检测装置及检测系统制造方法及图纸

一种能够抑制接近检测坐标获取精度降低的检测装置及检测系统。检测装置具备：传感器基板；多个电极，在传感器基板的检测区域沿第一方向及与第一方向不同的第二方向排列设置；检测电路，基于从多个电极输出的检测信号，生成每个电极的检测值；以及处理电路，生成表示检测区域上的被检测体的位置的空间坐标。空间坐标包含表示第一、二及与第一、二正交的第三方向的位置的第一、二、三数据。处理电路设定有针对检测值的第一阈值及比第一阈值大的第二阈值。在每个电极的检测值中的至少1个为第一阈值(Sth1)以上且小于第二阈值时，基于多个电极的检测值(S(n))获取第一、二及三数据，生成包含它们的空间坐标(R(Rx，Ry，Rz))。Rz))。Rz))。

【技术实现步骤摘要】
检测装置及检测系统


[0001]本专利技术涉及检测装置及检测系统。

技术介绍

[0002]近年来，已知一种将被称为所谓的触摸面板的、能够检测外部接近物体的检测装置装配或一体化在液晶显示装置等显示装置上而成的检测系统(例如，参照专利文献1至专利文献3)。在这样的检测系统中，例如除了检测操作者的手指等被检测体对检测面的接触的触摸检测功能之外，在手指未接触检测面的状态下，对检测区域上的空间中的手指的接近状态、手势等进行检测的悬停检测功能受到关注。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：美国专利申请公开第2014/0049486号说明书
[0006]专利文献2：美国专利申请公开第2013/0342498号说明书
[0007]专利文献3：美国专利申请公开第2014/0049508号说明书。

