一种硬盘测试方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种硬盘测试方法、装置、电子设备及介质。其中，该方法包括：针对叠瓦式硬盘中的叠瓦式磁记录SMR区域和传统磁记录CMR区域，分别创建磁盘阵列；向所述磁盘阵列中下发数据块和/或读取数据块；其中，向SMR区域对应的磁盘阵列中下发数据块的方式不包括随机方式；对下发数据块和/或读取数据块的磁盘阵列进行性能测试。本技术方案，能够针对叠瓦式硬盘的不同区域，适应性地分别创建磁盘阵列，进而分别进行测试，通过适用于叠瓦式硬盘测试的方案提高了叠瓦式硬盘性能测试的准确性和稳定性。性和稳定性。性和稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种硬盘测试方法、装置、电子设备及介质


[0001]本申请涉及硬盘测试
，尤其涉及一种硬盘测试方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]叠瓦式磁记录SMR硬盘是一种采用新型磁存储技术的高容量硬盘。SMR硬盘能够将盘片上的数据磁道部分重叠，就像屋顶上的瓦片一样，因此SMR硬盘采用的技术被称为叠瓦式磁记录技术。该技术在制造工艺方面的变动非常微小，但却可以大幅提高磁盘存储密度。在数据飞速增长的当今世界，SMR技术可以有效降低单位容量的磁盘存储成本，是未来高密度磁盘存储技术的发展潮流。
[0003]现有的硬盘稳定性压力测试及磁盘阵列创建的稳定性测试通常是针对垂直式磁记录PMR硬盘或者水平磁记录LMR硬盘的，通常测试硬盘读写时使用测试工具对测试盘进行顺序随机或者混合读写测试，磁盘阵列创建稳定性测试时仍然采用非叠瓦式硬盘的创建磁盘阵列的方式，针对于SMR硬盘没有一个完善的测试方案。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种硬盘测试方法、装置、电子设备及介质，以提供一种针对于叠瓦式硬盘的完善的测试方案，提高叠瓦式硬盘本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘测试方法，其特征在于，所述方法包括：针对叠瓦式硬盘中的叠瓦式磁记录SMR区域和传统磁记录CMR区域，分别创建磁盘阵列；向所述磁盘阵列中下发数据块和/或读取数据块；其中，向SMR区域对应的磁盘阵列中下发数据块的方式不包括随机方式；对下发数据块和/或读取数据块的磁盘阵列进行性能测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，针对叠瓦式硬盘中的叠瓦式磁记录SMR区域和传统磁记录CMR区域，分别创建磁盘阵列，包括：获取数据库系统下发的磁盘阵列参数；其中，所述磁盘阵列参数包括磁盘阵列的大小、磁盘阵列的数量以及磁盘阵列的形式；磁盘阵列的形式包括Raid0至Raid7以及Raid0至Raid7的变形形式中的至少一项；针对叠瓦式硬盘中的SMR区域和CMR区域，基于所述磁盘阵列参数分别创建磁盘阵列。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，针对叠瓦式硬盘中的SMR区域和CMR区域，基于所述磁盘阵列参数分别创建磁盘阵列，包括：将磁盘阵列的大小、磁盘阵列的数量以及磁盘阵列的形式组合得到至少两种磁盘阵列创建方式；针对叠瓦式硬盘中的SMR区域和CMR区域，基于至少两种磁盘阵列创建方式分别创建磁盘阵列。4.根据权利要求1
‑
3中任一项所述的方法，其特征在于，针对叠瓦式硬盘中的叠瓦式磁记录SMR区域和传统磁记录CMR区域，分别创建磁盘阵列之前，所述方法还包括：通过区域识别工具识别叠瓦式硬盘中的SMR区域和CMR区域，并将识别信息上报至数据库系统，由数据库根据所述识别信息确定的逻辑区块地址；根据数据库下发的逻辑区块地址，对SMR区域和CMR区域的进行逻辑分区；针对叠瓦式硬盘中的叠瓦式磁记录SMR区域和传统磁记录CMR区域，分别创建磁盘阵列，包括：根据SMR区域的逻辑分区和CMR区域的逻辑分区，分别创建磁盘阵列。5.根据权利要求1
‑
3中任一项所述的方法，其特征在于，针对SMR区域创建磁盘阵列，包括：针对创建得到的至少一个磁盘阵列，分别创建缓存区域，用于缓...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭习宇，王卫钢，郭庆，丁磊，
申请(专利权)人：曙光信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：