硅胶工艺的形变校正方法及装置制造方法及图纸

技术编号:38227776 阅读:13 留言:0更新日期:2023-07-25 17:57
本发明专利技术涉及硅胶工艺领域,揭露一种硅胶工艺的形变校正方法及装置,所述方法包括:采集摄像头拍摄的硅胶工艺品的第一工艺图像和监控拍摄的所述硅胶工艺品的第二工艺图像;识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像;基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,计算所述硅胶工艺品的拍摄错误等级;在所述拍摄错误等级满足预设错误等级时,检测所述硅胶工艺品的异常变形状态,根据所述异常变形状态构建所述硅胶工艺品的异常变形等级;基于所述异常变形等级,对所述硅胶工艺品进行形变矫正。本发明专利技术可以提高硅胶工艺的形变校正灵活性。变校正灵活性。变校正灵活性。

【技术实现步骤摘要】
硅胶工艺的形变校正方法及装置


[0001]本专利技术涉及硅胶工艺领域,尤其涉及一种硅胶工艺的形变校正方法及装置。

技术介绍

[0002]硅胶工艺是指硅胶制品的生产工艺,硅胶制品的生产工艺包括模压成型、挤出成型、射出成型等,硅胶制品包括模压硅胶制品、挤出硅胶制品、液态硅胶制品等,模压硅胶制品通过模具确定硅胶制品的形状,挤出硅胶制品通常是通过挤出机器挤压硅胶成型的,液态硅胶制品是通过硅胶注塑喷射成型的。
[0003]目前,随着时代的发展,硅胶工艺制品在各个行业中的用途也不断增大。然而,硅胶工艺品的变形会影响良品率,现有技术中,通常通过摄像头拍摄硅胶工艺制品,并识别所拍摄的图像来实现对硅胶工艺制品的变形检测,但由于摄像头的角度、清晰度等局限性,可能会存在所拍摄的图像不能满足图像检测的要求的问题,由于缺乏对这个问题的检测,导致图像采集在遇到问题时的灵活变通能力不足;其次,硅胶工艺制品的缺陷检测仅仅依赖于某一类型的图像来实现,由于图像类别的单一化,导致变形检测的不能灵活依赖多种图像类别来实现;另一方面,通过强制改变硅胶工艺制品的形变来达到形变校正的方法会对硅胶工艺制品的内部结构、原本未发生形变的部分造成影响,而这个影响是单向无法改变的,缺乏灵活性。因此,硅胶工艺制品的形变校正灵活性不足。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题,本专利技术提供了一种硅胶工艺的形变校正方法及装置,可以提高硅胶工艺的形变校正灵活性。
[0005]第一方面,本专利技术提供了一种硅胶工艺的形变校正方法,包括:采集摄像头拍摄的硅胶工艺品的第一工艺图像和监控拍摄的所述硅胶工艺品的第二工艺图像;识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像;基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,计算所述硅胶工艺品的拍摄错误等级;在所述拍摄错误等级满足预设错误等级时,检测所述硅胶工艺品的异常变形状态,根据所述异常变形状态构建所述硅胶工艺品的异常变形等级;基于所述异常变形等级,对所述硅胶工艺品进行形变矫正。
[0006]第二方面,本专利技术提供了一种硅胶工艺的形变校正装置,所述装置包括:图像采集模块,用于采集摄像头拍摄的硅胶工艺品的第一工艺图像和监控拍摄的所述硅胶工艺品的第二工艺图像;差异识别模块,用于识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像;错误计算模块,用于基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,计算所述硅胶
工艺品的拍摄错误等级;等级构建模块,用于在所述拍摄错误等级满足预设错误等级时,检测所述硅胶工艺品的异常变形状态,根据所述异常变形状态构建所述硅胶工艺品的异常变形等级;形变矫正模块,用于基于所述异常变形等级,对所述硅胶工艺品进行形变矫正。
