质控管理系统及方法、样本分析系统技术方案

本发明专利技术提供一种质控管理系统及方法、样本分析系统，该质控管理系统包括：存储器，用于存储可执行的程序指令；一个或多个处理器，用于执行所述存储器中存储的所述程序指令，使得所述处理器执行以下步骤：当获取到预定测试项目的质控品的当前测试结果失控时，获取所述当前测试结果对应的当前校准测试数据以及至少一次历史校准测试数据；显示器，用于：显示所述当前校准测试数据和所述至少一次历史校准测试数据。通过本申请的系统可以辅助用户快速排查校准是否为导致失控的原因。校准是否为导致失控的原因。校准是否为导致失控的原因。

【技术实现步骤摘要】
质控管理系统及方法、样本分析系统


[0001]本专利技术总地涉及医疗设备
，更具体地涉及一种质控管理 系统及方法、样本分析系统。

技术介绍

[0002]用于对样本进行分析和测定的仪器，在进行病人样本测试之前， 均需要对病人的测试项目进行质控测试，目的是查看该仪器相应项目 的状态，如果质控测试的结果不正常，即失控，那么仪器当前的状态 就不能保证病人样本进行失控项目后得到的测试结果的准确性，这时 候需对仪器的失控项目进行失控处理，例如对失控项目再次测试以确 认是否失控，例如更换质控品，例如更换试剂等处理，直到失控项目 重新在控后，才能对病人样本进行测试，因为这时候仪器才能保证病 人样本的项目测试结果的准确性。
[0003]通常校准品厂家所给的校准范围比较宽泛，有时虽然校准通过 了，但是校准可能仍然存在问题，再就是在生化方面校准可以延期也 即校准品过期后依然可以使用，因此有时失控可能是由于校准引起 的，那么需要在排查失控原因时，需要排查是否为校准异常而导致的 失控，因此，如何辅助用户快速对是否为校准异常导致的质控失控进 行排查成为亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题中的至少一个而提出了本专利技术。具体地，本发 明第一方面提供一种质控管理系统，所述系统包括：
[0005]存储器，用于存储可执行的程序指令；
[0006]一个或多个处理器，用于执行所述存储器中存储的所述程序指 令，使得所述处理器执行以下步骤：
[0007]当获取到预定测试项目的质控品的当前测试结果失控时，获取所 述当前测试结果对应的当前校准测试数据以及至少一次历史校准测 试数据；
[0008]显示器，用于：显示所述当前校准测试数据和所述至少一次历史 校准测试数据。
[0009]本专利技术第二方面提供一种质控管理系统，所述系统包括：
[0010]存储器，用于存储可执行的程序指令；
[0011]一个或多个处理器，用于执行所述存储器中存储的所述程序指 令，使得所述处理器执行以下步骤：
[0012]当获取到质控品的当前测试结果失控时，获取所述当前测试结果 对应的当前校准测试数据以及至少一次历史校准测试数据；
[0013]对所述当前校准测试数据和各个所述历史校准测试数据中的对 应数据进行比较，判断所述当前校准测试数据是否异常，并输出判断 结果。
[0014]本专利技术第三方面提供一种质控管理方法，包括：当获取到质控品 的当前测试结果失控时，获取所述当前测试结果对应的当前校准测试 数据以及至少一次历史校准测试数
据；对所述当前校准测试数据和各 个所述历史校准测试数据中的对应数据进行比较，判断所述当前校准 测试数据是否异常，并输出判断结果；当判断所述当前校准测试数据 异常时，输出当前校准测试数据异常导致质控失控的提示信息；或者 当判断所述当前校准测试数据正常时，输出当前校准测试数据不会导 致质控失控的提示信息。
[0015]本专利技术第四方面提供一种样本分析系统，所述样本分析系统包 括：样本分析装置，包括：测定部件，用于检测样本获得样本检测结 果；样本部件，用于承载待测试的样本，吸取样本后提供给所述测定 部件；试剂部件，用于承载试剂，吸取试剂后提供给所述测定部件； 前述第一方面和第二方面的质控管理系统。
[0016]本申请的第一方面的质控管理系统，通过同时向用户呈现当前校 准测试数据和所述至少一次历史校准测试数据，以便用户能够快速对 比当前校准测试数据和历史校准测试数据是否存在差异，从而快速排 查当前校准是否异常，从而判断是否是校准导致的质控失控，进而提 高了用户对质控失控原因的排查效率。
[0017]本申请的第一方面的质控管理系统以及本申请第三方面的质控 管理方法，无需用户自己再对校准测试数据进行比较，通过对所述当 前校准测试数据和各个所述历史校准测试数据中的对应数据进行比 较，判断所述当前校准测试数据是否异常，并输出判断结果，从而快 速排查当前校准是否异常，从而判断是否是校准导致的质控失控，进 而提高了对质控失控原因的排查效率。
[0018]本申请的样本分析系统由于具有前述的质控管理系统，因此具有 和前述的质控管理系统相同的优点。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实 施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面 描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术 人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附 图获得其他的附图。
[0020]图1示出了本专利技术一个实施例中的质控管理系统的示意性框图；
[0021]图2示出了本专利技术一个实施例中的质控管理系统的显示界面的 示意图；
[0022]图3示出了本专利技术一个实施例中的质控管理系统的显示界面在Z 分图中显示校准数据的概览信息时的示意图；
[0023]图4示出了本专利技术一个实施例中的质控管理系统的同时显示当 前校准测试数据和历史校准测试数据时的示意图；
[0024]图5示出了本专利技术另一个实施例中的质控管理方法的示意性 流程图；
[0025]图6示出了本专利技术一个实施例中的样本分析系统的示意性框 图。
具体实施方式
