一种芯片引脚测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片引脚测试装置，涉及芯片测试技术领域，包括待检测芯片，还包括：基座；开设在所述基座内并用于待检测芯片放置的容纳槽；一对电极件，所述电极件包括滑槽、导电杆、滑块、触头，所述滑槽开设在所述基座内，所述滑块滑动连接在所述滑槽内，所述导电杆贯穿所述滑块，所述触头固定安装在所述滑块上；其中，在所述触头的移动路径上，所述触头依次和所述待检测芯片的多个引脚相抵触。本实用新型专利技术的有益效果是：触头的移动时，会逐个和待检测芯片的引脚进行接触，通过观察每组引脚的电流变化，可以判断引脚对应的内部线路是否处于通路，只需要简单滑移触头即可，操作简单、提高检测速度。提高检测速度。提高检测速度。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片引脚测试装置


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体为一种芯片引脚测试装置。

技术介绍

[0002]引脚，又叫管脚，就是从集成电路(芯片)内部电路引出与外围电路的接线，所有的引脚就构成了这块芯片的接口。
[0003]集成电路在进行检测时，会通过万用表分别接入输入以及输出引脚上，以通过电流变化，而判断相对应的输入以及输出路线时候处于通路状态，目前进行检测时，由工人手持万用表的两个表笔分别接触输入以及输出引脚，多条路线依次检测，每次都需要对准向应的引脚，必然的，对熟练度要求就较高，且检测速度慢。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种芯片引脚测试装置，以解决现有技术中的上述不足之处。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片引脚测试装置，包括待检测芯片，还包括：
[0006]基座；
[0007]开设在所述基座内并用于待检测芯片放置的容纳槽；
[0008]一对电极件，所述电极件包括滑槽、导电杆、滑块、触头，所述滑槽开设在所述基座内，所述滑块滑动连接在所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片引脚测试装置，包括待检测芯片(12)，其特征在于，还包括：基座(10)；开设在所述基座(10)内并用于待检测芯片(12)放置的容纳槽(11)；一对电极件，所述电极件包括滑槽(13)、导电杆(14)、滑块(15)、触头(16)，所述滑槽(13)开设在所述基座(10)内，所述滑块(15)滑动连接在所述滑槽(13)内，所述导电杆(14)贯穿所述滑块(15)，所述触头(16)固定安装在所述滑块(15)上；其中，在所述触头(16)的移动路径上，所述触头(16)依次和所述待检测芯片(12)的多个引脚相抵触。2.根据权利要求1所述的一种芯片引脚测试装置，其特征在于：所述触头(16)包括固定段(161)、下凹段(162)以及仰角段(163)，所述固定段(161)的一端固定安装在所述滑块(15)上，所述下凹段(162)安装于所述固定段(161)的另一端，所述仰角段(163)固定安装在所述下凹段(162)上。3....

【专利技术属性】
技术研发人员：陈华平，
申请(专利权)人：深圳市迪科贝科技有限公司，
类型：新型
国别省市：