[0007]与现有技术相比,本方案的技术原理及有益效果在于:本专利技术实施例通过识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像,以用于判别当前的摄像头所拍摄的图像是否与监控所拍摄的图像出现差异,这样可以判别当前的摄像头拍摄内容是否出现问题,进一步地,本专利技术实施例通过确定所述拍摄错误指数对应的拍摄错误等级,以用于确定摄像头拍摄出现问题的严重程度,这样可以在摄像头拍摄问题严重时重新采集图像来进行下一步的图像变形检测,提升图像采集的灵活性,本专利技术实施例通过检测所述硅胶工艺品的第一外形数据,以用于利用红外线检测硅胶制品是否发生形变,进一步地,本专利技术实施例通过检测所述硅胶工艺品的第二外形数据,以用于利用图像识别技术来辨别所述硅胶工艺品的长度与宽度,这样可以与上述的红外线得到的宽度与长度进行一致性校验,判别上述的红外线技术测量得到的宽度与长度是否准确,并且可以保障硅胶制品的形变检测依赖于多类型的图像,进一步地,本专利技术实施例通过基于所述异常变形等级,判别是否对所述硅胶工艺品进行压力调整,以用于硅胶材料存在变形时,进行压力检测与调整来查询是否是压力过大或过小造成的硅胶材料的压延变形,进一步地,本专利技术实施例通过基于所述异常湿温度等级,对所述调整好压力的硅胶工艺品进行湿温度调整,以用于对所述硅胶工艺品的外部环境进行调节,从而减少强制改变硅胶工艺的形变所造成的不利影响,提升形变校正的灵活性。因此,本专利技术实施例提出的一种硅胶工艺的形变校正方法及装置,可以提高硅胶工艺的形变校正灵活性。
附图说明
[0008]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本专利技术的实施例,并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。
[0009]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1为本专利技术一实施例提供的一种硅胶工艺的形变校正方法的流程示意图;图2为本专利技术一实施例中图1提供的一种硅胶工艺的形变校正方法的其中一个步骤的流程示意图;图3为本专利技术一实施例中图1提供的一种硅胶工艺的形变校正方法的另外一个步骤的流程示意图;图4为本专利技术一实施例提供的一种硅胶工艺的形变校正装置的模块示意图;图5为本专利技术一实施例提供的实现硅胶工艺的形变校正方法的电子设备的内部结构示意图。
具体实施方式
[0011]应当理解,此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本发
明。
[0012]本专利技术实施例提供一种硅胶工艺的形变校正方法,所述硅胶工艺的形变校正方法的执行主体包括但不限于服务端、终端等能够被配置为执行本专利技术实施例提供的该方法的电子设备中的至少一种。换言之,所述硅胶工艺的形变校正方法可以由安装在终端设备或服务端设备的软件或硬件来执行,所述软件可以是区块链平台。所述服务端包括但不限于:单台服务器、服务器集群、云端服务器或云端服务器集群等。所述服务器可以是独立的服务器,也可以是提供云服务、云数据库、云计算、云函数、云存储、网络服务、云通信、中间件服务、域名服务、安全服务、内容分发网络(Content Delivery Network,CDN)、以及大数据和人工智能平台等基础云计算服务的云服务器。
[0013]参阅图1所示,是本专利技术一实施例提供的硅胶工艺的形变校正方法的流程示意图。其中,图1中描述的硅胶工艺的形变校正方法包括:S1、采集摄像头拍摄的硅胶工艺品的第一工艺图像和监控拍摄的所述硅胶工艺品的第二工艺图像。
[0014]本专利技术实施例中,所述摄像头是指智能硅胶工艺检测系统的摄像头,所述智能硅胶工艺检测系统用于自动在硅胶工艺品的生产制造过程中,对硅胶制品的形变进行检测与形变恢复处理的系统,所述智能硅胶工艺检测系统的智能自动化,可以通过代替人工从而提升硅胶制品检测的效率;所述监控是指硅胶工艺生产制造过程中生产车间的监控摄像头;需要说明的是,摄像头的拍摄角度、拍摄距离为多个拍摄角度、多个拍摄距离,在拍摄角度与拍摄距离上与监控所拍图像的角度与距离会出现相同的角度与距离和不相同的角度与距离,由于图像特征与其他图像中特征之间的相似度受图像距离与角度的影响不大,因此在后续不考虑拍摄角度与本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