一种晶圆CP测试熔丝修调电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种晶圆CP测试熔丝修调电路，它涉及芯片测试技术领域。它由修调电路、控制接口、修调源组成，第一继电器

【技术实现步骤摘要】
一种晶圆CP测试熔丝修调电路


[0001]本技术涉及的是芯片测试
，具体涉及一种晶圆CP测试熔丝修调电路。

技术介绍

[0002]芯片内部基准电压、电流或频率精度要求高，需要通过多个熔丝位修调提高芯片精度。由于不同芯片熔丝位和修调方式不同，常规做法直接将修调电路焊接在测试制具上，具有以下问题：
[0003](1)因为测试制具焊接电路空间有限，增加了电路复杂度，造成电路稳定性较差，测量精度不高；
[0004](2)因为每个制具都需要修调电路，消耗的电子元器件多，增加了生产成本；
[0005](3)因为不同芯片熔丝工艺可能不同，修调源需要可调或固定，需要更多搭配电路来实现生产，增加了生产难度。
[0006]为了解决上述问题，设计一种新型的晶圆CP测试熔丝修调电路尤为必要。

技术实现思路

[0007]针对现有技术上存在的不足，本技术目的是在于提供一种晶圆CP测试熔丝修调电路，结构简单，设计合理，可复制重复利用，满足测试精度要求，方便生产操作，稳定性好，降低生产难度，减少生产成本，易于推广使用。
[0008]为了实现上述目的，本技术是通过如下的技术方案来实现：一种晶圆CP测试熔丝修调电路，由修调电路、控制接口、修调源组成，所述的修调电路包括有第一继电器
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第十六继电器、第一电容
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第十六电容，第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第七电容、第八电容、第九电容、第十电容、第十一电容、第十二电容、第十三电容、第十四电容、第十五电容、第十六电容的两端分别接入第一继电器、第二继电器、第三继电器、第四继电器、第五继电器、第六继电器、第七继电器、第八继电器、第九继电器、第十继电器、第十一继电器、第十二继电器、第十三继电器、第十四继电器、第十五继电器、第十六继电器，第一继电器
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第十六继电器的常闭端连接修调源，常开端分别接第一熔丝修调位
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第十六熔丝修调位，通过控制接口连接到待测熔丝位上；所述的控制接口采用独立防错位3
×
16PIN欧式插座：第一插座、第二插座和第三插座，该控制接口主要为修调位、继电器控制信号、修调源、GND提供接口连接；所述的修调源包括有第十七电容、第十八电容、电阻、第一跳线、第二跳线，通过控制接口连接到修调源，并联的第十七电容与第十八电容的一端连接各继电器，另一端接地，第十七电容的正极端连接电阻的一端，电阻的另一端分别连接第一跳线、第二跳线至可调电源PMU、固定5V。
[0009]作为优选，所述的第一继电器
‑
第十六继电器通过控制接口连接到测试仪继电器控制信号。
[0010]作为优选，所述的第一继电器
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第十六继电器均采用继电器TQ209。
[0011]作为优选，所述的可调电源PMU采用测试仪资源和外部DC可调电源。
[0012]本技术的有益效果：
附图说明
[0013]下面结合附图和具体实施方式来详细说明本技术；
[0014]图1为本技术的电路图；
[0015]图2为本技术电容修调模式修调熔丝是两个修调位之间时的电路图；
[0016]图3为本技术电容修调模式修调熔丝是修调位与GND之间时的电路图；
[0017]图4为本技术修调源直修状态的电路图；
[0018]图5为本技术修调源直修模式修调熔丝是两个修调位之间时的电路图；
[0019]图6为本技术修调源直修模式修调熔丝是修调位与GND之间时的电路图。
具体实施方式
[0020]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0021]参照图1
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6，本具体实施方式采用以下技术方案：一种晶圆CP测试熔丝修调电路，由修调电路、控制接口TB_1、修调源Fuse_Power组成，所述的修调电路包括有第一继电器CBIT1
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第十六继电器CBIT16、第一电容C1
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第十六电容C16，第一电容C1
