基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统技术方案

本发明专利技术公开了基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统，包括数据采集模块、分析模块、研磨设备综合分析模块、摄录模块；数据采集模块，用于采集微蜡粉加工信息和研磨设备生产效率信息，根据采集的微蜡粉信息和研磨设备生产效率信息生成评估系数，并将评估系数传递至分析模块。本发明专利技术通过摄录模块精确确定温度过高区域所在的位置，可对温度过高区域所在的位置进行精确排查，发现温度过高区域是否存在被磨损的现象，若温度过高区域存在被磨损的现象，可及时精确地发现，有效地防止后续会出现大批量研磨不合格的微蜡粉，有效地提高微蜡粉的生产效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统


[0001]本专利技术涉及微蜡粉制备
，具体涉及基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统。

技术介绍

[0002]微蜡粉是一种常用于化妆品和个人护理产品中的化学物质，也被称为微晶蜡、硬脂酸醋，或者微晶蜡酷。它通常用作增稠剂、乳化剂、润滑剂和柔软剂。微蜡粉的化学结构类似于天然蜡，但是经过改良处理，使其具有更好的物理和化学性质，如更高的熔点和更好的稳定性。它可以用于各种化妆品和个人护理产品中，如唇膏、眼影、润肤乳、发蜡和口红等。虽然微蜡粉通常被认为是安全的化学品，但使用时还是需要注意其用量和配合其他成分的使用情况，以确保产品的质量和安全。
[0003]微蜡粉经过加工后，其颗粒的大小不均匀，粒径分布范围较大，一般需要经过研磨操作。通过研磨，可以使微蜡粉的颗粒更加均匀、更加细小，提高细度，避免不同批次的微蜡粉在使用时产生差异；
[0004]现有技术存在以下不足：微蜡粉在研磨过程中，现有技术大多没有对微蜡粉研磨设备(包括磨头与磨料)进行监测，当研磨设备发生局部磨损较严重时，无法及时发现，以至于后续会出现大批量研磨不合格的微蜡粉，将会大大降低微蜡粉的生产效率。
[0005]在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的是提供基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统，以解决上述
技术介绍
中的问题。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统，包括数据采集模块、分析模块、研磨设备综合分析模块、摄录模块；
[0008]数据采集模块，用于采集微蜡粉加工信息和研磨设备生产效率信息，根据采集的微蜡粉信息和研磨设备生产效率信息生成评估系数，并将评估系数传递至分析模块；
[0009]分析模块，根据评估系数分析微蜡粉的生产是否受到影响，若微蜡粉的生产受到影响，将影响信息传递研磨设备综合分析模块；
[0010]研磨设备综合分析模块，根据研磨设备对微蜡粉的影响信息对研磨设备进行分析，分析出研磨设备是否出现局部温度过高的情况，若出现局部温度过高的情况，将温度过高的信息与温度过高区域所在的位置信息传递至摄录模块；
[0011]摄录模块，对研磨设备进行摄录成像，根据研磨设备综合分析模块提供的研磨设备分析区域温度过高的信息与温度过高区域所在的位置信息精确确定分析区域在研磨设备上的位置。
[0012]优选的，微蜡粉加工信息包括微蜡粉的异常形态系数、微蜡粉的纯度，数据采集模
块采集到微蜡粉的异常形态系数、微蜡粉的纯度，以及研磨设备生产效率后，将微蜡粉的异常形态系数、微蜡粉的纯度，以及研磨设备生产效率分别标定为YCXj、CDXj，以及SCXj，将微蜡粉的异常形态系数YCXj、微蜡粉的纯度CDXj、研磨设备生产效率SCXj进行公式化处理，生成评估系数PGm，依据的公式为：式中，f1、f2、f3分别为微蜡粉的异常形态系数、微蜡粉的纯度，以及研磨设备生产效率的预设比例系数，且f1、f2、f3均大于0。
[0013]优选的，分析模块对评估系数PGm设置标准阈值YZa，当分析模块接收到评估系数PGm后，将评估系数PGm与标准阈值YZa进行比对，若评估系数PGm大于等于标准阈值YZa，表明微蜡粉生产的质量高效，进而表明微蜡粉的生产未受到影响，分析模块将微蜡粉的生产未受到影响的信息传递至数据采集模块，通过数据采集模块继续采集下一料量的微蜡粉生产信息，若评估系数PGm小于标准阈值YZa，表明微蜡粉生产的质量低效，进而表明微蜡粉的生产受到影响，分析模块将微蜡粉的生产受到影响的信息传递至研磨设备综合分析模块。
[0014]优选的，研磨设备综合分析模块接收到微蜡粉的生产受到影响的信息后，通过研磨设备综合分析模块对研磨设备研磨表面的信息进行采集，采集的具体方式如下：
[0015]将研磨设备研磨区域的表面划分为n个区域，n为1、2、3、4、
……
、n，获取研磨设备研磨区域表面n个区域的温度；