硅胶工艺品的形变校正方法,其特征在于,所述方法包括:采集摄像头拍摄的硅胶工艺品的第一工艺图像和监控拍摄的所述硅胶工艺品的第二工艺图像;识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像;基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,计算所述硅胶工艺品的拍摄错误等级;在所述拍摄错误等级满足预设错误等级时,检测所述硅胶工艺品的异常变形状态,根据所述异常变形状态构建所述硅胶工艺品的异常变形等级;基于所述异常变形等级,对所述硅胶工艺品进行形变矫正。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像,包括:识别所述第一工艺图像的第一前景区域,并识别所述第二工艺图像的第二前景区域;分别对所述第一前景区域与所述第二前景区域进行特征提取,得到第一提取特征与第二提取特征;利用下述公式计算所述第一提取特征与所述第二提取特征之间的欧几里得距离:;其中,D(f1,f
2 )表示所述欧几里得距离,x
i
表示所述第一提取特征中的第i个特征,y
i
表示所述第二提取特征中的第i个特征,n表示特征的数目,f1表示所述第一提取特征,f2表示所述第二提取特征;基于所述欧几里得距离,识别所述第一提取特征与所述第二提取特征之间的差异特征;利用下述公式计算所述差异特征与所述差异特征的邻域特征之间的差异值:;其中,F表示所述差异特征与所述差异特征的邻域特征之间的差异值,z
u
表示所述差异特征中的第u个特征,w
v
表示所述差异特征的邻域特征中的第v个特征,R、G、B表示特征点的R分量、G分量、B分量;利用所述差异特征与所述差异特征的邻域特征之间的差异值选取所述差异特征的邻域差异特征,并利用所述差异特征与所述邻域差异特征确定所述差异区域图像。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,计算所述硅胶工艺品的拍摄错误等级,包括:基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,利用下述公式计算所述硅胶工艺品的拍摄错误指数:;其中,P表示所述拍摄错误指数,n
all
表示所述第一工艺图像的图像总数,n
p
表示所述差
异区域图像的图像数目;利用下述格式确定所述拍摄错误指数对应的拍摄错误等级:;其中,L1表示所述拍摄错误等级中的第一等级,L2表示所述拍摄错误等级中的第二等级,L3表示所述拍摄错误等级中的第三等级,P表示所述拍摄错误指数,1、2、0表示赋予所述拍摄错误等级的值。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述拍摄错误等级满足预设错误等级时之前,还包括:利用下述公式计算所述拍摄错误等级的等级总和:;其中,A表示所述等级总和,L1表示所述拍摄错误等级中的第一等级,L2表示所述拍摄错误等级中的第二等级,L3表示所述拍摄错误等级中的第三等级;在所述等级总和不小于预设总和时,判定对所述硅胶工艺品进行变形检测;在所述等级总和小于所述预设总和时,判定不对所述硅胶工艺品进行变形检测。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测所述硅胶工艺品的异常变形状态,包括:检测所述硅胶工艺品的第一外形数据;识别所述第一外形数据对应的第一异常变形状态;检测所述硅胶工艺品的第二外形数据;识别所述第二外形数据对应的第二异常变形状态。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述检测所述硅胶工艺品的第一外形数据,包括:利用预设的红外线发射器向所述硅胶工艺品发射第一红外光线;将所述红外线发射器...

【专利技术属性】
技术研发人员:余勇熊艳
申请(专利权)人:深圳市众翔奕精密科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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