一种自张紧式薄膜测厚装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于薄膜测厚技术领域，具体涉及一种自张紧式薄膜测厚装置，包括：一对底座本体，所述底座本体之间滑动设置有发射模块和接收模块，所述发射模块和所述接收模块之间存在检测间隙；一对转动设置在所述底座本体上的支撑辊，所述支撑辊分别设置在所述检测间隙的两侧，并且所述支撑辊的顶部的水平位置落在所述检测间隙内；弹性设置在所述底座本体上的张紧辊，所述张紧辊位于所述一侧的所述支撑辊的下方，以及所述张紧辊始终有向下运动的趋势。有益效果：张紧辊能向下运动的趋势能使待测薄膜处于张紧状态，避免了待测薄膜的褶皱弯折等情况，提高了检测质量。提高了检测质量。提高了检测质量。

【技术实现步骤摘要】
一种自张紧式薄膜测厚装置


[0001]本技术属于薄膜测厚
，具体涉及一种自张紧式薄膜测厚装置。

技术介绍

[0002]薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为：由原子，分子或离子沉积在基片表面形成的2维材料。例：光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器，机械，印刷等行业；薄膜生产完成后，为了保证薄膜质量，在出厂前需要对薄膜进行厚度检测。
[0003]现有技术中如图1所示，对薄膜厚度检测时，薄膜安放在支撑棍上穿过检测间隙，位于检测间隙上方的发射模块发出超声波穿过薄膜，位于下方的接收模块接收到薄膜的检测数据从而完成薄膜厚度的检测，但是由于薄膜薄而软，没有张紧装置对薄膜进行张紧，薄膜容易出现褶皱弯折等情况，造成对薄膜的检测数据不准确，影响检测效果。
[0004]因此，提供一种能对薄膜进行自张紧式的薄膜测厚装置是有必要的。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种自张紧式薄膜测厚装置，以解决检测薄膜时薄膜不能张紧影响检测数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，包括：一对底座本体，所述底座本体之间滑动设置有发射模块和接收模块，所述发射模块和所述接收模块之间存在检测间隙；一对转动设置在所述底座本体上的支撑辊，所述支撑辊分别设置在所述检测间隙的两侧，并且所述支撑辊的顶部的水平位置落在所述检测间隙内；弹性设置在所述底座本体上的张紧辊，所述张紧辊位于所述一侧的所述支撑辊的下方，以及所述张紧辊始终有向下运动的趋势。2.如权利要求1所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，所述张紧辊的轴向开设有贯穿孔，所述贯穿孔的端部开设有安装台阶，所述安装台阶通过轴承转动设置有张紧轴；所述底座本体上设置有一对张紧座，所述张紧座上开设有张紧缺口，所述张紧缺口的顶部设置有张紧弹簧，以及所述张紧轴的两端插接在所述张紧缺口内，所述张紧弹簧的另一端设置在所述张紧轴的插接端的顶部，所述张紧弹簧始终处于压缩状态。3.如权利要求2所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，所述张紧缺口的侧壁为竖直设置，所述张紧轴的端部设置有一对竖直的第一扁位，所述第一扁位贴合所述张紧缺口的侧壁。4.如权利要求3所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，所述张紧座的顶部盖合有张紧盖板，所述张紧缺口贯穿所述张紧座的顶部，所述张...

【专利技术属性】
技术研发人员：严循东，
申请(专利权)人：蓝冰河常州精密测量技术有限责任公司，
类型：新型
国别省市：