸、公差根据需要可任意取,本实施例中,公差取
±
0.005。L2为卡规通过面,本实施例中,取抱弹口开口尺寸,当然,也可以取小于抱弹口开口尺寸,使卡规能通过抱弹口。L3、L4用于限制测量后挂限位面用定位装置,保证被借出测量面与后挂限位面平行,且角度起点位置固定,L3、L4尺寸可任意取,公差一般为0.01。该定位装置应考虑弹匣前后筋形成的型腔的对称度,保证能灵活进入弹匣。
[0031](2)图2卡规用于检测图1模拟弹匣内腔结构的定位装置的被借出定位测量面(第一测量基准面)与前挂之间的距离,产品前挂尺寸

L1即为测量的基本尺寸L5、L6,具体制造尺寸根据光滑极限量规的算法得出。
[0032](3)图3测量后挂本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用检测弹匣限位结构尺寸的装置,其特征在于,包括:第一定位部件,所述第一定位部件的外形对应弹匣内腔的形状,所述第一定位部件配合在弹匣内腔中,第一定位部件的上端以抱弹口内的圆弧面限位,所述第一定位部件的上端中部沿纵向设有矩形槽,矩形槽的槽底面形成第一测量基准面,所述第一定位部件的上端沿横向设有矩形的定位卡槽;卡规,所述卡规包括矩形定位杆,所述矩形定位杆用于滑动配合在第一定位部件的矩形槽内,通过第一测量基准面定位,矩形定位杆的上下表面为第一测量定位面,矩形定位杆的一侧端上下方对称设置直角勾状的测量头,两测量头的内表面为第二测量基准面,两测量头的第二测量基准面与相对的第一测量定位面之间的距离对应弹匣前挂尺寸的最大值、最小值,两测量头的第二测量基准面形成通端、止端;第二定位部件,所述第二定位部件的下端中部沿纵向设有定位条,所述定位条用于配合在第一定位部件的矩形槽内定位,所述定位条的底面为第二测量定位面,定位条的第二测量定位面上设有向下延伸的定位卡榫,所述定位卡榫用于插入第一定位部件的定位卡槽内形成滑动配合,所述第二定位部件的下端两侧分别设有辅助板,两辅助板位于弹匣外,两辅助板的下端分别设有第三测量基准面,两辅助板的第三测量基准面与弹匣两侧的后挂限位面之间的距离对应对应弹匣后挂限位尺寸;塞规,所述塞规的两端厚度尺寸对应两辅助板的第三测量基准面与后挂限位...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶俊华刘兵郭军伟朱萌李小龙张民
申请(专利权)人:重庆建设工业集团有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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