控制器内部功能参数的设置方法、存储介质及控制器技术

本发明专利技术公开了控制器内部功能参数的设置方法、存储介质及控制器，该控制器包括采样引脚和内部参考电流源，采样引脚通过外接电阻连接外部信号源，该设置方法包括以下步骤：在第一时间内，控制断开采样引脚与内部参考电流源的连接，并获取采样引脚处的第一信号；在第二时间内，控制连接采样引脚与内部参考电流源，并获取采样引脚处的第二信号；根据第一信号和第二信号，获取外接电阻的参数信息；在第三时间内，根据外接电阻的参数信息设置控制器的功能和/或参数。该设置方法可以在外部信号源不稳定时，避免获取到错误的外接电阻参数信息，进而可以正确地设置控制器内部功能参数；采样引脚可为控制器原有引脚，节约成本。节约成本。节约成本。

【技术实现步骤摘要】
控制器内部功能参数的设置方法、存储介质及控制器


[0001]本专利技术涉及控制器
，尤其涉及一种控制器内部功能参数的设置方法、存储介质及控制器。

技术介绍

[0002]目前，如图1所示，采用分压电路将信号源输入控制器的电路中。为了通过外部电阻设置控制器的功能和/或参数，通常在分压电路的分压节点和控制器的外部引脚之间串接一个采样电阻，如图2
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3所示，且忽略分压节点的电压值，然后在控制器内部产生一个参考电流。此时，外部引脚处产生一个电压，该电压与内部参考电压进行比较后，比较结果会被送入逻辑单元进行处理，进而可以设置控制器的功能和/或参数。当采样结束后，内部的参考电流也断开，外部引脚处产生的电压消失，此时信号源可以继续输入控制器，实现处理和控制。
[0003]若信号源本身的电压、频率或幅值等不稳定，在采样过程中外部引脚处信号所采集到的包含不稳定的信号源信息，则会导致采样结果错误，进而导致比较结果错误，控制器的功能和/或参数也无法得到正确的调整和设置。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题在于，提供一种控制器内部功能参数的设置方法、存储介质及控制器。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种控制器内部功能参数的设置方法，所述控制器包括采样引脚和内部参考电流源，所述采样引脚通过外接电阻连接外部信号源，该设置方法包括以下步骤：
[0006]在第一时间内，控制断开所述采样引脚与所述内部参考电流源的连接，并获取所述采样引脚处的第一信号；
[0007]在第二时间内，控制连接所述采样引脚与所述内部参考电流源，并获取所述采样引脚处的第二信号；根据所述第一信号和所述第二信号，获取所述外接电阻的参数信息；
[0008]在第三时间内，根据所述外接电阻的参数信息设置所述控制器的功能和/或参数。
[0009]优选地，在本专利技术所构造的控制器内部功能参数的设置方法中，所述获取所述采样引脚处的第一信号包括：
[0010]获取所述采样引脚处的所述第一信号，并对所述第一信号进行采样保持。
[0011]优选地，在本专利技术所构造的控制器内部功能参数的设置方法中，所述根据所述第一信号和所述第二信号，获取所述外接电阻的参数信息包括：
[0012]对所述第一信号和所述第二信号求差，以获得求差结果，并根据所述求差结果确定所述外接电阻的参数信息。
[0013]优选地，在本专利技术所构造的控制器内部功能参数的设置方法中，所述根据所述外接电阻的参数信息设置所述控制器的功能和/或参数包括：
[0014]将所述外接电阻的参数信息与所述控制器内部的一个或多个参考信号进行比较，获得比较结果；
[0015]对所述比较结果进行数字逻辑处理，以设置所述控制器的功能和/或参数。
[0016]优选地，在本专利技术所构造的控制器内部功能参数的设置方法中，在进入所述第一时间之前和/或经过所述第三时间以后，执行以下步骤：
[0017]判断所述控制器是否需要设置内部功能参数，若否，控制断开所述采样引脚与所述内部参考电流源的连接，并获取所述采样引脚处的第三信号，对所述第三信号进行信号处理，若是，则进入所述第一时间、所述第二时间和所述第三时间并执行相应步骤。
[0018]本专利技术还提供了一种存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现上述任一项所述的控制器内部功能参数的设置方法的步骤。
[0019]本专利技术还提供了一种控制器，包括采样引脚和内部参考电流源，所述采样引脚通过外接电阻连接外部信号源，还包括：
[0020]第一信号获取模块，用于获取所述采样引脚处的第一信号；
[0021]第二信号获取模块，用于获取所述采样引脚处的第二信号；
[0022]参数信息获取模块，用于根据所述第一信号和所述第二信号，获取所述外接电阻的参数信息；
[0023]功能参数设置模块，用于根据所述外接电阻的参数信息设置所述控制器的功能和/或参数；
