具有片上零偏补偿的压阻式双轴微加速度计及制作方法技术

技术编号:3808592 阅读:137 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种具有片上零偏补偿的压阻式双轴微加速度计及制作方法,它包括通过键合连接在一起的衬底和加速度计总成,所述加速度计总成包括框架以及呈相互垂直布置于框架上的两个加速度计单元,所述每个加速度计单元包括呈对称布置的两个质量块,所述每个质量块上的一端通过一根主梁和两根微梁连接于框架上,所述每根微梁内均包含有一检测压阻,所述每个加速度计单元内四根微梁中的四个检测压阻构成惠斯通全桥结构。本发明专利技术进一步公开了上述具有片上零偏补偿的压阻式双轴微加速度计的制作方法。本发明专利技术是一种结构简单紧凑、加工简便、适用范围广、测量精度高的具有片上零偏补偿的压阻式双轴微加速度计及制作方法。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种具有片上零偏补偿的压阻式双轴微加速度计,其特征在于:它包括通过键合连接在一起的衬底(11)和加速度计总成(12),所述加速度计总成(12)包括框架(3)以及呈相互垂直布置于框架(3)上的两个加速度计单元,所述每个加速度计单元均包括呈对称布置的两个质量块(5),所述每个质量块(5)上的一端通过一根主梁(4)和两根微梁(6)连接于框架(3)上,所述每根微梁(6)内均包含有一检测压阻(7),所述每个加速度计单元内四根微梁(6)中的四个检测压阻(7)构成惠斯通全桥结构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴学忠李圣怡董培涛侯占强肖定邦陈志华崔红娟牛正一
申请(专利权)人:中国人民解放军国防科学技术大学
类型:发明
国别省市:43[]

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