技术实现思路

[0008]专利技术所要解决的课题
[0009]在将多个电极设置在检测区域内、并检测在各电极产生的静电电容来对检测区域上的被检测体所存在的位置的空间坐标进行检测的结构中，与检测触摸检测位置的平面坐标的结构相比，需要增大各电极的尺寸来提高灵敏度。在这样的结构中，若检测面与被检测体的距离过于接近，则检测信号有可能超过在检测电路中能够检测的最大值而使检测坐标的获取精度降低。
[0010]本专利技术的目的在于提供一种能够抑制接近检测坐标的获取精度的降低的检测装置及检测系统。
[0011]用于解决课题的方案
[0012]本专利技术的一个方式所涉及的检测装置具备：传感器基板；多个电极，在所述传感器基板的检测区域沿第一方向及与所述第一方向不同的第二方向排列设置；检测电路，基于从多个所述电极输出的检测信号，生成每个所述电极的检测值；以及处理电路，生成表示所述检测区域上的被检测体的位置的空间坐标，其中所述空间坐标包含表示所述第一方向的位置的第一数据、表示所述第二方向的位置的第二数据、以及表示与所述第一方向及所述第二方向正交的第三方向的位置的第三数据，所述处理电路设定有针对所述检测值的第一阈值及比所述第一阈值大的第二阈值，在每个所述电极的检测值中的至少1个为所述第一阈值以上且小于所述第二阈值的情况下，基于多个所述电极的检测值，获取第一数据、第二数据及第三数据，生成包含该第一数据、第二数据及第三数据的空间坐标。
[0013]本专利技术的一个方式所涉及的检测系统具备：上述检测装置；以及显示面板，隔着气隙与所述传感器部相对配置，在从所述第三方向看的俯视观察时，所述检测区域与所述显
示面板的显示区域在所述第三方向上重叠。
附图说明
[0014]图1是示出实施方式1所涉及的检测系统中应用的检测装置的概略构成的俯视图。
[0015]图2是示出实施方式1所涉及的检测系统的概略截面构成的示意图。
[0016]图3是示出实施方式1所涉及的检测装置的检测部的构成例的框图。
[0017]图4A是示出检测区域上的空间中的被检测体的位置与各电极的位置关系的示意图。
[0018]图4B是示出检测区域上的空间中的被检测体的空间坐标的示意图。
[0019]图5A是示出被检测体与电极的距离和输出值的关系的第一例的图表。
[0020]图5B是示出被检测体与电极的距离和输出值的关系的第二例的图表。
[0021]图6是示出实施方式1中的被检测体与电极的距离和线性变换处理后的检测值的关系的图表。
[0022]图7A是示出被检测体的空间坐标的提取方法的一例的第一图表。
[0023]图7B是示出被检测体的空间坐标的提取方法的一例的第二图表。
[0024]图8是示出实施方式1所涉及的检测装置的动作例的概念图。
[0025]图9是示出在实施方式1所涉及的检测装置中提取的空间坐标的对应关系的表。
[0026]图10是示出实施方式1所涉及的检测装置中的空间坐标检测处理的一例的流程图。
[0027]图11是示出实施方式2中的被检测体与电极的距离和线性变换处理后的检测值的关系的图表。
[0028]图12是示出实施方式2所涉及的检测装置的动作例的概念图。
[0029]图13是示出在实施方式2所涉及的检测装置中提取的空间坐标的对应关系的表。
[0030]图14是示出实施方式2所涉及的检测装置中的空间坐标检测处理的一例的流程图。
[0031]符号说明
[0032]1、检测装置；10、传感器部；11、传感器基板；12、电极；13、布线；14、屏蔽件；15、盖板玻璃；20、控制部；21、控制基板；22、检测电路；23、处理电路；24、电源电路；25、接口电路；31、布线基板；40、检测部；42、信号检测部；43、A/D转换部；44、信号处理部；45、坐标提取部；46、存储部；200、显示面板；AA、检测区域；AG、气隙；D、D(n)、距离；DA、显示区域；Det(n)、检测信号；F、被检测体；OC、粘接层；Rawdata、Rawdata(n)、输出值；Rx、第一数据；Ry、第二数据；Rz、第三数据；S、S(n)、检测值；S_lower_lim、处理下限值；S_upper_lim、处理上限值；Sth1、第一阈值；Sth2、第二阈值；Sth3、第三阈值。
具体实施方式
[0033]参照附图对用于实施本专利技术的方式(实施方式)进行详细说明。另外，本专利技术并不限定于以下的实施方式所记载的内容。另外，在以下记载的构成要素中，包含本领域技术人员能够容易想到的要素、实质上相同的要素。进一步，以下记载的构成要素可以适当组合。另外，公开只不过是一例，本领域技术人员容易想到的保持专利技术的主旨的适当变更当然包
含在本专利技术的范围内。另外，附图为了使说明更明确，与实际的方式相比，有时示意性地表示各部分的宽度、厚度、形状等，但只不过是一例，并不限定本专利技术的解释。另外，在本说明书和各图中，对于与已出现的图中所述的要素相同的要素，标注相同的符号，有时适当省略详细的说明。
[0034](实施方式1)
[0035]图1是示出在实施方式1所涉及的检测系统中应用的检测装置的概略构成的俯视图。如图1所示，检测装置1具备传感器部10和控制部(控制电路)20。
[0036]传感器部10具有传感器基板11、设置于传感器基板11的检测区域AA的多个电极12、以及从多个各电极12延伸的布线13。控制部20具有控制基板21、检测电路22、处理电路23、电源电路24以及接口电路25。
[0037]传感器基板11的检测区域AA是设置有在Dx方向(第一方向)和Dy方向(第二方向)上以矩阵状排列的多个电极12的区域。传感器基板11例如是玻璃基板或具有透光性的柔性印刷基板(FPC：FlexiblePrintedCircuits)。
[0038]在本公开中，Dx方向(第一方向)和Dy方向(第二方向)在传感器基板11的检测区域AA中正交。另外，在本公开中，将与Dx方向(第一方向)以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，具备：传感器部，设置有检测区域；多个电极，在所述检测区域沿第一方向及与所述第一方向不同的第二方向排列设置；检测电路，基于从多个所述电极输出的检测信号，生成每个所述电极的检测值；以及处理电路，生成表示所述检测区域上的被检测体的位置的空间坐标，所述空间坐标包含表示所述第一方向的位置的第一数据、表示所述第二方向的位置的第二数据、以及表示与所述第一方向和所述第二方向正交的第三方向的位置的第三数据，所述处理电路设定有针对所述检测值的第一阈值及比所述第一阈值大的第二阈值，在每个所述电极的检测值中的至少1个为所述第一阈值以上且小于所述第二阈值的情况下，基于多个所述电极的检测值，获取第一数据、第二数据及第三数据，生成包含该第一数据、第二数据及第三数据的空间坐标。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述处理电路具备存储部，该存储部在每个所述电极的检测值中的至少1个为所述第一阈值以上且小于所述第二阈值的情况下，存储基于多个所述电极的检测值而生成的第一数据、第二数据及第三数据。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述处理电路在每个所述电极的检测值中的至少1个为所述第二阈值以上的情况下，读出存储于所述存储部的第一数据及第二数据，将第三数据设为0，生成包含该第一数据、第二数据及第三数据的空间坐标。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：中西贵之，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：