[0024]时序控制模块，用于在所述第一时间内控制断开所述采样引脚与所述内部参考电流源的连接并执行所述第一信号获取模块；还用于在所述第二时间内控制连接所述采样引脚与所述内部参考电流源并执行所述第二信号获取模块和所述参数信息获取模块；还用于在所述第三时间内控制执行所述功能参数设置模块。
[0025]优选地，在本专利技术所构造的控制器中，所述第一信号获取模块包括：
[0026]采样保持模块，用于获取所述采样引脚处与外部信号源相关的所述第一信号，并对所述第一信号进行采样保持。
[0027]优选地，在本专利技术所构造的控制器中，所述参数信息获取模块包括：
[0028]减法电路模块，用于对所述第一信号和所述第二信号求差，以获得求差结果，并根据所述求差结果确定所述外接电阻的参数信息。
[0029]优选地，在本专利技术所构造的控制器中，所述功能参数设置模块包括：
[0030]比较电路模块，用于将所述外接电阻的参数信息与所述控制器内部的一个或多个参考信号进行比较，获得比较结果；
[0031]数字逻辑处理模块，用于对所述比较结果进行数字逻辑处理，以设置所述控制器的功能和/或参数。
[0032]通过实施本专利技术，具有以下有益效果：本专利技术公开了一种控制器内部功能参数的设置方法、存储介质及控制器，该控制器包括采样引脚和内部参考电流源，采样引脚通过外接电阻连接外部信号源，该设置方法包括以下步骤：在第一时间内，控制断开采样引脚与内部参考电流源的连接，并获取采样引脚处的第一信号；在第二时间内，控制连接采样引脚与内部参考电流源，并获取采样引脚处的第二信号；根据第一信号和第二信号，获取外接电阻的参数信息；在第三时间内，根据外接电阻的参数信息设置控制器的功能和/或参数。该设
置方法可以在外部信号源不稳定时，避免获取到错误的外接电阻参数信息，进而可以正确地设置控制器内部功能参数；采样引脚可为控制器原有引脚，节约成本。
附图说明
[0033]下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：
[0034]图1是常用的控制器的第一结构示意图；
[0035]图2是常用的控制器的第二结构示意图；
[0036]图3是常用的控制器的第三结构示意图；
[0037]图4是本专利技术第一实施例中控制器内部功能参数的设置方法的流程图；
[0038]图5是本专利技术第三实施例中控制器的第一结构示意图；
[0039]图6是本专利技术第三实施例中控制器的开关的结构示意图；
[0040]图7是本专利技术第三实施例中时序控制模块的第一时间
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信号关系图；
[0041]图8是本专利技术第三实施例中控制器的采样保持电路的结构示意图；
[0042]图9是本专利技术第三实施例中控制器的第二结构示意图；
[0043]图10是本专利技术第三实施例中控制器的第三结构示意图；
[0044]图11是本专利技术第四实施例中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种控制器内部功能参数的设置方法，所述控制器包括采样引脚和内部参考电流源，所述采样引脚通过外接电阻连接外部信号源，其特征在于，该设置方法包括以下步骤：在第一时间内，控制断开所述采样引脚与所述内部参考电流源的连接，并获取所述采样引脚处的第一信号；在第二时间内，控制连接所述采样引脚与所述内部参考电流源，并获取所述采样引脚处的第二信号；在第三时间内，根据所述第一信号和所述第二信号，获取所述外接电阻的参数信息；在第四时间内，根据所述外接电阻的参数信息设置所述控制器的功能和/或参数。2.根据权利要求1所述的控制器内部功能参数的设置方法，其特征在于，所述获取所述采样引脚处的第一信号包括：获取所述采样引脚处的所述第一信号，并对所述第一信号进行采样保持。3.根据权利要求1所述的控制器内部功能参数的设置方法，其特征在于，所述根据所述第一信号和所述第二信号，获取所述外接电阻的参数信息包括：对所述第一信号和所述第二信号求差，以获得求差结果，并根据所述求差结果确定所述外接电阻的参数信息。4.根据权利要求1所述的控制器内部功能参数的设置方法，其特征在于，所述根据所述外接电阻的参数信息设置所述控制器的功能和/或参数包括：将所述外接电阻的参数信息与所述控制器内部的一个或多个参考信号进行比较，获得比较结果；对所述比较结果进行数字逻辑处理，以设置所述控制器的功能和/或参数。5.根据权利要求1所述的控制器内部功能参数的设置方法，其特征在于，在进入所述第一时间之前和/或经过所述第四时间以后，执行以下步骤：判断所述控制器是否需要设置内部功能参数，若否，控制断开所述采样引脚与所述内部参考电流源的连接，并获取所述采样引脚处的第三信号，对所述第三信号进行信号处理，若是，则进入所述第一时间、所述第二时间、所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：任智谋，李鹏，雷晓华，
申请(专利权)人：成都市菱奇半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：