一种镜片切割轨迹线拟合方法技术

本发明专利技术提供一种镜片切割轨迹线拟合方法，该方法包括：S1、拟合镜片表面和保护膜表面在随机旋转角度下点光谱形成的扫描直线；S2、将镜片表面的扫描直线与保护膜表面的扫描直线相交于一点，求出两个扫描直线的交点，该交点即切割点；S3、将镜片和保护膜旋转，并使点光谱的摆动速度大于镜片和保护膜的旋转速度，循环跳转至步骤S1，即可求得大量不同的切割点，将该大量不同的切割点拟合成切割线，克服了保护膜不透光、镜片无法成像的问题，实现找到真实的切割轨迹线。的切割轨迹线。的切割轨迹线。

【技术实现步骤摘要】
一种镜片切割轨迹线拟合方法


[0001]本专利技术涉及镜片切割
，具体的，本专利技术涉及一种镜片切割轨迹线拟合方法。

技术介绍

[0002]在对镜片进行切割时，需要先找到镜片的切割线，在采用传统的线光谱或打背光的方法时，因为镜片表面的保护膜不透光，镜片轮廓无法成像，导致无法找到切割轨迹线。而使用线光谱和点光谱照射侧面的方法，会受到入射角度27
°
的限制，导致无法照射到切割线，即无法找到切割轨迹线。
[0003]因此需要一种新的镜片切割轨迹线拟合方法。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术提供了一种镜片切割轨迹线拟合方法，以解决上述的技术问题。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方法是：一种镜片切割轨迹线拟合方法，其改进之处在于：包括两个点光谱、第一夹具、摆动电机、第二夹具和五轴运动平台，
[0006]两个点光谱均安装于第一夹具上，第一夹具安装于摆动电机上，使两个点光谱按照设定的摆动频率摆动，两个点光谱的运动轨迹完全相同，其中一个点光谱照射镜片表本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种镜片切割轨迹线拟合方法，其特征在于：包括两个点光谱、第一夹具、摆动电机、第二夹具和五轴运动平台，两个点光谱均安装于第一夹具上，第一夹具安装于摆动电机上，使两个点光谱按照设定的摆动频率摆动，两个点光谱的运动轨迹完全相同，其中一个点光谱照射镜片表面，另一个点光谱照射保护膜表面；镜片安装于第二夹具上，用于保持镜片以及镜片上的保护膜的水平度；第二夹具安装于五轴运动平台上，用于使镜片以及镜片上的保护膜水平移动，以调整镜片和保护膜与相应的点光谱之间的距离，并且使镜片以及镜片上的保护膜按照一定的速度转动；所述的镜片切割轨迹线拟合方法包括以下的步骤：S1、拟合镜片表面和保护膜表面在随机旋转角度下点光谱形成的扫描直线；S2、将镜片表面的扫描直线与保护膜表面的扫描直线相交于一点，求出两个扫描直线的交点，将该交点标记为切割点；S3、将镜片和保护膜旋转，并使点光谱的摆动速度大于镜片和保护膜的旋转速度，循环跳转至步骤S1，以求得大量不同的切割点，将所述的大量不同的切割点拟合成切割线。2.如权利要求1所述的一种镜片切割轨迹线拟合方法，其特征在于：所述的步骤S1，包括以下的步骤：S11、将点光谱沿摆动电机的摆动中心做高频摆动，将镜片和保护膜以随机的角速度进行旋转，使镜片和保护膜相对静止，以扫描镜片和保护膜上的一段区域；S12、将点光谱检测系统的输出时间定义为t1，将相应于镜片的点光谱反射点到镜片表面的距离定义为d2，将相应于保护膜的点光谱反射点到保护膜表面的距离定义为d1，生成相应于镜片的点光谱的数据格式为(t1，d2)，相应于保护膜的点光谱的数据格式为(t1，d1)；同时，将摆动电机检测系统输出时间定义为t2，以及将相应于镜片的点光谱的摆动角度定义为α2，将相应于保护膜的点光谱的摆动角度定义为α1；S13、将点光谱的作用直线等效为摆动电机摆动中心到物体表面的直线，将摆动电机摆动中心到镜片表面的长定义为d22，摆动电机摆动中心到保护膜表面的距离定义为d11，根据三角形余弦定理分别计算d11和d22，将摆动电机...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭天恒，钟剑朋，谢航伟，
申请(专利权)人：海目星激光科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：