【技术实现步骤摘要】
硅胶工艺的形变校正方法及装置
[0001]本专利技术涉及硅胶工艺领域,尤其涉及一种硅胶工艺的形变校正方法及装置。
技术介绍
[0002]硅胶工艺是指硅胶制品的生产工艺,硅胶制品的生产工艺包括模压成型、挤出成型、射出成型等,硅胶制品包括模压硅胶制品、挤出硅胶制品、液态硅胶制品等,模压硅胶制品通过模具确定硅胶制品的形状,挤出硅胶制品通常是通过挤出机器挤压硅胶成型的,液态硅胶制品是通过硅胶注塑喷射成型的。
[0003]目前,随着时代的发展,硅胶工艺制品在各个行业中的用途也不断增大。然而,硅胶工艺品的变形会影响良品率,现有技术中,通常通过摄像头拍摄硅胶工艺制品,并识别所拍摄的图像来实现对硅胶工艺制品的变形检测,但由于摄像头的角度、清晰度等局限性,可能会存在所拍摄的图像不能满足图像检测的要求的问题,由于缺乏对这个问题的检测,导致图像采集在遇到问题时的灵活变通能力不足;其次,硅胶工艺制品的缺陷检测仅仅依赖于某一类型的图像来实现,由于图像类别的单一化,导致变形检测的不能灵活依赖多种图像类别来实现;另一方面,通过强制改变硅胶工艺制品的形变来达到形变校正的方法会对硅胶工艺制品的内部结构、原本未发生形变的部分造成影响,而这个影响是单向无法改变的,缺乏灵活性。因此,硅胶工艺制品的形变校正灵活性不足。
技术实现思路
[0004]为了解决上述问题,本专利技术提供了一种硅胶工艺的形变校正方法及装置,可以提高硅胶工艺的形变校正灵活性。
[0005]第一方面,本专利技术提供了一种硅胶工艺的形变校正方法,包括:采集摄像 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硅胶工艺品的形变校正方法,其特征在于,所述方法包括:采集摄像头拍摄的硅胶工艺品的第一工艺图像和监控拍摄的所述硅胶工艺品的第二工艺图像;识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像;基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,计算所述硅胶工艺品的拍摄错误等级;在所述拍摄错误等级满足预设错误等级时,检测所述硅胶工艺品的异常变形状态,根据所述异常变形状态构建所述硅胶工艺品的异常变形等级;基于所述异常变形等级,对所述硅胶工艺品进行形变矫正。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像,包括:识别所述第一工艺图像的第一前景区域,并识别所述第二工艺图像的第二前景区域;分别对所述第一前景区域与所述第二前景区域进行特征提取,得到第一提取特征与第二提取特征;利用下述公式计算所述第一提取特征与所述第二提取特征之间的欧几里得距离:;其中,D(f1,f
2 )表示所述欧几里得距离,x
i
表示所述第一提取特征中的第i个特征,y
i
表示所述第二提取特征中的第i个特征,n表示特征的数目,f1表示所述第一提取特征,f2表示所述第二提取特征;基于所述欧几里得距离,识别所述第一提取特征与所述第二提取特征之间的差异特征;利用下述公式计算所述差异特征与所述差异特征的邻域特征之间的差异值:;其中,F表示所述差异特征与所述差异特征的邻域特征之间的差异值,z
u
表示所述差异特征中的第u个特征,w
v
表示所述差异特征的邻域特征中的第v个特征,R、G、B表示特征点的R分量、G分量、B分量;利用所述差异特征与所述差异特征的邻域特征之间的差异值选取所述差异特征的邻域差异特征,并利用所述差异特征与所述邻域差异特征确定所述差异区域图像。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,计算所述硅胶工艺品的拍摄错误等级,包括:基于所述第一工艺图像与所述差异区域图像,利用下述公式计算所述硅胶工艺品的拍摄错误指数:;其中,P表示所述拍摄错误指数,n
all
表示所述第一工艺图像的图像总数,n
p
表示所述差
异区域图像的图像数目;利用下述格式确定所述拍摄错误指数对应的拍摄错误等级:;其中,L1表示所述拍摄错误等级中的第一等级,L2表示所述拍摄错误等级中的第二等级,L3表示所述拍摄错误等级中的第三等级,P表示所述拍摄错误指数,1、2、0表示赋予所述拍摄错误等级的值。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述拍摄错误等级满足预设错误等级时之前,还包括:利用下述公式计算所述拍摄错误等级的等级总和:;其中,A表示所述等级总和,L1表示所述拍摄错误等级中的第一等级,L2表示所述拍摄错误等级中的第二等级,L3表示所述拍摄错误等级中的第三等级;在所述等级总和不小于预设总和时,判定对所述硅胶工艺品进行变形检测;在所述等级总和小于所述预设总和时,判定不对所述硅胶工艺品进行变形检测。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测所述硅胶工艺品的异常变形状态,包括:检测所述硅胶工艺品的第一外形数据;识别所述第一外形数据对应的第一异常变形状态;检测所述硅胶工艺品的第二外形数据;识别所述第二外形数据对应的第二异常变形状态。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述检测所述硅胶工艺品的第一外形数据,包括:利用预设的红外线发射器向所述硅胶工艺品发射第一红外光线;将所述红外线发射器...
【专利技术属性】
技术研发人员:余勇,熊艳,
申请(专利权)人:深圳市众翔奕精密科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。