一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法技术方案

本申请涉及电子器件测试技术的领域，尤其涉及一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法，其包括工控机电脑、搬运机器人、测试仪表、测试电路、测试工位组和载盘，所述工控机电脑内置PLC系统，工控机电脑通过远程通信控制搬运机器人、测试仪表、测试电路和测试工位组进行工作，测试工位组包括上料工位、低温测试工位、高温测试工位、常温测试工位、分选工位、下料工位，搬运机器人用于衔接各个工位，产品通过载盘在各个工位间实现载盘式流转。本申请具有提高对电子器件的高低温性能参数测试的效率以及保证测试数据的准确性的作用。的效率以及保证测试数据的准确性的作用。的效率以及保证测试数据的准确性的作用。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法


[0001]本专利技术涉及电子器件测试技术的领域，尤其是涉及一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法。

技术介绍

[0002]对于电子器件的生产过程中，需要对器件进行高低温环境下的性能参数测试，以保证器件在最终使用的环境下仍能保证相应的技术参数，不会发生性能漂移或失效。
[0003]在目前生产过程中，电子器件的高低温性能参数主要采用抽测、产品焊接式测试、箱体式静态夹具测试这几种方法，这几种方法均无法满足大批量产品的生产要求，同时在部分厂家做该项测试时还采用人工手动测量，对于测试数据准确性也会产生一定的误差。
[0004]并且过程中有高温和低温环境，人工参与操作时存在烫伤、冻伤的风险。

