测试装置及测试方法制造方法及图纸

技术编号:38010857 阅读:8 留言:0更新日期:2023-06-30 10:31
本申请提供一种测试装置及测试方法,包括数据处理模块及射频前端模块。射频前端模块包括基带处理单元、发射单元及接收单元。数据处理模块连接至基带处理单元,基带处理单元连接至发射单元的输入端及接收单元的输出端。当发射单元的输出端连接至接收单元的输入端时,数据处理模块用于发送控制信号至基带处理单元,以使基带处理单元输出第一基带信号至发射单元。发射单元接收第一基带信号并输出第一射频信号至接收单元。接收单元接收第一射频信号并输出第一反馈信号至基带处理单元。基带处理单元还用于将第一基带信号及第一反馈信号均发送至数据处理模块。数据处理模块对比第一基带信号与第一反馈信号的信号强度,以判断射频前端模块是否异常。端模块是否异常。端模块是否异常。

【技术实现步骤摘要】
测试装置及测试方法


[0001]本申请涉及无线通信领域,尤其涉及一种测试装置及对应的测试方法。

技术介绍

[0002]现有的无线通信装置在整机组装之后,通常需要采用空中下载技术测试(Over The Air,OTA)方法进行测试。然而,当OTA测试失效时,需要拆开测试的无线通信装置,以定位到问题零件,如此极大浪费时间和精力,导致测试成本较高。

