一种用于快速温度响应测试的设备制造技术

本申请涉及传感器测试设备技术的领域，尤其涉及一种用于快速温度响应测试的设备，其包括设备主体，设备主体上设置有第一温控舱和第二温控舱，第一温控舱内安装有第一加热系统，第二温控舱内安装有第二加热系统，第一温控舱和第二温控舱之间滑动连接有产品装载棒，设备主体上开设有供产品装载棒滑动于第一温控舱和第二温控舱之间的连接孔，设备主体上设有用于牵引产品装载棒滑动的运动机构，设备主体上设置有触摸控制屏，第一加热系统、第二加热系统和运动机构均电性连接于触摸控制屏，设备主体上设置有用于检测温度传感器响应时间的测试仪表。本申请具有改善温度响应测试设备结构复杂，操作繁琐的问题的作用。操作繁琐的问题的作用。操作繁琐的问题的作用。

【技术实现步骤摘要】
一种用于快速温度响应测试的设备


[0001]本技术涉及传感器测试设备技术的领域，尤其是涉及一种用于快速温度响应测试的设备。

技术介绍

[0002]对于温度传感器如热电阻类电子器件，温度响应是极其重要的一个指标，需要给被测件提供一个稳定的温度环境，该温度为两个不同温度且可控的环境，同时需要有专用机构将被测产品进行转移，在转移过程中进行高速测试，而现有技术中的温度响应测试设备结构复杂，操作繁琐。

技术实现思路

[0003]为了改善温度响应测试设备结构复杂，操作繁琐的问题，本申请提供一种用于快速温度响应测试的设备。
[0004]本申请提供的一种用于快速温度响应测试的设备采用如下的技术方案：
[0005]一种用于快速温度响应测试的设备，包括设备主体，所述设备主体上设置有第一温控舱和第二温控舱，所述第一温控舱内安装有第一加热系统，所述第二温控舱内安装有第二加热系统，所述第一温控舱和第二温控舱之间滑动连接有产品装载棒，所述设备主体上开设有供产品装载棒滑动于第一温控舱和第二温控舱之间的连接孔，所述设备主体上设有用于牵引产品装载棒滑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于快速温度响应测试的设备，其特征在于：包括设备主体(1)，所述设备主体(1)上设置有第一温控舱(11)和第二温控舱(12)，所述第一温控舱(11)内安装有第一加热系统(111)，所述第二温控舱(12)内安装有第二加热系统(121)，所述第一温控舱(11)和第二温控舱(12)之间滑动连接有产品装载棒(2)，所述设备主体(1)上开设有供产品装载棒(2)滑动于第一温控舱(11)和第二温控舱(12)之间的连接孔，所述设备主体(1)上设有用于牵引产品装载棒(2)滑动于第一温控舱(11)和第二温控舱(12)之间的运动机构(3)，所述设备主体(1)上设置有触摸控制屏(13)，所述第一加热系统(111)、第二加热系统(121)和运动机构(3)均电性连接于触摸控制屏(13)，所述设备主体(1)上设置有用于检测温度传感器响应时间的测试仪表(14)。2.根据权利要求1所述的一种用于快速...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟浩，邹毅，吴志永，
申请(专利权)人：无锡毫微智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：