[0016]获取研磨设备的累计运行时间，根据累计运行时间t，获取分析区域的温度上浮值Ti，选取的区域数量为v、则i为1、2、3、4、
……
、v，获取后，根据分析区域的温度上浮值Ti求出分析区域温度的上浮的平均值Tp，则根据分析区域的温度上浮值的平均值和分析区域的温度上浮值求出分析区域温度的上浮值的离散程度Xi，则
[0017]优选的，获取研磨设备的累计运行时间t、t时间内分析区域内温度上浮的平均值Tp，以及t时间内分析区域内温度上浮的离散程度值Xi后，进行公式化处理，生成影响系数YXo，依据的公式为：式中，g1、g2、g3分别为研磨设备的累计运行时间研磨设备的累计运行时间、t时间内分析区域内温度上浮的平均值，以及t时间内分析区域内温度上浮的离散程度值的预设比例系数，且g1、g2、g3均大于0。
[0018]优选的，研磨设备综合分析模块分析出研磨设备表面的影响系数YXo后，将研磨设备表面的影响系数YXo与标准阈值YZb进行比对，若是研磨设备表面的影响系数YXo大于标准阈值YZb，表明分析区域内普遍存在温度升高的现象，表明分析区域可能存在被磨损的情况，则研磨设备综合分析模块将分析区域温度过高的信息与温度过高区域所在的位置信息传递至摄录模块，若是研磨设备表面的影响系数YXo小于等于标准阈值YZb，表明分析区域不存在被磨损的情况。
[0019]优选的，摄录模块接收到分析区域温度过高的信息与温度过高区域所在的位置信息后，对研磨设备进行摄录，根据研磨设备综合分析模块分析的信息，通过摄录模块精确确
定温度过高区域所在的位置，并在温度过高区域所在的位置进行标记。
[0020]在上述技术方案中，本专利技术提供的技术效果和优点：
[0021]本专利技术通过先对微蜡粉的质量进行评估，生成评估系数，若评估系数小于标准阈值，表明微蜡粉生产的质量低效，进而表明微蜡粉的生产受到影响，此时通过研磨设备综合分析模块对研磨设备研磨表面运行的温度信息进行采集，生成影响系数，若是研磨设备表面的影响系数大于标准阈值，表明分析区域内普遍存在温度升高的现象，表明分析区域可能存在被磨损的情况，根据研磨设备综合分析模块分析的信息，通过摄录模块精确确定温度过高区域所在的位置，可对温度过高区域所在的位置进行精确排查，发现温度过高区域是否存在被磨损的现象，若温度过高区域存在被磨损的现象，可及时发现，并且精确地找出局部磨损的位置，有效地防止后续会出现大批量研磨不合格的微蜡粉，有效地提高微蜡粉的生产效率。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1为本专利技术基于数据分析本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统，其特征在于，包括数据采集模块、分析模块、研磨设备综合分析模块、摄录模块；数据采集模块，用于采集微蜡粉加工信息和研磨设备生产效率信息，根据采集的微蜡粉信息和研磨设备生产效率信息生成评估系数，并将评估系数传递至分析模块；分析模块，根据评估系数分析微蜡粉的生产是否受到影响，若微蜡粉的生产受到影响，将影响信息传递研磨设备综合分析模块；研磨设备综合分析模块，根据研磨设备对微蜡粉的影响信息对研磨设备进行分析，分析出研磨设备是否出现局部温度过高的情况，若出现局部温度过高的情况，将温度过高的信息与温度过高区域所在的位置信息传递至摄录模块；摄录模块，对研磨设备进行摄录成像，根据研磨设备综合分析模块提供的研磨设备分析区域温度过高的信息与温度过高区域所在的位置信息精确确定分析区域在研磨设备上的位置。2.根据权利要求1所述的基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统，其特征在于，微蜡粉加工信息包括微蜡粉的异常形态系数、微蜡粉的纯度，数据采集模块采集到微蜡粉的异常形态系数、微蜡粉的纯度，以及研磨设备生产效率后，将微蜡粉的异常形态系数、微蜡粉的纯度，以及研磨设备生产效率分别标定为YCXj、CDXj，以及SCXj，将微蜡粉的异常形态系数YCXj、微蜡粉的纯度CDXj、研磨设备生产效率SCXj进行公式化处理，生成评估系数PGm，依据的公式为：式中，f1、f2、f3分别为微蜡粉的异常形态系数、微蜡粉的纯度，以及研磨设备生产效率的预设比例系数，且f1、f2、f3均大于0。3.根据权利要求2所述的基于数据分析的微蜡粉制备用监控系统，其特征在于，分析模块对评估系数PGm设置标准阈值YZa，当分析模块接收到评估系数PGm后，将评估系数PGm与标准阈值YZa进行比对，若评估系数PGm大于等于标准阈值YZa，表明微蜡粉的生产未受到影响，分析模块将微蜡粉的生产未受到影响的信息传递至数据采集模块，通过数据采集模块继续采集下一料量的微蜡粉生产信息，若评估系数PGm小于标准阈值YZa，表明微蜡粉的生产受到影响，分析模块将微蜡粉的生产受到影响的信息传递至研磨设备综合分析模块。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：万志平，
申请(专利权)人：深圳市东方盛业化工有限公司，
类型：发明
国别省市：