一种芯片自动化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于芯片测试领域，尤其是一种芯片自动化测试装置，针对现有的测试装置在上下料时，需要人工进行操作，效率低下，在检测完成后，不能将合格和不合格的芯片进行自动收集，不方便使用的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部滑动连接有测试架，所述测试架的顶部内壁上固定连接有电动十字滑台，所述电动十字滑台上设有测试探针，所述底座的顶部设有用于放置芯片的固定板，上料机构，上料机构设置在底座上用于芯片上料，收集机构，收集机构设置在底座上用于对测试后的芯片进行收集本实用新型专利技术通过上料机构可以自动对芯片进行上料，不需要人工上料，效率高，同时可以对测试后的芯片进行自动分类收集，方便使用。方便使用。方便使用。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片自动化测试装置


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片自动化测试装置。

技术介绍

[0002]半导体芯片，是信息化时代的基石，也是当今尖端制造的制高点。芯片制造，已经进入10纳米到7纳米器件的量产时代。芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效。因此，芯片检测环节至关重要，采用好的芯片测试设备和方法是提高芯片制造水平的关键之一。
[0003]经检索，公告号为：CN213459696U公开了一种芯片自动化测试装置，包括底板、驱动机构、限位机构和放置机构，所述驱动机构设置在底板的顶部，所述限位机构设置在底板的顶部，所述放置机构设置在限位机构上，所述驱动机构包括竖板，所述竖板安装在底板顶部的左侧，所述竖板的顶部安装有横板，所述横板顶部的左侧安装有安装块。本技术通过固定壳、抽风机、连接管、固定管、吸气管、吸气头、支撑板、放置板、定位块、稳固块、放置槽和通孔的相互配合，从而大大提高了芯片测试时的稳固性，从而方便对芯片进行固定，避免芯片测试时出现偏移的现象发生，大大提高了测试效率，同时提高了测试时的准确性，给使用者带来极大的便利。
[0004]该技术方案存在以下问题：
[0005]1、在上下料时，需要人工进行操作，效率低下；
[0006]2、在检测完成后，不能将合格和不合格的芯片进行自动收集，不方便使用。
[0007]针对上述问题，本技术文件提出了一种芯片自动化测试装置，用于解决上述提出的问题。

