一种芯片烧录测试设备制造技术

本发明专利技术涉及芯片烧录检测技术领域，具体的说是一种芯片烧录测试设备，包括控制台；固定机构，所述控制台底部安装有固定机构，所述固定机构包括吸盘，所述控制台四角内部分别安装有吸盘，所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接，所述吸盘底部延伸至控制台外侧，所述吸盘内部中心处设有导流槽，所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆，所述螺杆底部转动连接有橡胶柱，所述橡胶柱与控制台内部滑动连接，所述橡胶柱底部位于吸盘顶部，所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径；闭锁机构，所述控制台内部安装有闭锁机构；通过固定机构的作用下有利于使控制台与台面吸附牢固，固定机构的驱动利于使闭锁机构工作，实现对存放机构的闭锁控制。制。制。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片烧录测试设备


[0001]本专利技术涉及芯片烧录检测
，具体的说是一种芯片烧录测试设备。

技术介绍

[0002]随着集成电路技术的不断发展，使得电子产品体积越来越小型化，不仅方便人们携带，也具有强大的运算处理功能。芯片在生产时，需要经过多道繁杂的手续，成品制作完成后，进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中，以使芯片能实现特定的功能。
[0003]然而，目前在对芯片烧录检测时，大部分都是将芯片单个进行放置在夹具上烧录，来回操作耗时耗力，拆卸繁琐，降低了整体的工作效率，并且夹具只能对一个种类的芯片进行放置，当需要更换芯片时需要更换夹具，十分不方便，并且在烧录过程中不方便很好的对芯片散热防护，从而影响芯片烧录的质量，同时在芯片烧录时，操作夹具是直接放置在台面，操作夹具稳定性差容易松动，缺乏固定组件，从而影响正常的芯片安装，并稍有不慎容易造成线路接触不良，影响芯片的烧录检测工作。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中的问题，本专利技术提供了一种芯片烧录测试设备。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种芯片烧录测试设备，包括：
[0006]控制台；
[0007]放置机构，所述控制台上安装有放置机构；
[0008]固定机构，所述控制台底部安装有固定机构，所述固定机构包括吸盘，所述控制台四角内部分别安装有吸盘，所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接，所述吸盘底部延伸至控制台外侧，所述吸盘内部中心处设有导流槽，所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆，所述螺杆底部转动连接有橡胶柱，所述橡胶柱与控制台内部滑动连接，所述橡胶柱底部位于吸盘顶部，所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径；
[0009]闭锁机构，所述控制台内部安装有闭锁机构。
[0010]具体的，所述放置机构包括底座，所述控制台上可拆卸连接有底座，所述底座顶部安装有转盘，所述转盘顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽，所述底座底部内侧中心处可拆卸连接有电机，所述底座顶部中心处转动连接有驱动盘，所述电机输出轴与驱动盘底部连接，所述驱动盘顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣，所述转盘底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽，所述卡扣与卡槽内部卡合，所述转盘通过驱动盘与底座顶部转动连接，所述卡槽和卡扣均为“L”形结构。
[0011]具体的，所述底座顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块，所述凸块底部通过抵触弹簧与底座内部滑动连接，所述凸块顶部为半圆形结构，所述转盘底部设有多个呈环形分布的凹槽，所述凸块顶部与凹槽内部抵触。
[0012]具体的，所述放置机构上安装有抵触机构，所述抵触机构包括立柱，所述底座一侧可拆卸连接有立柱，所述立柱为“7”字形结构，所述立柱延伸至转盘顶部，所述立柱顶部一
端位于放置槽顶部，所述立柱顶部一端内侧安装有连接块，所述连接块通过活动弹簧与立柱内部滑动连接，所述连接块底部延伸至立柱外侧，所述连接块底部转动连接有压轮，所述压轮位于放置槽顶部。
[0013]具体的，多个所述放置槽内部中心处分别设有顶套，所述顶套内部安装有压缩弹簧，所述顶套底部通过压缩弹簧与转盘内部滑动连接。
[0014]具体的，所述放置机构内部安装有连接机构，所述连接机构包括连通槽，所述转盘边缘处内部设有多组对称的分布的连通槽，所述连通槽顶部延伸至放置槽顶部，所述连通槽底部延伸至转盘底部外侧，所述底座边缘处内部安装有集成板，所集成板通过复位弹簧与底座内部纵向滑动连接，所述集成板顶部两端垂直连接有多个等距分布的金属板，多个所述金属板位于多个连通槽底部，所述底座内部滑动连接有控制板，所述集成板与控制板之间连接有两个缓冲弹簧，所述集成板底部垂直连接有两个导杆，所述导杆贯穿于缓冲弹簧与控制板内部滑动连接，所述底座内部边缘处可拆卸连接有气缸，所述气缸输出轴延伸至底座内部与控制板连接。
[0015]具体的，所述抵触机构上连接有散热机构，所述散热机构包括连接管，所述立柱一侧连接有连接管，所述立柱顶部内侧设有导槽，所述导槽两端延伸至立柱外侧，所述连接管延伸至导槽一端内部，所述导槽另一端连接有进气管，所述底座内部设有导气槽，所述导气槽一端延伸至集成板一侧，所述连接管另一端延伸至导气槽另一端内部，所述立柱内部滑动连接有皮塞，所述皮塞为长方形结构，所述皮塞顶部延伸至导槽内部，所述皮塞上设有通槽，所述皮塞底部贯穿于活动弹簧与连接块顶部垂直固定连接。
[0016]具体的，所述控制台上安装有存放机构，所述存放机构包括收集盒，所述控制台内部滑动连接有收集盒，所述收集盒一端延伸至控制台外侧，所述收集盒外侧中心处设有拉槽，所述收集盒内侧安装有静电板。