[0026]为了使得本专利技术的目的、技术方案和优点更为明显，下面将参照 附图详细描述根据本专利技术的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅 是本专利技术的一部分实施例，而不是本专利技术的全部实施例，应理解，本 专利技术不受这里描述的示例实施例的限制。基于本专利技术中描述的本专利技术 实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动的情况下所得到的所 有其它
实施例都应落入本专利技术的保护范围之内。
[0027]在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本专利技术更为 彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本专利技术 可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避 免与本专利技术发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。
[0028]应当理解的是，本专利技术能够以不同形式实施，而不应当解释为局 限于这里提出的实施例。相反地，提供这些实施例将使公开彻底和完 全，并且将本专利技术的范围完全地传递给本领域技术人员。
[0029]在此使用的术语的目的仅在于描述具体实施例并且不作为本发 明的限制。在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也意图 包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应明白术语“组 成”和/或“包括”，当在该说明书中使用时，确定所述特征、整数、步 骤、操作、元件和/或部件的存在，但不排除一个或更多其它的特征、 整数、步骤、操作、元件、部件和/或组的存在或添加。在此使用时， 术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。
[0030]为了彻底理解本专利技术，将在下列的描述中提出详细的结构，以便 阐释本专利技术提出的技术方案。本专利技术的可选实施例详细描述如下，然 而除了这些详细描述外，本专利技术还可以具有其他实施方式。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种质控管理系统，其特征在于，所述系统包括：存储器，用于存储可执行的程序指令；一个或多个处理器，用于执行所述存储器中存储的所述程序指令，使得所述处理器执行以下步骤：当获取到预定测试项目的质控品的当前测试结果失控时，获取所述当前测试结果对应的当前校准测试数据以及至少一次历史校准测试数据；显示器，用于：显示所述当前校准测试数据和所述至少一次历史校准测试数据。2.一种质控管理系统，其特征在于，所述系统包括：存储器，用于存储可执行的程序指令；一个或多个处理器，用于执行所述存储器中存储的所述程序指令，使得所述处理器执行以下步骤：当获取到质控品的当前测试结果失控时，获取所述当前测试结果对应的当前校准测试数据以及至少一次历史校准测试数据；对所述当前校准测试数据和各个所述历史校准测试数据中的对应数据进行比较，判断所述当前校准测试数据是否异常，并输出判断结果。3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述处理器还用于执行：当判断所述当前校准测试数据异常时，并输出所述当前校准测试数据异常的判断结果。4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述处理器还用于执行：当判断所述当前校准测试数据异常时，输出当前校准测试数据异常导致质控失控的提示信息；或者当判断所述当前校准测试数据正常时，输出当前校准测试数据不会导致质控失控的提示信息。5.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述处理器执行对所述当前校准测试数据和各个所述历史校准测试数据中的对应数据进行比较，判断所述当前校准测试数据是否异常，包括：对比所述当前校准测试数据中的校准曲线和每次所述历史校准测试数据的校准曲线的拟合度，当所述拟合度符合预设条件时，判断所述当前校准测试数据正常，当所述拟合度不符合预设条件，判断所述当前校准测试数据异常。6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述对比所述当前校准测试数据中的校准曲线和每次所述历史校准测试数据的校准曲线的拟合度，包括：对比所述当前校准测试数据中的校准曲线和每次所述历史校准测试数据的校准曲线中的横坐标相同的至少两个点所对应的纵坐标值，以各个对应点的纵坐标值的差值表征所述拟合度。7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述预设条件包括第一预设阈值范围，当各个对应点的纵坐标值的差值介于各自对应的第一预设阈值范围内时，判断所述当前校准测试数据正常，各个对应点的纵坐标值的差值超过各自对应的第一预设阈值范围时，判断所述当前校准测试数据异常。8.如权利要求6或7所述的系统，其特征在于，所述横坐标相同的至少两个点包括横坐标最小点和最大点。
9.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述处理器用于执行对所述当前校准测试数据和各个所述历史校准测试数据中的对应数据进行比较，判断所述当前校准测试数据是否异常，包括：对所述当前校准测试数据中的校准数据和各个所述历史校准测试数据中的对应校准数据进行比较，判断所述当前校准测试数据是否异常。10.如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述处理器用于执行以下步骤：当当前校准测试数据和历史校准测试数据使用的校准品相同时，对所述当前校准测试数据和各个所述历史校准测试数据中的相同浓度对应的反应度进行比较，判断所述当前校准测试数据是否异常。11.如权利要求10所述的系统，其特征在于，当各个相同浓度对应的反应度的差值介于各自对应的第二预设阈值范围...

【专利技术属性】
技术研发人员：余渊，许自一，张肖宁，王亚妮，
申请(专利权)人：深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：