测试方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试方法、装置及电子设备，应用于外挂闪存型微控制器，该外挂闪存型微控制器内包括目标存储设备，该目标存储设备为随机存取存储器；该方法包括：检测该外挂闪存型微控制器是否外挂有外部闪存设备，得到检测结果；在检测结果表示该外挂闪存型微控制器外挂有外部闪存设备的情况下，对目标存储设备执行存储测试处理，得到目标测试结果；其中，存储测试处理用于对目标存储设备中的存储单元进行存储校验，目标测试结果用于表示目标存储设备中的存储单元是否存在异常；将目标测试结果存储至外部闪存设备。该方法可以在不增加额外成本的前提下，高效的实现对外挂闪存型微控制器的测试处理。制器的测试处理。制器的测试处理。

【技术实现步骤摘要】
测试方法、装置及电子设备


[0001]本专利技术涉及半导体领域，具体涉及一种测试方法、装置及电子设备、计算机可读介质。

技术介绍

[0002]在相关技术中，针对外挂闪存型微控制器，即，外挂Flash型MCU，也可以称为外挂Flash型芯片，在量产阶段对该类MCU进行测试处理时，例如，在进行存储器内建自测试(MBIST，Memory Build
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In
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Self Test)处理时，通常需要在芯片内设计额外的存储介质以实现对测试结果的存储。
[0003]相关技术中的上述针对外挂Flash型MCU的测试方法可能存在以下问题：1、需要在MCU内额外设计存储介质存储测试结果，存在一定的成本问题；另一方面，在CP(Chip Probe)测试阶段进行某些特定测试，例如MBIST测试通常会浪费大量的测试时间，存在效率低下的问题。

技术实现思路

[0004]为此，本专利技术提供一种测试方法，以在不增加额外成本的前提下，高效的实现对外挂闪存型微控制器的测试处理。
[0005]为了实现上述目的，本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，应用于外挂闪存型微控制器，所述外挂闪存型微控制器内包括目标存储设备，所述目标存储设备为随机存取存储器；所述方法包括：检测所述外挂闪存型微控制器是否外挂有外部闪存设备，得到检测结果；在所述检测结果表示所述外挂闪存型微控制器外挂有所述外部闪存设备的情况下，对所述目标存储设备执行存储测试处理，得到目标测试结果；其中，所述存储测试处理用于对所述目标存储设备中的存储单元进行存储校验，所述目标测试结果用于表示所述目标存储设备中的存储单元是否存在异常；将所述目标测试结果存储至所述外部闪存设备。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述目标存储设备执行存储测试处理，得到目标测试结果，包括：对所述目标存储设备执行存储器内建自测试MBIST处理，得到所述目标测试结果。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述外部闪存设备中设置有用于存储所述目标测试结果的目标存储区域；所述将所述目标测试结果存储至所述外部闪存设备，包括：将所述目标测试结果写入所述目标存储区域中。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述对所述目标存储设备执行存储测试处理的步骤之前，所述方法还包括：检测所述目标存储区域中是否存储有所述目标测试结果；在所述目标存储区域中未存储有所述目标测试结果的情况下，执行所述对所述目标存储设备执行存储测试处理的步骤。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将所述目标测试结果存储至所述外部闪存设备之后，所述方法还包括：基于所述目标测试结果，对所述目标存储设备执行存储地址重映射处理，其中，所述存储地址重映射处理用于对所...

【专利技术属性】
技术研发人员：方俊峰，刘运，刘伟，
申请(专利权)人：宏晶微电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：