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本实用新型公开了一种芯片引脚测试装置，涉及芯片测试技术领域，包括待检测芯片，还包括：基座；开设在所述基座内并用于待检测芯片放置的容纳槽；一对电极件，所述电极件包括滑槽、导电杆、滑块、触头，所述滑槽开设在所述基座内，所述滑块滑动连接在所述滑槽...
该专利属于深圳市迪科贝科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市迪科贝科技有限公司授权不得商用。

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