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第十六电容C16为修调储能电容，规格为220uF/50V或以上，第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第六电容C6、第七电容C7、第八电容C8、第九电容C9、第十电容C10、第十一电容C11、第十二电容C12、第十三电容C13、第十四电容C14、第十五电容C15、第十六电容C16的两端分别接入第一继电器CBIT1、第二继电器CBIT2、第三继电器CBIT3、第四继电器CBIT4、第五继电器CBIT5、第六继电器CBIT6、第七继电器CBIT7、第八继电器CBIT8、第九继电器CBIT9、第十继电器CBIT10、第十一继电器CBIT11、第十二继电器CBIT12、第十三继电器CBIT13、第十四继电器CBIT14、第十五继电器CBIT15、第十六继电器CBIT16，第一继电器CBIT1
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第十六继电器CBIT16的常闭端连接修调源Fuse_Power，常开端分别接第一熔丝修调位Fuse1
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第十六熔丝修调位Fuse16，通过控制接口连接到待测熔丝位上。
[0022]值得注意的是，所述的第一继电器CBIT1
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第十六继电器CBIT16通过控制接口TB_1连接到测试仪继电器控制信号。所述的第一继电器CBIT1
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第十六继电器CBIT16均采用继电器TQ209，最大电流1A以上，响应时间短，接触阻抗小。
[0023]控制接口TB_1采用独立防错位3
×
16PIN欧式插座：第一插座TB_1A、第二插座TB_1B和第三插座TB_1C，该控制接口TB_1主要为修调位、继电器控制信号、修调源、GND提供接口连接；所述的修调源Fuse_Power包括有第十七电容C17、第十八电容C18、电阻R1、第一跳线J1、第二跳线J2，通过控制接口连接到修调源，第十七电容C17与第十八电容C18并联，其一端连接各继电器，另一端接地，第十七电容C17与第十八电容C18滤波储能，第十七电容C17的正极端连接电阻R1的一端，电阻R1主要限流作用，防止修调过程中出现大电流损坏器件，电阻R1的另一端分别连接第一跳线J1、第二跳线J2至可调电源PMU、固定5V。
[0024]此外，本电路支持固定5V和可调修调源两种模式：当用固定5V修调时，第一跳线J1断开，第二跳线J2短路,使用固定5V作修调源；当用固定可调源作修调时，第一跳线J1短路，
第二跳线J2断开,使用PMU作修调源，所述的可调电源PMU采用测试仪资源和外部DC可调电源。
[0025]本具体实施方式支持电容放电修调和修调源直修两种模式，具体地，各模式的工作原理如下：
[0026](1)电容修调模式：
[0027]①本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶圆CP测试熔丝修调电路，其特征在于，由修调电路、控制接口(TB_1)、修调源(Fuse_Power)组成，所述的修调电路包括有第一继电器(CBIT1)
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第十六继电器(CBIT16)、第一电容(C1)
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第十六电容(C16)，第一电容(C1)、第二电容(C2)、第三电容(C3)、第四电容(C4)、第五电容(C5)、第六电容(C6)、第七电容(C7)、第八电容(C8)、第九电容(C9)、第十电容(C10)、第十一电容(C11)、第十二电容(C12)、第十三电容(C13)、第十四电容(C14)、第十五电容(C15)、第十六电容(C16)的两端分别接入第一继电器(CBIT1)、第二继电器(CBIT2)、第三继电器(CBIT3)、第四继电器(CBIT4)、第五继电器(CBIT5)、第六继电器(CBIT6)、第七继电器(CBIT7)、第八继电器(CBIT8)、第九继电器(CBIT9)、第十继电器(CBIT10)、第十一继电器(CBIT11)、第十二继电器(CBIT12)、第十三继电器(CBIT13)、第十四继电器(CBIT14)、第十五继电器(CBIT15)、第十六继电器(CBIT16)，第一继电器(CBIT1)
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第十六继电器(CBIT16)的常闭端连接修调源(...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘华忠，徐凯，
申请(专利权)人：东莞市立芯泰半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：