技术实现思路

[0008]本技术提供了一种芯片自动化测试装置，解决了现有技术中存在现有的测试装置在上下料时，需要人工进行操作，效率低下，在检测完成后，不能将合格和不合格的芯片进行自动收集，不方便使用的缺点。
[0009]本技术提供了如下技术方案：
[0010]一种芯片自动化测试装置，包括：
[0011]底座，所述底座的顶部滑动连接有测试架，所述测试架的顶部内壁上固定连接有电动十字滑台，所述电动十字滑台上设有测试探针，所述底座的顶部设有用于放置芯片的放置板；
[0012]上料机构，上料机构设置在底座上用于芯片上料；
[0013]收集机构，收集机构设置在底座上用于对测试后的芯片进行收集；
[0014]固定机构，固定机构设置在底座上用于对芯片进行固定。
[0015]在一种可能的设计中，所述上料机构包括固定连接在底座顶部上的输送带，所述输送带位于放置板的一侧。
[0016]在一种可能的设计中，所述收集机构包括第一气缸、第一推板、第一收集箱、固定板、第二气缸、第二推板和第二收集箱，所述第一气缸固定连接在测试架上，所述第一气缸的输出端与第一推板的一侧固定连接，所述第一收集箱放置在底座的顶部，所述固定板的底部与底座的顶部固定连接，所述第二气缸的一侧与固定板的一侧固定连接，所述第二气缸的输出端与测试架的一侧固定连接，所述第二推板的一侧与测试架的前侧固定连接，所述第二收集箱放置在底座上。
[0017]在一种可能的设计中，所述固定机构包括固定箱、抽风机和漏斗，所述固定箱的底部与底座的顶部固定连接，所述抽风机的底部与固定箱的底部内壁固定连接，所述抽风机的输入端与漏斗的底部固定连通，所述固定板固定连接在漏斗的顶部，所述固定板上开设有多个通孔。
[0018]在一种可能的设计中，所述底座的底部四角位置上均固定连接有用于支撑底座的支腿，所述支腿的底部固定连接有防滑垫。
[0019]在一种可能的设计中，所述底座的顶部固定连接有滑轨，所述滑轨上滑动连接有滑块，所述滑块的顶部与测试架的底部固定连接。
[0020]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本技术。
[0021]本技术中的有益效果为：
[0022]本技术中，通过输送带可以对芯片进行输送，这样可以自动上料，不需要人工上料，效率高。
[0023]本技术中，通过抽风机可以使漏斗产生吸力，通过放置板上的通孔可以将芯片进行吸附固定，通过电动十字滑台可以使测试探针进行移动，进而可以使测试探针对芯片进行测试。
[0024]本技术中，若芯片合格，控制器会控制第一气缸启动，进而可以使第一推板进行移动，从而可以将芯片推送至第一收集箱内，若芯片不合格，控制器控制第二气缸启动，第二气缸可以使测试架进行移动，通过第二推板可以将芯片推送至第二收集箱内进行收集，这样不需要人工上下料，同时可以对测试后的芯片进行分类收集，方便使用。
[0025]本技术通过上料机构可以自动对芯片进行上料，不需要人工上料，效率高，同时可以对测试后的芯片进行自动分类收集，方便使用。
附图说明
[0026]图1为本技术实施例所提供的一种芯片自动化测试装置的第一视角结构示意图；
[0027]图2为本技术实施例所提供的一种芯片自动化测试装置的第二视角结构示意图；
[0028]图3为本技术实施例所提供的一种芯片自动化测试装置的第三视角结构示意图；
[0029]图4为本技术实施例所提供的一种芯片自动化测试装置的固定箱内部结构示意图。
[0030]附图标记：
[0031]1、底座；2、测试架；3、输送带；4、电动十字滑台；5、测试探针；6、放置板；7、第一气缸；8、第一推板；9、第一收集箱；10、固定板；11、第二气缸；12、第二推板；13、第二收集箱；14、滑轨；15、滑块；16、支腿；17、固定箱；18、抽风机；19、漏斗。
具体实施方式
[0032]下面结合本技术实施例中的附图对本技术实施例进行描述。
[0033]在本技术实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语、“连接”、“安装”应做广义理解，例如，“连接”可以是可拆卸地连接，也可以是不可拆卸地连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接连接。此外“连通”可以是直接连通，也可以通过中间媒介间接连通。其中，“固定”是指彼此连接且连接后的相对位置关系不变。本技术实施例中所提到的方位用语，例如，“内”、“外”、“顶”、“底”等，仅是参考附图的方向，因此，使用的方位用语是为了更好、更清楚地说明及理解本技术实施例，而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术实施例的限制。
[0034]本技术实施例中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
[0035]在本技术实施例中，“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0036]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片自动化测试装置，其特征在于，包括：底座(1)，所述底座(1)的顶部滑动连接有测试架(2)，所述测试架(2)的顶部内壁上固定连接有电动十字滑台(4)，所述电动十字滑台(4)上设有测试探针(5)，所述底座(1)的顶部设有用于放置芯片的放置板(6)；上料机构，上料机构设置在底座(1)上用于芯片上料；收集机构，收集机构设置在底座(1)上用于对测试后的芯片进行收集；固定机构，固定机构设置在底座(1)上用于对芯片进行固定。2.根据权利要求1所述的一种芯片自动化测试装置，其特征在于，所述上料机构包括固定连接在底座(1)顶部上的输送带(3)，所述输送带(3)位于放置板(6)的一侧。3.根据权利要求1所述的一种芯片自动化测试装置，其特征在于，所述收集机构包括第一气缸(7)、第一推板(8)、第一收集箱(9)、固定板(10)、第二气缸(11)、第二推板(12)和第二收集箱(13)，所述第一气缸(7)固定连接在测试架(2)上，所述第一气缸(7)的输出端与第一推板(8)的一侧固定连接，所述第一收集箱(9)放置在底座(1)的顶部，所述固定板(10)的底部与底座(1)的顶部固定连接，所述第二气缸(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄少娃，黄旭彪，吴桂冠，罗晓东，翁友民，
申请(专利权)人：深圳市铨兴科技有限公司，
类型：新型
国别省市：