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本发明涉及硅胶工艺领域，揭露一种硅胶工艺的形变校正方法及装置，所述方法包括：采集摄像头拍摄的硅胶工艺品的第一工艺图像和监控拍摄的所述硅胶工艺品的第二工艺图像；识别所述第一工艺图像与所述第二工艺图像之间的差异区域图像；基于所述第一工艺图像与所...
该专利属于深圳市众翔奕精密科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市众翔奕精密科技有限公司授权不得商用。

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