一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法技术方案

本申请涉及电子器件测试技术的领域，尤其涉及一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法，其包括工控机电脑、搬运机器人、测试仪表、测试电路、测试工位组和载盘，所述工控机电脑内置PLC系统，工控机电脑通过远程通信控制搬运机器人、测试仪表、测试电路和测试工位组进行工作，测试工位组包括上料工位、低温测试工位、高温测试工位、常温测试工位、分选工位、下料工位，搬运机器人用于衔接各个工位，产品通过载盘在各个工位间实现载盘式流转。本申请具有提高对电子器件的高低温性能参数测试的效率以及保证测试数据的准确性的作用。的效率以及保证测试数据的准确性的作用。的效率以及保证测试数据的准确性的作用。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法


[0001]本专利技术涉及电子器件测试技术的领域，尤其是涉及一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法。

技术介绍

[0002]对于电子器件的生产过程中，需要对器件进行高低温环境下的性能参数测试，以保证器件在最终使用的环境下仍能保证相应的技术参数，不会发生性能漂移或失效。
[0003]在目前生产过程中，电子器件的高低温性能参数主要采用抽测、产品焊接式测试、箱体式静态夹具测试这几种方法，这几种方法均无法满足大批量产品的生产要求，同时在部分厂家做该项测试时还采用人工手动测量，对于测试数据准确性也会产生一定的误差。
[0004]并且过程中有高温和低温环境，人工参与操作时存在烫伤、冻伤的风险。

技术实现思路

[0005]为了提高对电子器件的高低温性能参数测试的效率以及保证测试数据的准确性，本申请提供一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法。
[0006]本申请提供的一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法采用如下的技术方案：
[0007]一种用于电子本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子器件高低温全自动测试的系统，其特征在于：包括工控机电脑(1)、搬运机器人(2)、测试仪表(3)、测试电路(4)、测试工位组(5)和载盘(6)，所述工控机电脑(1)内置PLC系统，所述工控机电脑(1)通过远程通信控制搬运机器人(2)、测试仪表(3)、测试电路(4)和测试工位组(5)进行工作，所述测试工位组(5)包括上料工位、低温测试工位、高温测试工位、常温测试工位、分选工位、下料工位，所述搬运机器人(2)用于衔接各个工位，产品通过所述载盘(6)在各个工位间实现载盘(6)式流转；所述低温测试工位包括进料中转室、出料中转室、低温制冷室，所述进料中转室、低温制冷室、出料中转室上均设置有第一保温升降门，所述低温制冷室内置有第一产品测试工位，所述进料中转室和出料中转室内均设有空气干燥系统；所述高温测试工位包括高温加热室和降温机构，所述高温加热室内置有第二产品测试工位，所述高温加热室的两侧均设有第二保温升降门，所述降温机构采用吹风降温的方式。2.根据权利要求1所述的一种用于电子器件高低温全自动测试的系统，其特征在于：所述上料工位可采用人工摆盘、振动盘自动上料、机器人自动上料等方式。3.根据权利要求1所述的一种用于电子器件高低温全自动测试的系统，其特征在于：所述常温测试工位可采用整盘探针卡接触或自动化多行切换的方式。4.根据权利要求1所述的一种用于电子器件高低温全自动测试的系统，其特征在于：所述分选工位采用Scara机器人(7)，所述分选工位设置于测试工位后方。5.一种用于电子器件高低温全自动测试的方法，包括权利要求1
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6任一项所述的用于电子器件高低温全自动测试的系统中，其特征在于：包括以下步骤：S1：上料：采用人工摆盘、振动盘自动上料、机器人自动上料等方式将产品放入载盘(6)内；S2：一次常温测试：通过搬运机器人(2)将装有产品的载盘(6)搬运至常温测试工位，常温测试时，根据产品测试接电信号引脚的数量可设置为整盘探针卡接触或自动化多行切换的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟浩，邹毅，吴志永，
申请(专利权)人：无锡毫微智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：