[0017]具体的，所述闭锁机构包括限位杆，所述控制台一端内部安装有限位杆，所述限位杆通过挤压弹簧与控制台内部横向滑动连接，所述限位杆两端为弧形结构，所述收集盒侧壁和其中一个橡胶柱侧壁分别设有对称的锁槽，所述限位杆一端与橡胶柱侧壁抵触，所述限位杆另一端与收集盒上的锁槽内部抵触。
[0018]本专利技术的有益效果是：
[0019]（1）本专利技术所述的一种芯片烧录测试设备，通过放置机构的作用下有利于对多个需要烧录和检测的芯片放置，通过抵触机构的安装，有利于对需要烧录和检测的芯片进行抵触防止松动。
[0020]（2）本专利技术所述的一种芯片烧录测试设备，通过连接机构利于不同大小的芯片引脚插入稳定，并且方便后续与芯片引脚电性连接，实现数据传输，通过抵触机构驱动使散热机构工作，有利于散热机构对连接机构及芯片散热防护。
[0021]（3）本专利技术所述的一种芯片烧录测试设备，通过固定机构的作用下有利于使控制台与台面吸附牢固，使控制台不会滑动，实现更稳定的检测工作，并且方便快速的进行复位拆卸，通过存放机构的作用下，有利于对烧录或检测失败的芯片存放回收，通过固定机构的驱动利于使闭锁机构工作，实现对存放机构的闭锁控制。
附图说明
[0022]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。
[0023]图1为本专利技术提供的一种芯片烧录测试设备的一种较佳实施例的整体结构示意图；
[0024]图2为本专利技术的底座与转盘的连接结构示意图；
[0025]图3为本专利技术的卡扣的结构示意图；
[0026]图4为本专利技术的立柱与压轮的连接结构示意图；
[0027]图5为本专利技术的集成板与金属板的连接结构示意图；
[0028]图6为图5所示的A部结构放大示意图；
[0029]图7为本专利技术的控制台与吸盘的连接结构示意图；
[0030]图8为图7所示的B部结构放大示意图。
[0031]图中：1、控制台；2、放置机构；201、底座；202、转盘；203、放置槽；204、卡扣；205、驱动盘；206、卡槽；207、电机；208、凸块；209、抵触弹簧；210、凹槽；3、抵触机构；301、立柱；302、连接块；303、活动弹簧；304、压轮；305、顶套；306、压缩弹簧；4、连接机构；401、连通槽；402、金属板；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片烧录测试设备，其特征在于，包括：控制台（1）；放置机构（2），所述控制台（1）上安装有放置机构（2）；固定机构（6），所述控制台（1）底部安装有固定机构（6），所述固定机构（6）包括吸盘（603），所述控制台（1）四角内部分别安装有吸盘（603），所述吸盘（603）通过按压弹簧（604）与控制台（1）内部滑动连接，所述吸盘（603）底部延伸至控制台（1）外侧，所述吸盘（603）内部中心处设有导流槽（605），所述控制台（1）四角分别垂直螺纹连接有螺杆（601），所述螺杆（601）底部转动连接有橡胶柱（602），所述橡胶柱（602）与控制台（1）内部滑动连接，所述橡胶柱（602）底部位于吸盘（603）顶部，所述橡胶柱（602）底部直径小于吸盘（603）顶部直径；闭锁机构（8），所述控制台（1）内部安装有闭锁机构（8）。2.根据权利要求1所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述放置机构（2）包括底座（201），所述控制台（1）上可拆卸连接有底座（201），所述底座（201）顶部安装有转盘（202），所述转盘（202）顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽（203），所述底座（201）底部内侧中心处可拆卸连接有电机（207），所述底座（201）顶部中心处转动连接有驱动盘（205），所述电机（207）输出轴与驱动盘（205）底部连接，所述驱动盘（205）顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣（204），所述转盘（202）底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽（206），所述卡扣（204）与卡槽（206）内部卡合，所述转盘（202）通过驱动盘（205）与底座（201）顶部转动连接，所述卡槽（206）和卡扣（204）均为“L”形结构。3.根据权利要求2所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述底座（201）顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块（208），所述凸块（208）底部通过抵触弹簧（209）与底座（201）内部滑动连接，所述凸块（208）顶部为半圆形结构，所述转盘（202）底部设有多个呈环形分布的凹槽（210），所述凸块（208）顶部与凹槽（210）内部抵触。4.根据权利要求2所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述放置机构（2）上安装有抵触机构（3），所述抵触机构（3）包括立柱（301），所述底座（201）一侧可拆卸连接有立柱（301），所述立柱（301）为“7”字形结构，所述立柱（301）延伸至转盘（202）顶部，所述立柱（301）顶部一端位于放置槽（203）顶部，所述立柱（301）顶部一端内侧安装有连接块（302），所述连接块（302）通过活动弹簧（303）与立柱（301）内部滑动连接，所述连接块（302）底部延伸至立柱（301）外侧，所述连接块（302）底部转动连接有压轮（304），所述压轮（304）位于放置槽（203）顶部。5.根据权利要求4所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：多个所述放置槽（203）内部中心处分别设有顶套（305），所述顶套（305）内部安装有压缩弹簧（306），所述顶套（305）底部通过压缩弹簧（...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈华平，李小山，
申请(专利权)人：深圳市迪科贝科技有限公司，
类型：发明
国别省市：