自动光学检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光学检测技术领域，具体公开了自动光学检测装置。该装置包括检测台、拍摄结构、推料模块和中转搬运模块；检测台用于将框架在检测位置与承载位置之间移动；拍摄结构用于拍摄位于检测位置的框架；推料模块连接有能在上料位置与下料位置之间切换的承载台，承载台处于下料位置时，推料模块能将置于承载台上第一承载槽内的框架搬运至承载位置处；中转搬运模块能选择性地搬运框架，完成检测的框架处于承载位置时，中转搬运模块拿取完成检测的框架，待到承载台处于上料位置时，中转搬运模块将完成检测的框架放置于承载台上第二承载槽内。该装置借助中转搬运模块的设置，避免了承载台等待检测台到位情况，加快了检测效率，提高了检测效率。高了检测效率。高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
自动光学检测装置


[0001]本专利技术涉及光学检测
，尤其涉及自动光学检测装置。

技术介绍

[0002]AOI(Automatic Optical Inspection，自动光学检测)是液晶及微电子等行业广泛使用的测量手段，而其中AOI设备是液晶及微电子等行业广泛使用的检测设备；AOI设备可用于检测基板的表面的图型是否符合规定、是否存在由破坏性物质(破坏性异物是指嵌入在基板内部，且对基板造成实质破坏的物质)造成的坏点以及判定破坏性物质等造成的坏点的准确位置，如直接采用AOI设备对基板拍照得到较为清晰的图像，并通过对该图像的分析来对基板是否存在坏点进行检测。
[0003]芯片在封装前需要对芯片固装的框架进行检测，需要利用AOI设备的光学相机对框架的上下表面进行扫描拍摄，获得框架照片并对其进行检测分析，将合格品、废品和复检品自动进行分拣。
[0004]现有技术中，对完成检测的框架进行下料时，需要等待检测台和下料轨道均到位后，才能使退料气缸带动框架从检测台进入下料轨道，这致使下料的流程复杂且存在较长的等待时间，进而延长了整个框本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.自动光学检测装置，用于检测框架，其特征在于，包括：检测台(200)，用于将所述框架在检测位置与承载位置之间移动；拍摄结构，用于拍摄位于所述检测位置的所述框架；推料模块(100)，连接有能在上料位置与下料位置之间切换的承载台，所述承载台设有第一承载槽和第二承载槽，当所述承载台处于所述下料位置时，所述第一承载槽正对所述承载位置，所述推料模块(100)能将置于所述第一承载槽内的所述框架推至所述承载位置处；中转搬运模块，能选择性地搬运所述框架，当完成检测的所述框架处于所述承载位置时，所述中转搬运模块拿取完成检测的所述框架，待到所述承载台处于所述上料位置时，所述中转搬运模块将完成检测的所述框架放置于所述第二承载槽内。2.根据权利要求1所述的自动光学检测装置，其特征在于，所述中转搬运模块包括中转爪(600)和中转滑轨(610)，所述中转爪(600)滑设于所述中转滑轨(610)，所述中转爪(600)能选择性地夹持所述框架。3.根据权利要求1所述的自动光学检测装置，其特征在于，所述自动光学检测装置还包括第一搬运单元和上料单元(710)，当所述承载台处于所述上料位置时，所述第一搬运单元能够将所述框架从所述上料单元(710)拿取至所述第一承载槽。4.根据权利要求3所述的自动光学检测装置，其特征在于，所述第一搬运单元包括上料爪(300)和上料滑轨(310)，所述上料爪(300)滑设于所述上料滑轨(310)，所述上料爪(300)能选择性地夹持所述框架。5.根据权利要求1所述的自动光学检测装置，其特征在于，所述自动光学检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：马强，王敕，
申请(专利权)人：苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：