一种自校正测厚装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及测厚技术领域，具体涉及一种自校正测厚装置。本实用新型专利技术包括一对镜像设置的底座本体，所述底座之间滑动设置有检测机构；所述检测机构的一端设置有停放区域，另一端设置有校正区域，所述校正区域内设置有校正板，以及所述检测机构设置有检测间隙，待测件穿过所述检测间隙。所述检测机构滑动到工作区域并且通过超声波准确测出薄膜的厚度，精准度高，保证了产品的质量。保证了产品的质量。保证了产品的质量。

【技术实现步骤摘要】
一种自校正测厚装置


[0001]本技术涉及测厚
，具体涉及一种自校正测厚装置。

技术介绍

[0002]薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量;如图1所示，现有的测厚装置通常为固定，无法实时调整装置的位置，再加上测厚过程中有干扰杂波的存在，在连续工作时会产生误差无法进行校准，因此，提供一种能够对测厚仪进行实时的厚度校正的自校正测厚装置是很有必要的。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是：提供一种能够在测量薄膜厚度时不受干扰并且可以实时调整检测位置的装置。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种自校正测厚装置，包括：一对镜像设置的底座本体，所述底座之间滑动设置有检测机构；所述检测机构的一端设置有停放区域，另一端设置有校正区域，所述校正区域内设置有校正板，以及所述检测机构设置有检测间隙，待测件穿过所述检测间隙。
[0005]进一步地，所述底座本体之间设置有若干支撑梁，所述支撑梁横向设置，且所述支撑梁的两端分别贴合所述底座本体的侧壁；所述支撑梁的一侧开设有滑槽，所述滑槽贯穿所述支撑梁，所述滑槽内滑动有滑块，所述滑块包括滑动座和设置在所述滑动座上的滑头，所述滑头的顶部和两个长沿侧壁，分别贴合所述滑槽的底壁和侧壁。
[0006]进一步地，所述检测机构包括镜像设置的检测头，所述检测头的一侧设置有安装板，所述滑动座的底部设置在所述安装板上。/>[0007]进一步地，所述滑头与所述滑头贴合所述滑槽底部的一侧均开设有半圆孔，两个所述半圆孔拼合成一个圆孔，所述圆孔内插接有限位柱，所述限位柱的外圈与所述圆孔的侧壁贴合。
[0008]进一步地，所述底座本体的外侧设置有若干同步轮，所述同步轮上套设有同步带，所述同步轮的高度与所述滑槽的高度相同，所述底座本体上开设有若干适于所述同步带穿过的连接孔，所述同步带穿过所述连接孔在所述支撑梁的两侧滑动。
[0009]进一步地，所述底座本体的外侧设置有若干同步轮，所述同步轮上套设有同步带，所述同步轮的高度与所述滑槽的高度相同，所述底座本体上开设有若干适于所述同步带穿过的连接孔，所述同步带穿过所述连接孔在所述支撑梁的两侧滑动。
[0010]进一步地，所述安装板上设置有若干安装块，且所述安装块设置在所述滑块的两侧，所述安装块上设置有压紧块，所述压紧块将所述同步带设置在所述安装块上。
[0011]进一步地，所述底座本体的一侧设置有固定板，所述固定板的同侧设置有配合板，所述配合板设置在所述底座本体上，所述固定板和所述配合板上转动设置有同步轴，所述
同步轮设置在所述同步轴的两端。
[0012]进一步地，所述同步轴上同轴设置有第一齿轮，所述第一齿轮固定在所述同步轴上，所述固定板上设置有同步电机，所述同步电机的转动端上设置有第二齿轮，所述第一齿轮与所述第二齿轮啮合。
[0013]进一步地，所述底座本体的底部插接有螺纹杆，所述螺纹杆上设置有支脚。
[0014]进一步地，所述底座本体上开设有若干调节孔，所述调节孔的两侧设置有限位环，所述限位环的内圈设置有与所述螺纹杆适配的螺纹，所述螺纹杆穿过所述调节孔后，所述限位环向所述调节孔的一侧拧紧，所述限位环的相对的一侧分别贴合所述调节孔的两端。
[0015]本技术的有益效果是：
[0016]1、实时调整测厚装置位置，可以准确测出待测件的厚度。
[0017]2、避免了测厚装置受到干扰波影响，提高了工作效率。
附图说明
[0018]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0019]图1是现有的测厚装置；
[0020]图2是本技术整体结构第一结构示意图；
[0021]图3是本技术整体结构第二结构示意图；
[0022]图4是本技术检测机构示意图；
[0023]图5是本技术滑动块示意图。
[0024]图中：
[0025]100、底座本体，101、检测机构，102、停放区域，103、校正区域，104、校正板，105、支撑梁，106、滑槽，107、滑块，108、滑动座，109、滑头，110、检测头，111、安装板，112、限位柱，113、压紧块，114、同步带，115、同步轮，116、安装块，119、同步轴，120、第一齿轮，121、第二齿轮，122、螺纹杆，123、支脚，124、限位环，125、固定板，126、配合板。
具体实施方式
[0026]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。相反，本技术的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。
[0027]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0028]此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机
械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0029]实施例一，如图1~5所示，本技术提供了一种自校正测厚装置，包括:一对镜像设置的底座本体100，所述底座之间滑动设置有检测机构101；所述检测机构101的一端设置有停放区域102，另一端设置有校正区域103，所述校正区域103内设置有校正板104，以及所述检测机构101设置有检测间隙，待测件穿过所述检测间隙。具体的，传统的检测机构101通常为固定，无法实时调整检测装置的位置，再加上测厚过程中有干扰杂波的存在，影响测量精度，从而影响检测效率。本技术将所述检测机构101滑动设置，所述待测件穿过所述检测机构101，对所述待测件的宽度方向进行往复检测。如果发现所述待测件异常，所述检测机构101将停止工作。所述校正区域103外部设有钣金件，适于保护校正板104，在开启设备之前，经检测机构101滑动至所述校正板104处，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自校正测厚装置，其特征在于，包括：一对镜像设置的底座本体，所述底座之间滑动设置有检测机构；所述检测机构的一端设置有停放区域，另一端设置有校正区域，所述校正区域内设置有校正板，以及所述检测机构设置有检测间隙，待测件穿过所述检测间隙。2.如权利要求1所述的自校正测厚装置，其特征在于，所述底座本体之间设置有若干支撑梁，所述支撑梁横向设置，且所述支撑梁的两端分别贴合所述底座本体的侧壁；所述支撑梁的一侧开设有滑槽，所述滑槽贯穿所述支撑梁，所述滑槽内滑动有滑块，所述滑块包括滑动座和设置在所述滑动座上的滑头，所述滑头的顶部和两个长沿侧壁，分别贴合所述滑槽的底壁和侧壁。3.如权利要求2所述的自校正测厚装置，其特征在于，所述检测机构包括镜像设置的检测头，所述检测头的一侧设置有安装板，所述滑动座的底部设置在所述安装板上。4.如权利要求3所述的自校正测厚装置，其特征在于，所述滑头与所述滑头贴合所述滑槽底部的一侧均开设有半圆孔，两个所述半圆孔拼合成一个圆孔，所述圆孔内插接有限位柱，所述限位柱的外圈与所述圆孔的侧壁贴合。5.如权利要求4所述的自校正测厚装置，其特征在于，所述底座本体的外侧设置有若干同步轮，所述同步轮上套设有同步带，所述同步轮的高度与所述滑槽的高度相同，所述底座本体上开设...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭智，李赛赛，
申请(专利权)人：蓝冰河常州精密测量技术有限责任公司，
类型：新型
国别省市：