技术实现思路

[0005]为了提高对电子器件的高低温性能参数测试的效率以及保证测试数据的准确性，本申请提供一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法。
[0006]本申请提供的一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法采用如下的技术方案：
[0007]一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法，包括工控机电脑、搬运机器人、测试仪表、测试电路、测试工位组和载盘，所述工控机电脑内置PLC系统，所述工控机电脑通过远程通信控制搬运机器人、测试仪表、测试电路和测试工位组进行工作，所述测试工位组包括上料工位、低温测试工位、高温测试工位、常温测试工位、分选工位、下料工位，所述搬运机器人用于衔接各个工位，产品通过所述载盘在各个工位间实现载盘式流转；<br/>[0008]所述低温测试工位包括进料中转室、出料中转室、低温制冷室，所述进料中转室、低温制冷室、出料中转室上均设置有第一保温升降门，所述低温制冷室内置有第一产品测试工位，所述进料中转室和出料中转室内均设有空气干燥系统；
[0009]所述高温测试工位包括高温加热室和降温机构，所述高温加热室内置有第二产品测试工位，所述高温加热室的两侧均设有第二保温升降门，所述降温机构采用吹风降温的方式
[0010]优选的，所述上料工位可采用人工摆盘、振动盘自动上料、机器人自动上料等方式。
[0011]优选的，所述常温测试工位可采用整盘探针卡接触或自动化多行切换的方式。
[0012]优选的，所述分选工位采用Scara机器人，所述分选工位设置于测试工位后方。
[0013]一种用于电子器件高低温全自动测试的方法，包括以下步骤：
[0014]S1：上料：采用人工摆盘、振动盘自动上料、机器人自动上料等方式将产品放入载盘内；
[0015]S2：一次常温测试：通过搬运机器人将装有产品的载盘搬运至常温测试工位，常温
测试时，根据产品测试接电信号引脚的数量可设置为整盘探针卡接触或自动化多行切换的方式，再由继电器板对电信号进行切换测试，经过切换后再将电信号转接至测试仪表及测试电路中；
[0016]S3：低温测试：首先利用搬运机器人将载有产品的载盘搬运至进料中转室，接着进料中转室开启空气干燥系统，避免空气进入低温制冷室后结霜影响测试，然后打开靠近进料中转室的第一保温升降门，通过搬运机器人将载盘搬运至低温制冷室的第一产品测试工位中并关闭第一保温升降门，完成低温测试后，打开靠近出料中转室的第一保温升降门，通过搬运机器人将载盘搬运至出料中转室并关闭第一保温升降门，接着开启出料中转室中的空气干燥系统进行无水汽升温，避免产品上有冷凝水，之后通过搬运机器人将载盘搬运至下一工位；
[0017]S4：一次分选：通过搬运机器人将装有产品的载盘搬运至分选工位，由Scara机器人根据工控机电脑发送的测试数据，将不合格的产品取出放置于其他地方，或根据需要对产品不同等级的数据进行分档摆放；
[0018]S5：高温测试：打开高温加热室外侧的第二保温升降门，通过搬运机器人将装有产品的载盘搬运至高温加热室的第二产品测试工位并关闭第二保温升降门，通过第二产品测试工位对产品进行测试，测试完成后打开靠近降温机构的第二保温升降门，通过搬运机器人将载盘搬运至降温机构机进行吹风降温；
[0019]S6：二次常温测试：通过搬运机器人将装有产品的载盘搬运至常温测试工位，常温测试时，根据产品测试接电信号引脚的数量可设置为整盘探针卡接触或自动化多行切换的方式，再由继电器板对电信号进行切换测试，经过切换后再将电信号转接至测试仪表及测试电路中；
[0020]S7：二次分选：通过搬运机器人将装有产品的载盘搬运至分选工位，由Scara机器人根据工控机电脑发送的测试数据，将不合格的产品取出放置于其他地方，或根据需要对产品不同等级的数据进行分档摆放；
[0021]S8：下料：通过搬运机器人将装有产品的载盘搬运至下料工位。
[0022]综上所述，本申请包括以下一种有益技术效果：
[0023]本专利技术型提供了一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法，大大地提高了生产效率，同时采用智能系统进行测控，以保证数据的较高准确性。
附图说明
[0024]图1是本申请实施例中用于电子器件高低温全自动测试的系统的流程图；
[0025]图2是本申请实施例中用于体现测试工位组的示意图；
[0026]图3是本申请实施例中用于体现载盘的示意图；
[0027]图4是本申请实施例中用于体现搬运机器人的示意图；
[0028]图5是本申请实施例中用于体现常温测试工位的流程图；
[0029]图6是本申请实施例中用于体现低温测试工位的示意图；
[0030]图7是本申请实施例中用于体现分选工位的示意图；
[0031]图8是本申请实施例中用于体现高温测试工位的示意图；
[0032]图9是本申请中用于电子器件高低温全自动测试的方法的流程图。
[0033]附图标记说明：1、工控机电脑；2、搬运机器人；3、测试仪表；4、测试电路；5、测试工位组；6、载盘；7、Scara机器人。
具体实施方式
[0034]以下结合附图1
‑
9对本申请作进一步详细说明。
[0035]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个原件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0036]本申请实施例公开一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子器件高低温全自动测试的系统，其特征在于：包括工控机电脑(1)、搬运机器人(2)、测试仪表(3)、测试电路(4)、测试工位组(5)和载盘(6)，所述工控机电脑(1)内置PLC系统，所述工控机电脑(1)通过远程通信控制搬运机器人(2)、测试仪表(3)、测试电路(4)和测试工位组(5)进行工作，所述测试工位组(5)包括上料工位、低温测试工位、高温测试工位、常温测试工位、分选工位、下料工位，所述搬运机器人(2)用于衔接各个工位，产品通过所述载盘(6)在各个工位间实现载盘(6)式流转；所述低温测试工位包括进料中转室、出料中转室、低温制冷室，所述进料中转室、低温制冷室、出料中转室上均设置有第一保温升降门，所述低温制冷室内置有第一产品测试工位，所述进料中转室和出料中转室内均设有空气干燥系统；所述高温测试工位包括高温加热室和降温机构，所述高温加热室内置有第二产品测试工位，所述高温加热室的两侧均设有第二保温升降门，所述降温机构采用吹风降温的方式。2.根据权利要求1所述的一种用于电子器件高低温全自动测试的系统，其特征在于：所述上料工位可采用人工摆盘、振动盘自动上料、机器人自动上料等方式。3.根据权利要求1所述的一种用于电子器件高低温全自动测试的系统，其特征在于：所述常温测试工位可采用整盘探针卡接触或自动化多行切换的方式。4.根据权利要求1所述的一种用于电子器件高低温全自动测试的系统，其特征在于：所述分选工位采用Scara机器人(7)，所述分选工位设置于测试工位后方。5.一种用于电子器件高低温全自动测试的方法，包括权利要求1
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6任一项所述的用于电子器件高低温全自动测试的系统中，其特征在于：包括以下步骤：S1：上料：采用人工摆盘、振动盘自动上料、机器人自动上料等方式将产品放入载盘(6)内；S2：一次常温测试：通过搬运机器人(2)将装有产品的载盘(6)搬运至常温测试工位，常温测试时，根据产品测试接电信号引脚的数量可设置为整盘探针卡接触或自动化多行切换的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟浩，邹毅，吴志永，
申请(专利权)人：无锡毫微智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：