一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质，其中方法包括：当探测器上的莫尔条纹呈均匀分布时，获取放入光栅成像系统的样品的至少一个角度的投影图像，以及未放入样品时的背景图像；对所述投影图像结合所述背景图像进行吸收信息、折射信息、散射信息进行分离，同时获取所述莫尔条纹中亮条纹对应的吸收信息图像、暗条纹对应的吸收信息图像、平均吸收信息图像、折射信息图像和散射信息图像。由此，通过光栅成像系统可以获取多模态成像，进而可以根据各个模态的图像来分析样品构造，从而可以更全面的获取样品内部的信息。而可以更全面的获取样品内部的信息。而可以更全面的获取样品内部的信息。

【技术实现步骤摘要】
一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质


[0001]本专利技术涉及光栅成像
，尤其涉及一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质。

技术介绍

[0002]目前，CT成像在医学应用中已经非常广泛，通过CT成像可以发现患者病灶。过去单一能量成像的局限性在于成分不同的物体可能表现出相似的衰减特征，此时单纯应用CT值就难以区分不同物质。后来通过两种不同能量的光子束穿透物体进行成像，利用不同物质能量吸收曲线的差异，能够准确地推算出该物体的成分构成。但目前的双能CT成像比较复杂，或者仅能单独的进行双能CT成像，不能进行其他成像，在临床上使用不灵活。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质，可以实现多模态成像，应用灵活，成像简单。
[0004]根据本专利技术的第一方面，提出了一种光栅成像处理方法，包括：
[0005]当探测器上的莫尔条纹呈均匀分布时，获取放入光栅成像系统的样品的至少一个角度的投影图像，以及未放入样品时的背景图像；
[0006]对所述投影图像结合所述背景图像进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光栅成像处理方法，其特征在于，包括：当探测器上的莫尔条纹呈均匀分布时，获取放入光栅成像系统的样品的至少一个角度的投影图像，以及未放入样品时的背景图像；对所述投影图像结合所述背景图像进行吸收信息、折射信息、散射信息进行分离，同时获取所述莫尔条纹中亮条纹对应的吸收信息图像、暗条纹对应的吸收信息图像、平均吸收信息图像、折射信息图像和散射信息图像。2.根据权利要求1所述的光栅成像处理方法，其特征在于，当获取放入光栅成像系统的样品的多个角度的图像时，根据各个角度对应的获取亮条纹对应的吸收信息图像、暗条纹对应的吸收信息图像、平均吸收信息图像、折射信息图像和散射信息图像对所述样品进行三维重建。3.根据权利要求1所述的光栅成像处理方法，其特征在于，对所述投影图像结合所述背景图像进行吸收信息、折射信息、散射信息进行分离，同时获取所述莫尔条纹中亮条纹对应的吸收信息图像、暗条纹对应的吸收信息图像包括：分离所述投影图像中所述莫尔条纹中亮条纹对应的吸收信息图像，并去除所述背景图像后作为高能吸收图像；分离所述投影图像中所述莫尔条纹中暗条纹对应的吸收信息图像，并去除所述背景图像后作为低能吸收图像。4.根据权利要求1所述的光栅成像处理方法，其特征在于，对所述投影图像结合所述背景图像进行吸收信息、折射信息、散射信息进行分离，同时获取平均吸收信息图像、折射信息图像和散射信息图像包括：获取平均吸收信息图像，所述平均吸收信息满足获取折射信息图像，所述折射信息满足获取折射信息图像，所述折射信息满足获取散射信息图像，所述散射信息满足获取散射信息图像，所述散射信息满足其中，为有样品时探测器上点(m,n)的光强，为无样品时探测器上点(m,n)的光强，p2为光栅成像系统中第二光栅的周期，d为光栅成像系统中第一光栅至第二光栅之间的距离，arg是复数求角运算，rem是复数求模运算，k(k＝1,2,
…
,N)为探测器上某一点(m,n)均匀运动的步数。5.根据权利要求4所述的光栅成像处理方法，其特征在于，所述探测器上点(m,n)的光强k＝1,2,
…
,N；其中，A0为平均强度、A1为振幅，为相位。6.一种光栅成像处理装置，其特征在于，包括：
图像获取模块，用于当探测器上的莫尔条纹呈均匀分布时，获取放入光栅成像系统的样品的至少一个角度的投影图像，以及未放入样品时的背景图像；图像处理模块，用于对所述投影图像结合所述背景图像进行吸收信息、折射信息、散射信息进行分离...

【专利技术属性】
技术研发人员：王声翔，陈洁，谭志坚，杨陆峰，余朝举，郑海彪，曾智蓉，张雪凯，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：