技术实现思路

[0003]如此,有必要提供一种测试装置及测试方法,以降低测试成本。
[0004]本申请提供一种测试装置,包括电连接的数据处理模块及射频前端模块,所述射频前端模块包括基带处理单元、发射单元及接收单元;
[0005]所述数据处理模块电连接至所述基带处理单元,所述基带处理单元还电连接至所述发射单元的输入端及所述接收单元的输出端;
[0006]所述数据处理模块用于当所述发射单元的输出端电连接至所述接收单元的输入端时,发送控制信号至所述基带处理单元,所述基带处理单元用于接收所述控制信号并输出第一基带信号至所述发射单元,所述发射单元用于接收所述第一基带信号并输出第一射频信号至所述接收单元,所述接收单元用于接收所述第一射频信号并输出第一反馈信号至所述基带处理单元,所述基带处理单元还用于将所述第一基带信号及所述第一反馈信号均发送至所述数据处理模块,所述数据处理模块通过对比所述第一基带信号与所述第一反馈信号的信号强度,以判断所述射频前端模块是否出现异常。
[0007]本申请还提供一种测试方法,包括如下步骤,
[0008]S1:当发射单元的输出端电连接至接收单元的输入端时,发送控制信号至基带处理单元;所述基带处理单元接收所述控制信号并输出第一基带信号至所述发射单元;所述发射单元接收所述第一基带信号并输出第一射频信号至所述接收单元;所述接收单元接收所述第一射频信号并输出第一反馈信号至所述基带处理单元;所述基带处理单元接收所述第一反馈信号并输出所述第一基带信号及所述第一反馈信号;
[0009]S2:对比所述第一基带信号与所述第一反馈信号的信号强度,以判断射频前端模块是否出现异常。
[0010]本申请提供的测试装置,通过数据处理模块电连接至射频前端模块及待测模块,以形成环回测试回路,可在无线通信装置整机组装完成之前,提前定位缺陷所在位置,以降低后期整机组装完成之后的零件分拆工序及降低整体的测试成本。并且本申请提供的测试装置,只需检测所述射频前端模块及所述待测模块的信号损耗值,即可判断出所述射频前端模块及所述待测模块上的辐射单元是否出现异常,而无需检测多项数据,操作简便快速,可提高检测效率。
附图说明
[0011]图1为本申请一实施例提供的测试装置与待测模块连接的框图。
[0012]图2为图1所示的射频前端模块的结构框图。
[0013]图3为图2所示测试装置自检时的电路框图。
[0014]图4为图1所示测试装置对待测模块进行测试时的结构框图。
[0015]图5为本申请一实施例中,测试装置对待测模块进行测试时的电路框图。
[0016]图6为本申请另一实施例中,测试装置对待测模块进行测试时的电路框图。
[0017]图7为本申请另一实施例中,测试装置对待测模块进行测试时的电路框图。
[0018]图8为本申请一实施例中测试装置对若干待测模块测试时获取的测试数据图。
[0019]主要元件符号说明
[0020]测试装置
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[0021]数据处理模块
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[0022]射频前端模块
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[0023]基带处理单元
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[0024]发射单元
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[0025]接收单元
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[0026]双工器单元
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[0027]第一双工器
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241
[0028]第一发射端口
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TX1
[0029]第一接收端口
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RX1
[0030]第一输出端口
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OUT1
[0031]第二双工器
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242
[0032]第二发射端口
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TX2
[0033]第二接收端口
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RX2
[0034]第二输出端口
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OUT2
[0035]第一连接器
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[0036]第二连接器
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[0037]挡板
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[0038]待测模块
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200
[0039]第一辐射单元
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210
[0040]第一辐射振子
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[0041]第二辐射振子
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212
[0042]第二辐射单元
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220
[0043]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本申请。
具体实施方式
[0044]下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置,其特征在于:所述测试装置包括电连接的数据处理模块及射频前端模块,所述射频前端模块包括基带处理单元、发射单元及接收单元;所述数据处理模块电连接至所述基带处理单元,所述基带处理单元还电连接至所述发射单元的输入端及所述接收单元的输出端;所述数据处理模块用于当所述发射单元的输出端电连接至所述接收单元的输入端时,发送控制信号至所述基带处理单元,所述基带处理单元用于接收所述控制信号并输出第一基带信号至所述发射单元,所述发射单元用于接收所述第一基带信号并输出第一射频信号至所述接收单元,所述接收单元用于接收所述第一射频信号并输出第一反馈信号至所述基带处理单元,所述基带处理单元还用于将所述第一基带信号及所述第一反馈信号均发送至所述数据处理模块,所述数据处理模块通过对比所述第一基带信号与所述第一反馈信号的信号强度,以判断所述射频前端模块是否出现异常。2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述数据处理模块通过所述第一基带信号与所述第一反馈信号的信号强度差获得第一信号损耗值,当所述第一信号损耗值在第一预设范围之内,所述数据处理模块判断所述射频前端模块正常工作;当所述第一信号损耗值超过所述第一预设范围,所述数据处理模块判断所述射频前端模块出现异常。3.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述测试装置电连接至待测模块,用于检测所述待测模块是否出现异常,所述待测模块至少包括第一辐射振子及第二辐射振子;当所述射频前端模块正常且所述发射单元的输出端、及所述接收单元的输入端均连接至所述待测模块时,所述数据处理模块发送控制信号至所述基带处理单元,所述基带处理单元用于接收所述控制信号并输出第二基带信号至所述发射单元,所述发射单元输出第二射频信号至所述待测模块中的所述第一辐射振子,所述第一辐射振子用于接收并辐射所述第二射频信号;所述第二辐射振子接收到所述第二射频信号,并输出第三射频信号至所述接收单元,所述接收单元用于接收所述第三射频信号并输出第二反馈信号至所述基带处理单元,所述基带处理单元将所述第二反馈信号及所述第二基带信号发送至所述数据处理模块,所述数据处理模块通过对比所述第二基带信号与所述第二反馈信号的信号强度,以判断所述第一辐射振子所在的辐射单元是否出现异常。4.如权利要求3所述的测试装置,其特征在于:所述数据处理模块通过所述第二基带信号与所述第二反馈信号的信号强度差获得第二信号损耗值,当所述第二信号损耗值在第二预设范围之内,所述数据处理模块判断所述第一辐射振子所在的辐射单元正常工作;当所述第二信号损耗值超过所述第二预设范围,所述数据处理模块判断所述第一辐射振子所在的...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓子龙
申请(专利权)人:鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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