电子装置制造方法及图纸

本公开提出一种电子装置。所述电子装置包括电子单元、感测电路及电路。所述感测电路经由感测节点电连接到电子单元。所述电路电连接到感测节点。所述电路被配置成对感测节点施加电压。本公开的电子装置可校准感测电路。本公开的电子装置可校准感测电路。本公开的电子装置可校准感测电路。

【技术实现步骤摘要】
电子装置


[0001]本公开涉及一种装置，具体来说，本公开涉及一种电子装置。

技术介绍

[0002]变容二极管天线(varactor antenna)、指纹传感器及X射线平板探测器(flat panel detector，FPD)可分别由有源矩阵像素阵列组成，且可分别包括感测电路(例如，电压感测电路)。一般来说，感测电路可用于对上述有源矩阵像素阵列进行测试及校准。然而，感测电路也需要由外部设备进行测试及校准。传统的变容二极管天线、传统的指纹传感器及传统的X射线平板探测器并不具有感测电路的测试功能及校准功能。

技术实现思路

[0003]本公开涉及一种能够校准感测电路的功能的电子装置。
[0004]本公开实施例的电子装置包括电子单元、感测电路及电路。所述感测电路经由感测节点电连接到电子单元。所述电路电连接到感测节点。所述电路被配置成对感测节点施加电压。
[0005]基于以上所述，根据本公开的电子装置，电子装置可有效地对感测电路进行校准。
[0006]为使上述内容更易于理解，以下将详细阐述随附有附图的若干实施例。
附图说明
[0007]本文包括附图以提供对本公开的进一步理解，且附图被并入本说明书中且构成本说明书的一部分。附图示出本公开的示例性实施例，且与说明一同用于阐释本公开的原理。
[0008]图1是根据本公开实施例的电子装置的示意图；
[0009]图2A是根据本公开实施例的电子装置的示意图；
[0010]图2B是根据本公开实施例的输出电压与数据电压之间的关系的示意图；
[0011]图3是根据本公开实施例的电子装置的示意图；
[0012]图4是根据本公开的图3所示实施例的相关信号及电压的示意图；
[0013]图5是根据本公开实施例的电子装置的示意图；
[0014]图6是根据本公开的图5所示实施例的相关信号及电压的示意图；
[0015]图7A是根据本公开实施例的第一类型的感测电路及读出电路；
[0016]图7B是根据本公开实施例的第二类型的感测电路及读出电路；
[0017]图7C是根据本公开实施例的第三类型的感测电路及读出电路；
[0018]图7D是根据本公开实施例的第四类型的感测电路及读出电路；
[0019]图8A是根据本公开实施例的电子装置的示意图；
[0020]图8B是根据本公开实施例的输出电压与测试电压之间的关系的示意图；
[0021]图9是根据本公开实施例的电子装置的示意图]；
[0022]图10是根据本公开的图9所示实施例的正常模式的相关信号及电压的示意图；
[0023]图11是根据本公开的图9所示实施例的校准模式的相关信号及电压的示意图；
[0024]图12是根据本公开实施例的电子装置的示意图；
[0025]图13是根据本公开实施例的电子装置的示意图；
[0026]图14是根据本公开实施例的电子装置的示意图。
[0027][符号的说明][0028]100、200、300、500、800、900、1200、1300、1400：电子装置；
[0029]110、210、810、910、1210、1310、1410：电子单元；
[0030]120、220、520、720A、720B、720C、720D、820：感测电路；
[0031]130：电路；
[0032]201、301、501、801、901、1201、1301、1401：像素；
[0033]230、330、530：偏置电路；
[0034]240、340、540、740A、740B、740C、740D、840、940、1240、1340、1440：读出电路；310、510：电子单元/压控单元；
[0035]320、920、1220、1320、1420：感测电路/电压感测电路；
[0036]341、541、741A、741B、1341：偏置电流源；
[0037]342、542、742A、742B、942、1342：电压放大器；
[0038]350、550：源极驱动器集成电路(IC)；
[0039]351、551：数
‑
模转换器(DAC)；
[0040]741C、941、1241：偏置电压源；
[0041]742C、742D、1242、1442：运算放大器；
[0042]743C、743D、1243、1443：电容器；
[0043]744C、744D：开关；
[0044]830：测试电路；
[0045]930、1230、1330、1430：复位电路；
[0046]CDL：控制数据线；
[0047]CP：校准周期；
[0048]CSL：控制扫描线；
[0049]Cst：存储电容器；
[0050]dV1：第一δ电压；
[0051]dV2：第二δ电压；
[0052]EP：曝光周期；
[0053]N1：感测节点；
[0054]NP：正常操作周期；
[0055]P11、P12、P21、P22、P31、P32、P41、P42：电流路径；
[0056]R、R1、R2：杂散电阻；
[0057]RP：复位周期；
[0058]RS：复位信号；
[0059]SC：扫描信号；
[0060]SDL：感测数据线；
[0061]SE：感测扫描信号；
[0062]SP：感测周期；
[0063]SSL：感测扫描线；
[0064]T1：第一感测晶体管；
[0065]T2：第二感测晶体管；
[0066]t0、t1、t2、t3、t4、t5、t6、ta、tb：时间；
[0067]Td：驱动晶体管；
[0068]TL：测试线；
[0069]TP1：第一测试周期；
[0070]TP2：第二测试周期；
[0071]Tr：复位晶体管；
[0072]Ts、Ts1、Ts2：扫描晶体管；
[0073]Tt：测试晶体管；
[0074]V0、V1、V2、V3、V_N1：电压；
[0075]Vdata：数据电压；
[0076]Vout：输出电压；
[0077]Vrst：复位电压；
[0078]Vtest：测试电压。
具体实施方式
[0079]现将详细参照本公开的示例性实施例，所述示例性实施例的实例在附图中示出。在附图及说明中尽可能使用相同的参考编号指代相同或相似的部件。
[0080]在本公开的说明书及随附权利要求通篇中，使用某些用语指代特定组件。所属领域中的技术人员应理解，电子装置制造商可使用不同的名称来指代相同的组件。本文并不旨在对功能相同但名称不同的那些组件进行区分。在以下说明及权利请求中，例如“包括(co本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子装置，其特征在于，包括：电子单元；感测电路，经由感测节点电连接到所述电子单元；以及电路，电连接到所述感测节点，且被配置成对所述感测节点施加电压。2.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述电路是偏置电路，且所述电子单元是压控单元，所述电子装置还包括：控制数据线，电连接到所述偏置电路，其中所述电路被配置成根据扫描信号经由所述控制数据线来接收控制信号。3.根据权利要求2所述的电子装置，其特征在于，还包括：扫描晶体管，电连接于所述控制数据线与所述电路之间，且被配置成接收所述扫描信号，其中所述电路包括：存储电容器，电连接到所述感测节点；以及源极跟随器放大器，电连接到所述感测节点。4.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述电路是复位电路，且所述电子单元是感测单元，其中所述电路电连接到共用电压源，且被配置成接收复位信号，其中所述电路包括：复位晶体管，电连接到所述感测节点，且被配置成接收所述复位信号。5.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，还包括：读出电路，经由感测数据线电连...

【专利技术属性】
技术研发人员：桥本和幸，
申请(专利权)人：群创光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：